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- Cámara de alta velocidad
- Microscopio digital
- Soluciones de detección para la industria de semiconductores
- Plataforma inteligente de interconexión de datos
- Plataforma de análisis inteligente de imágenes
- Equipo de medición de morfología tridimensional
- Sistema de microautomatización
- Sistema de análisis de elementos de partículas
- Software de análisis de imágenes
- Microscopio infrarrojo de bloqueo de fase
Shanghai xinu Optics Technology co., Ltd.
Sistema de análisis de elementos de partículas cis - libs
NegociableActualización en12/20
- modelo
- Naturaleza del fabricante
- Productores
- Categoría de producto
- Lugar de origen
Descripción general
El sistema de análisis de elementos de partículas cis - libs requiere el apoyo de varios equipos: la observación amplificada por sí sola no identifica la composición, requiere el uso de varios equipos o el encargo de análisis externos.
Detalles del producto
Sistema de análisis de elementos de partículas cis - libs: análisis rápido, preciso y con un solo clic
Se necesitan varios equipos para apoyar:
La observación amplificada por sí sola no identifica la composición
Se necesitan varios dispositivos o se encargan análisis externos
Se requiere pretratamiento:
Hay restricciones de tamaño para entrar en el equipo de análisis y es necesario destruir o cortar el objeto objetivo.
Es necesario realizar el tratamiento de conductividad eléctrica en la superficie del objeto objetivo y el tratamiento de vacío en el interior del equipo de análisis.
Altos requisitos de alfabetización para los experimentadores:
Debido a la alta profesionalidad de los equipos de análisis, solo unos pocos pueden operar
Solo con experiencia se puede juzgar la sustancia en función de los elementos detectados
Solo se necesita una para completarlo.
Solo se necesita una unidad para realizar rápidamente la operación en el acto, desde la observación ampliada hasta la identificación de elementos, las personas que deben realizar la identificación de elementos pueden realizar la operación en el acto.
No se necesita pretratamiento
No hay límite en el tamaño del objeto objetivo y se puede analizar directamente sin daños.
Análisis en el aire, sin tratamiento de conductividad eléctrica ni tratamiento al vacío
Fácil identificación de elementos
Al mismo tiempo que se utiliza la observación del microsistema, se puede hacer un clic para distinguir los elementos. según la base de datos interna, se especula instantáneamente para detectar sustancias.
Sistema de análisis de elementos de partículas cis - libsEspecificaciones y parámetros
modelo |
CIS-LIBS |
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Módulo óptico libs |
Principio de detección |
Espectrometría de ruptura inducida por láser |
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Naturaleza de la detección |
Cualitativo y semicuantitativo |
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Capacidad de detección |
Nivel (dependiendo de los elementos) |
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Requisitos ambientales de detección |
No, el análisis se realiza en condiciones atmosféricas (no, a temperatura ambiente y presión atmosférica) |
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Elementos correspondientes |
CU y A |
Sus, Fe y L |
C, Cr, Mg y Mn |
El T |
Elementos comunes como y, ZN y au |
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Láser |
Tipo láser |
Nd: YAG (bombeo de semiconductores) |
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Longitud de onda láser |
355 nm |
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Energía de pulso único |
<100UJ |
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Ancho de pulso |
≤1 . 5ns |
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Especificaciones del punto |
15um (tipo) |
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Profundidad de la ablación |
1 - 10 um (dependiendo del material |
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Espectrómetro |
Rango espectral |
200 a 780 nm |
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Resolución espectral |
0 . 15 nm |
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Relación señal - ruido |
500 |
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Detector |
Detector CMOS |
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Lente láser |
Tipo de lente |
Lente de transmisión de especificaciones exclusivas |
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Múltiplo de lente |
7X |
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Distancia de trabajo |
18 mm |
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Módulo óptico de escaneo |
Eje óptico de incidencia |
Método de Observación de la diferencia de fase |
Olimpo bx53m, iluminación de campo brillante BF |
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Objetivo |
5X, 10X, 20X, 50X |
Opcional |
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iluminación |
LED digital de alta potencia, software controlable, con modo de memoria |
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Sistema de polarización |
Cambio digital automático entre polarización 00 y polarización 90o, con modo de memoria |
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Imágenes digitales |
Modelo de cámara |
DFK33UX249 |
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Resolución de la Cámara |
1920x1200 (2.3mp) |
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Superficie objetivo de la Cámara |
2 pulgadas |
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Velocidad de fotogramas |
48FPS |
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Escaneo de la Plataforma de carga |
Dirección de la Plataforma de carga |
Tres ejes de XYZ |
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Alcance del viaje |
Eje XY 125 x 75 mm, eje Z 35 mm |
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resolución |
0. 1um (control de software) |
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Precisión |
< 5 μm |
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modo de control |
Control automático de software + control de Subdivisión de barras remotas |
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generar informe |
Método de generación |
Generación automática |
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Contenido del informe |
Informe profesional sobre materiales de una sola partícula |
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Informe profesional sobre materiales de partículas completas | ||||||||||||
computadora |
Procesador 15, memoria 16g, disco duro 1tb, pantalla 22 pulgadas |
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Fuente de alimentación del equipo |
Modo de suministro de energía |
CA 220V50Hz |
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Período de garantía |
Toda la máquina durante 12 meses |
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Resistencia al medio ambiente |
Temperatura ambiente de uso |
+ 10 a 45 |
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Uso de humedad ambiental |
. Al 85% RH (sin condensación) |
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peso |
sistema |
Unos 50 kg |
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Tamaño exterior |
490 mm de ancho x 600 mm de altura x 840 mm de profundidad |
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