Sistema conjunto AFM Raman

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Descripción general

El sistema AFM Raman puede observar la morfología tridimensional y la estructura multifase (nivel nanométrico) de la microregión de la muestra sin destruir la estructura interna de la muestra; Al mismo tiempo, se pueden estudiar, determinar y analizar las características físicas y químicas de la superficie de la muestra.

Detalles del producto

Sistema conjunto AFM RamanModo de trabajo:

1. modo de trabajo estándar:

1.1 modo de pulsación (modo de vibración)

1.2 modo de contacto

1.3 modo de imagen de fase

1.4 modo de fuerza lateral (fuerza lateral Microscopy lfm)

1.5 prueba de curva de fuerza (curva de fuerza) módulo de Young predecible

1,6 nanomanipulación (nanomanipulación)

1,7 nanograbado (nanolitografía)

1.8 modo matriz de fuerza (mapeo de fuerza)

1.9 prueba de fricción (modo de fricción)

2. modo de trabajo opcional:

2.1 modo de microscopía magnética (modo mfm)

2.2 modo de microscopio electrostático (modo efm)

2.3 modo de microscopio conductor (modo C - afm)

2.4 modo de escaneo líquido

Afmworkshop es una empresa especializada en el diseño y fabricación de microscopios de fuerza Atómica. El fundador de la compañía es el Dr. Paul west, con 30 años de experiencia en microscopía de fuerza atómica, y el autor del libro de texto de microscopía de fuerza atómica "atonic Force microscopes".

Sistema conjunto AFM RamanParámetros técnicos

Rango de escaneo: 100 micras, 50 micras, 15 micras

Rango de dirección z: 17 micras, 7 micras

Resolución de accionamiento de dirección xy: 0,01 nm

Resolución de accionamiento en dirección z: 0003 nm

Nivel de ruido medido en dirección z: 0,15 nm

Tamaño de la muestra: 25 mm de diámetro

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