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Correo electrónico
Wayne.Zhang@Sikcn.com
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Teléfono
13917975482
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Dirección
Piso 7, edificio 7, Puerto microelectrónico de zhangjiang, 690 bibo Road
Categorías de producto
Xiangkong Science Instrument (shanghai) co., Ltd.
Serie M de la Plataforma de sonda Blue Bank
NegociableActualización en01/13
- modelo
- Naturaleza del fabricante
- Productores
- Categoría de producto
- Lugar de origen
Descripción general
Dominar la tecnología central de la detección de obleas: centrarse en el campo de la detección de sondas semiconductoras
Detalles del producto
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LANANtek MMesa de sonda de la serie
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Características principales
●Opcional con ambiente de prueba de alta temperatura
●Se puede optar por un microscopio de tubo recto, un microscopio de estilo o un microscopio metalográfico.
●La Plataforma de carga puedeZElevación del eje
●Plataforma de cargaThetaSe puede ajustar en bruto360 °, ajuste fino± 7 °
●Plataforma de cargaXYLa resolución de movimiento es1um
●Opcional con un entorno de prueba de alta presión y alto flujo
●Carga rápida y función de bloqueo en cualquier posición
●Puente de microscopio estable, con una resolución de movimiento de2um, elevación neumática del microscopio
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Selección de accesorios
●Sonda y cable de prueba de radiofrecuencia
●Baja corriente de fuga/.Prueba de condensadores
●Reparación láser
●Tarjeta de sonda/.Encapsulamiento/ PCBPinzas de placa
●Sonda activa
●Módulo de alta tensión y alta corriente
●Cámara digital de alta definición
● Chuck caliente
●Mecanismo de ajuste del nivel de la Plataforma de carga
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áreas de aplicación
● Análisis de fallasAnálisis de fallos de circuitos integrados
● Confiabilidad a nivel de obleaCertificación de fiabilidad de Jingyuan
● Caracterización del dispositivoMedición de las características de los componentes
● Modelado de procesosPrueba del proceso plástico(Análisis de las características del material(...)
● Monitoreo de procesos de ICHacer monitoreo
● IC de sondeo de piezas del paquetePrueba de calidad de la línea en la etapa de encapsulamiento
● Pruebas ESD&TDR ESDyTDRprueba
● Sonda de microondasMedición por microondas(Prueba de alta frecuencia(...)
●SolarDetección y análisis en el campo de la energía solar
●LED,OLED,pantalla LCDDetección y análisis de Campos
●PCBDetección y análisis de Campos
● VEL DFB, COC,Pruebas de dispositivos fotoeléctricos como la luz de silicio
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Instrumentos de prueba compatibles
●Varios modelos de Osciladores
●Analizadores de parámetros de semiconductores de varias marcas, pruebas de bo, shede, teck, guillén, etc.
●Los Analizadores de red de varias marcas son de, rodschwartz, siyi, etc.
●Tabla de fuentes de varios modelos de marca
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