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Dirección
Habitación 801, edificio e, 7001 zhongchun road, Distrito de minhang, Shanghai
Categorías de producto
Shanghai erdi Instrument Technology co., Ltd.
Bruker D8 avance difractómetro de rayos X
NegociableActualización en05/07
- modelo
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- Productores
- Categoría de producto
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Descripción general
El D8 advance, basado en la Plataforma de la serie de difractores d8, es una opción ideal para todas las aplicaciones de dispersión y dispersión de polvo de rayos x, como: $r $n $r $n típico de dispersión de polvo de rayos X (xrd) dólaresr $n $r $n análisis de funciones de distribución (pdf) dólaresr $n dispersión de rayos X de ángulo pequeño (saxs) y dispersión de rayos X de ángulo amplio (waxs) dólaresr $n $r $n $n $n debido a su excelente adaptabilidad, solo con el D8 Advance puede medir todo tipo de muestras: de polvo, líquido, líquido, etc.de la película a los bloques sólidos. $r $n $r $n tanto los usuarios novatos como los expertos pueden hacer una configuración más simple, rápida y sin errores.
Detalles del producto
Bruker D8 avance difractómetro de rayos X
Especificaciones D8 advance:
función |
Especificaciones |
Ventaja |
Camino de luz Trio y camino de luz Twin |
Cambio de botón de software: Ranura de divergencia impulsada por motor (geometría bb) Haz paralelo ka1,2 de alta intensidad Haz paralelo ka1 de alta resolución |
Se puede realizar un cambio eléctrico totalmente automatizado entre hasta seis geometrías de haz diferentes sin intervención manual Ideal para todo tipo de análisis de muestras, incluyendo polvo, materiales a granel, fibras, láminas y películas (amorfas, policristalinas y epitaxias) |
Optimización dinámica del haz |
Sincronización dinámica: Ranura de divergencia impulsada por motor Pantalla antiscatter impulsada por motor Ventana del detector variable Rango de ángulo de 2 ° c: menos de 1 grado a > más de 150 grados |
Los datos apenas se ven afectados por la dispersión del aire, los instrumentos y el portamuestras El límite inferior de detección se mejora considerablemente y se pueden analizar cuantitativamente pequeñas cantidades de fases cristalinas y amorfas. En un ángulo más pequeño de 2theta, se pueden realizar estudios precisos de arcilla, medicamentos, zeolitas, materiales porosos y otros materiales. |
LYNXEYE XE-T |
Resolución energética: '380 EV @ 8 keV Modo de detección: 0d, 1d, 2d Longitud de onda: cr, co, cu, mo y AG
|
No se necesitan filtros kß y monocromadores secundarios La radiación de cobre puede filtrar la fluorescencia de hierro al 100% 450 veces más rápido que los sistemas de detectores tradicionales Modo Bragg 2d: recopilación de datos 2d con arneses primarios divergentes Garantía del detector: no hay nada malo en la entrega |
EIGER2 R |
La nueva generación de detectores basados en tecnología híbrida de conteo de fotones desarrollada por dectris admite múltiples modos (0d / 1D / 2d) |
Integración perfecta de las pruebas 0d, 1D y 2d en modo de escaneo paso a paso, escaneo continuo y escaneo avanzado Función de rotación del detector sin alineación ergonómico que optimiza el rango de ángulo gamma o 2 Sistema óptico de haz difractivo panorámico sin herramientas con campo de visión completo del detector Posición del detector variable continua para equilibrar el rango de ángulo y la resolución |
Tubo de luz giratorio |
Cambio sin alineación fácil y rápido entre aplicaciones de manchas focales en línea y manchas focales puntuales |
No es necesario desconectar el cable o la tubería de agua, no es necesario desmontar la tubería Diseño davinci: detección totalmente automática y configuración de la dirección de enfoque |
Muestreador automático |
Flipstick: 9 muestras Autochanger: 90 muestras |
Funciona en geometría de reflexión y transmisión |
Medidor de ángulo D8 |
Medidores de ángulo de doble círculo con motores de paso independientes y codificadores ópticos |
Brooke colimada garantiza precisión y precisión Mecanismo de accionamiento / dispositivo de engranajes sin mantenimiento, lubricado de por vida |
Condiciones no ambientales |
Temperatura: de ~ - 85k a ~ - 2500k Presión: 10 - mbar a 100 bar Humedad: 5% a 95% |
Investigación en condiciones ambientales y no ambientales El diseño diffrac le ayuda a cambiar fácilmente el Banco de muestras |
El ad8 advance, basado en la Plataforma de la serie de difractores d8, es ideal para todas las aplicaciones de difracción y dispersión de polvo de rayos x, como:
Dispersión típica de polvo de rayos X (drx)
Análisis de la función de distribución (pdf)
Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (saxs) y dispersión de rayos X de ángulo amplio (waxs)
Gracias a su excelente capacidad de adaptación, solo con D8 Advance puede medir todo tipo de muestras: de líquido a polvo, de película a bloque sólido.
Tanto los usuarios novatos como los expertos pueden cambiar la configuración de manera simple, rápida y sin errores. Todo esto se logra a través del diseño davinci de brooke: al configurar el instrumento, no hay herramientas, no hay colisión, y también está apoyado por la identificación y verificación automatizada de componentes en tiempo real.
Alcance de la aplicación:
Identificación de fase: la identificación de fiabilidad de materiales (pmi) es la más común porque es muy sensible a la estructura atómica, lo que no se puede lograr mediante técnicas de análisis elemental.
Análisis cuantitativo de fase: el método incluye el análisis semicuantitativo del software eva, el análisis del método de área del software dquart y el análisis de ajuste de espectro completo del software diffractopas.
Drx no ambiental: se puede configurar la curva de temperatura en diffrac.wizard y sincronizarla con la medición, y luego se pueden mostrar los resultados en diffrac.eva
Análisis de textura: en el software diffrac.texture, se utilizan Funciones armónicas esféricas y métodos de análisis de componentes para generar mapas polares, funciones de distribución de orientación (0df) y análisis cuantitativos de volumen.
Análisis de tensión residual: análisis de la tensión residual de los componentes de acero en diffrac.leptos: obtenido mediante el método sin2psi, medido con radiación de cromo.
Método de reflexión de rayos X (xrr): en diffrac.leptos, el espesor de la película, la rugosidad de la interfaz y la densidad de las muestras multicapa se analizan por xrr.
Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (saxs): en diffrac.saxs, se realiza un análisis de tamaño de partícula de nanopartículas de oro de 80119 nm de la muestra estándar NIST SRM recogidas por eiger2r500k en modo 2d.
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