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Medidor integral de propiedades ferroeléctricas de película delgada

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Descripción general
El probador integral de propiedades ferroeléctricas de película delgada FETs - 2000b tiene funciones de prueba de bucle de histéresis dinámica (dhm), características I - v, pulso (pund), bucle de histéresis estática (shm), fatiga (fm), corriente de fuga (lm), sesgo de corriente, fuerza de retención (rm), impresión (im). Se puede aplicar ampliamente a la investigación en diversos campos, como películas ferroeléctricas / piezoeléctricas / piroeléctricas, películas gruesas, materiales a granel y cerámica electrónica, sensores / ejecutores / memorias ferroeléctricas.
Detalles del producto

FETS-2000bMedidor integral de propiedades ferroeléctricas de película delgadaFunción de prueba con bucle de estancamiento eléctrico dinámico (dhm), características I - v, pulso (pund), bucle de estancamiento eléctrico estático (shm), fatiga (fm), corriente de fuga (lm), sesgo de corriente, fuerza de retención (rm), impresión (im). Se puede aplicar ampliamente a la investigación en diversos campos, como películas ferroeléctricas / piezoeléctricas / piroeléctricas, películas gruesas, materiales a granel y cerámica electrónica, sensores / ejecutores / memorias ferroeléctricas.

薄膜铁电性能综合测试仪


FETS-2000bMedidor integral de propiedades ferroeléctricas de película delgadaCon el uso de la Mesa de sonda, se puede realizar la prueba de las propiedades ferroeléctricas de la película delgada. La frecuencia de prueba de la línea de estancamiento eléctrico dinámico y la fuente de alimentación de prueba de excitación, los usuarios pueden elegir según sea necesario, el rango de frecuencia de prueba de la línea de estancamiento eléctrico dinámico es opcional de 1 MHz a 500 khz, la excitaciónpruebaLa fuente de alimentación ± 10 / 30 / 100 / 200 / 500vac es opcional o se puede personalizar de acuerdo con las necesidades del usuario.


Este sistema de prueba está compuesto por el controlador principal, la Mesa de sonda, la computadora y el software del sistema. El controlador principal está integrado en el interiorFuente de alimentación de prueba de excitación, integrador de carga, amplificador programable, convertidor analógico - digital, bus de comunicación y otras funciones, el software del sistema incluye funciones de adquisición y gestión de datos visuales, cuando se prueba, no es necesario cambiar la conexión de la muestra de prueba, se pueden realizar pruebas de rendimiento como histéresis, pulso, fuga de energía y IV.


La prueba de rendimiento ferroeléctrico de este sistema de prueba adopta el método mejorado.Torre SawyerEl método de medición, en comparación con el modo tradicional Sawyer - tower, este circuito elimina los condensadores externos y puede reducir el impacto de los elementos parasitarios. La precisión de prueba de este circuito solo depende de la precisión del capacitor integral del integrador, lo que reduce el enlace de influencia en la prueba, es fácil de calibrar y calibrar, y puede lograr una alta precisión de medición.


Este sistema proporciona una interfaz externa de amplificador de alta tensión, que se puede ampliar directamente para los usuarios que necesitan hacer pruebas de alta tensión y pruebas de corriente de fuga de alta tensión.

Los usuarios deben proporcionar al fabricante la frecuencia de prueba, el voltaje de prueba de excitación y otros requisitos para elegir este dispositivo.

Función de prueba:

  • Bucle de estancamiento eléctrico dinámico (dhm)

  • Características I - V

  • Pulso (pund)

  • Bucle de estancamiento eléctrico estático (shm)

  • Fatiga (fm)

  • Corriente de fuga (lm)

  • Corriente - sesgo

  • Fuerza de retención (rm)

  • Huella (im)

Componentes escalables:

  • Mesa de sonda