Microscopía de fuerza atómica / microscopía de sonda de escaneo

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Descripción general

Microscopía de fuerza atómica / microscopía de sonda de escaneo

Detalles del producto

Microscopía de fuerza atómica de alta resolución

Resumen del producto
Ejemplo de Observación de muestras en el aire
Ejemplo de Observación de muestras en líquido
Ejemplo de Observación de la estructura de solvatización de hidratación
Principio de la microscopía de fuerza atómica en modo FM
Parámetros de rendimiento

Observar el vívido nanomundo

El último microscopio de fuerza atómica de alta resolución HR - spm, que utiliza el modo fm, no solo permite lograr una resolución súper alta en entornos de aire y líquido, sino que también observa por primera vez la estratificación líquida de la hidratación / solvatización de la interfaz sólido - líquido.

HR - spm: microscopía de fuerza atómica de alta resolución

Características de HR - SPM

Uso del modo FM
El ruido en el aire y los líquidos se reduce a una vigésima parte del modo tradicional
La resolución de la microscopía de fuerza atómica de vacío súper alto también se puede alcanzar en ambientes de aire y líquido.

Los microscopios de sonda de escaneo y fuerza atómica existentes suelen utilizar el modo de modulación de amplitud. en principio, el modo de modulación de frecuencia puede alcanzar una resolución más alta.

SPM	:	Microscopio de sonda de escaneo
AFM	:	Microscopía de fuerza atómica
AM	:	Modo de modulación de amplitud
FM	:	Modo FM

Diferencia con el SPM / AFM existente

Observación de la resolución atómica en un entorno líquido

Se observa la disposición atómica de la superficie sólida en una solución saturada de nacl. Utilizando el microscopio de fuerza atómica tradicional en modo de modulación de amplitud, la imagen está completamente cubierta por el ruido (foto izquierda), pero en modo fm, la disposición de los átomos es claramente visible (foto derecha). El modo FM logra una verdadera resolución A nivel atómico.

Observación de partículas de catalizador PT en el aire 1)

Kpfm: escaneo del microscopio Kelvin

Las partículas PT en el sustrato de dióxido de titanio se determinan mediante kpfm, y las partículas catalíticas PT en la versión base de dióxido de titanio se pueden identificar claramente. Al mismo tiempo, se puede observar el intercambio de carga entre partículas PT de varios nanómetros de tamaño y el sustrato. En la imagen derecha, la zona roja es un potencial positivo y la zona azul es un potencial negativo. Para la observación pkfm, el modo FM también mejora considerablemente la resolución.

Nota: kpfm requiere una base específica.

Referencias:

Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).

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