Difractómetro de rayos X bidimensionales de escritorio

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Descripción general

El difractómetro al - y500 es el último difractor de rayos X bidimensionales de escritorio lanzado por el Grupo oolong, que utiliza una fotografía fija del detector, que es diferente del difractor de escaneo tradicional, el detector de semiconductores de conteo de fotones de formación de superficie de rayos x, con modos compatibles de punto, línea y superficie 0d, 1D y 2d; $r $n se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de la fase física de las muestras policristalinas, incluyendo el análisis cuantitativo de muestras sin estándar, la determinación de la cristalinidad, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura de materiales, la determinación del tamaño cristalino, el refinamiento estructural, el análisis de microzonas, el análisis de estrés de películas y texturas, etc.

Detalles del producto

I. características del instrumento:

● La fotografía fija del detector, que es diferente del difractómetro de escaneo tradicional, el modo fotográfico es eficiente y rápido, aproximadamente 5 - 30 veces más rápido que el modo de escaneo, adecuado para el análisis in situ, y la información de difracción de cada ángulo se recopila al mismo tiempo; Alta resolución energética, reduciendo efectivamente el Fondo fluorescente.

● Los medidores de ángulo Theta s y Theta d brazo recogen servomotores + tecnología de control de codificación óptica, el detector puede moverse en dos posiciones a lo largo del eje 2theta, la rotación del medidor de ángulo es más estable, la medición del ángulo de difracción es más precisa y la lineal es mejor. La muestra gira a lo largo del eje theta, con una precisión de control de 0,01 ° y una precisión de ángulo del eje Theta de 2 ± 0,02 °.

● configurar varias unidades detectores para formar componentes detectores, distribuidos uniformemente y fijos a lo largo del círculo de difracción, cubriendo sin problemas todo el ángulo; Detector de matriz facial de 21 piezas de doble capa (o 10 piezas de una sola capa), cubriendo un rango de 2theta: - 3 ° a 150 °, imágenes 2d, mientras se recopila información sobre el ángulo gamma, datos de difracción bidimensionales, información más Rica.

● detector de semiconductores de conteo de fotones de formación de superficie de rayos x, altamente sensible, puede lograr conteo de fotones únicos, gran rango dinámico, doble umbral; Las fuentes de luz de punto y línea se intercambian, de byshearer y la geometría óptica bb son compatibles, las muestras planas y cilíndricas son compatibles, y los detectores son compatibles en modo 2d, 1D y od. Además, es resistente a la radiación fuerte durante mucho tiempo y tiene una larga vida útil.

● El dispositivo de protección contra rayos dispersos es más seguro y confiable, y la puerta de protección contra rayos está automáticamente prohibida de abrir durante la medición de la muestra, lo que puede evitar que el operador esté expuesto a la radiación de la línea de dispersión en cualquier caso.

● Las dimensiones compactas se pueden instalar en la plataforma experimental sin necesidad de un entorno de laboratorio específico. El uso, la operación y el mantenimiento son simples.

II. principales indicadores técnicos de cada parte del equipo

台式二维 X 射线衍射仪

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