Espectrómetro de absorción de rayos X de escritorio

El espectrómetro de absorción de rayos X de escritorio es un instrumento de análisis de escritorio que utiliza una fuente de rayos X de laboratorio convencional (en lugar de radiación sincrotrón) para completar la medición de la estructura fina de absorción de rayos X en un laboratorio ordinario. Su objetivo es lograr una caracterización rápida y conveniente de la estructura atómica local del material en condiciones de fuentes de radiación no sincrotrón.

El espectrómetro de absorción de rayos X de escritorio, como tecnología de análisis no destructiva, tiene las características de alta precisión y alta sensibilidad, y ha sido ampliamente utilizado en Ciencias de materiales, química, biología y otros campos en los últimos años.

Su principio central es utilizar la interacción entre los rayos X y la materia para revelar la estructura interna y las propiedades de la materia. Cuando los rayos X pasan por la materia, interactúan con átomos o moléculas en la materia, produciendo absorción, dispersión y otros fenómenos. El espectrómetro de absorción de rayos X de escritorio puede obtener información sobre el tipo, el contenido y el estado químico de los elementos en la materia midiendo con precisión la absorción de rayos X bajo diferentes energías.

El espectrómetro de absorción de rayos X de escritorio utiliza fuentes de luz de rayos X convencionales para realizar la medición espectral de la estructura fina de absorción de rayos X (xafs), que tiene un buen papel complementario y de expansión en las principales infraestructuras científicas y tecnológicas, como la radiación sincrotrón, así como en instrumentos científicos como el microscopio electrónico y el difractómetro de rayos X.

　　Sistemas de escritorio miniaturizados, fáciles de usar:

· soporte para la función de barrido rápido cercano;

· soporte para funciones extendidas como pruebas in situ;

· diseño altamente ergonómico, operación más conveniente;

· preestablecimiento de parámetros experimentales incorporados para lograr una medición rápida;

· diferentes muestras y diferentes modos de medición cambian automáticamente con un solo clic;

· transmisión remota de datos, visualización en tiempo real de procesos y resultados experimentales para apoyar pruebas no tripuladas;

· soporte técnico de aplicación profesional y soporte de análisis de datos;

· El instrumento tiene la calificación de exención de radiación y múltiples entrelazados de protección de Seguridad para garantizar la seguridad personal y de uso.

　　Cristal Curvo especial xafs:

· las diferentes superficies de cristal están bien configuradas para lograr la cobertura de varios elementos;

· instalación precontaminada, Plug and play;

· los cristales de flexión especiales se pueden personalizar de acuerdo con los elementos necesarios para lograr el mejor rendimiento.

　　Mecanismo de escaneo de energía del espectro de absorción de rayos X del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (xafs):

· mecanismo de escaneo vinculado;

· lograr una vinculación precisa entre la fuente de luz, el cristal curvo, la muestra y el detector;

· alta precisión y resolución, buena estabilidad.