300n & 2kn plataforma curvada vertical de 3 y 4 puntos

300N & 2kNVertical3Punto y4Plataforma de flexión de puntos paraSEM

MICROTESTDoblar y estirar en tres puntos/.El módulo de compresión está especialmente diseñado para observar la zona de alta tensión de la muestra bajo un microscopio electrónico de barrido o un microscopio óptico.WindowsEl software establece los parámetros de conducción y losPCLa curva de estrés y tensión se muestra en tiempo real en la pantalla.75NA2kNDeSensor de cargaCubre la mayoría de las aplicaciones,La velocidad de desplazamiento varía de0.05mm/minA5mm/min.Las versiones especiales pueden ser requeridas por el clientePersonalizado.Todos los módulos están controlados por nuestro software de prueba de tracción de microtest..

Con todosDebenAl igual que los módulos de prueba, el control se utiliza a través de computadorasMICROTESTPrueba el software.

En la curva tradicional de tres puntos, la muestra se apoya en dos puntos exteriores y se deforma impulsando el tercer punto central hacia abajo. Para la aplicación de la microscopía electrónica de barrido, ya tenemos tecnología inversa.

La muestra se encuentra en el punto de fijación central y dos puntos externos conducen hacia abajo. Esto tiene dos beneficios: las áreas de interés de alta tensión se encuentran en la parte superior, lo que facilita la visualización y mantiene el foco porque la altura no cambia.

La carga máxima del dispositivo estándar es300NLa velocidad de desplazamiento es de0.05mm/minA5mm/min. Las versiones de alta carga también están disponibles para2KNLa siguiente carga. El ancho de la muestra estándar es40Mm. Las pinzas superiores e inferiores (puntos) pueden cambiar fácilmente diferentes configuraciones de la muestra, como permitir estudios de indentación o curvas de cuatro puntos.

Este módulo solo está diseñado para la flexión vertical de tres puntos, y para la flexión horizontal de tres puntos, recomendamos usar una mesa de estiramiento con una pinza de flexión opcional de tres o cuatro puntos.

Aplicaciones recomendadas:

Microscopio electrónico de barrido (sem)SEM), microscopía óptica y microscopía de fuerza atómica, etc.

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