El espectrómetro portátil de fluorescencia de rayos X (espectrómetro de fluorescencia de rayos x) realiza pruebas no destructivas simultáneas del espesor y la composición del recubrimiento a través de la tecnología de excitación de rayos X y análisis espectral característico. su principio central y proceso de operación son los siguientes:
I. principios técnicos
Excitación por rayos X y generación de fluorescencia
El instrumento emite rayos X de alta energía para irradiar la superficie de la muestra, expulsando electrones de la capa interior de los átomos recubiertos o de base, formando agujeros. Cuando la transición electrónica externa llena el agujero, se libera la fluorescencia de rayos X característica, cuya energía corresponde al número atómico del elemento uno por uno (por ejemplo, los elementos recubiertos como el níquel y el oro tienen picos de energía específicos).
Análisis de la correlación entre el grosor y la composición
Medición del espesor: el grado de absorción de los rayos X incidente por el recubrimiento está relacionado con el espesor. Cuanto más grueso es el recubrimiento, más débil es la señal de fluorescencia producida por el material base (porque los rayos X son absorbidos más por el recubrimiento). Al medir la relación de intensidad de la fluorescencia característica entre el recubrimiento y el sustrato, combinado con modelos matemáticos (como el método de curva estándar o el método de parámetros teóricos), se expulsa el espesor del recubrimiento.
Análisis de composición: la energía de rayos X característica liberada por diferentes elementos es diferente. después de capturar el espectro, el detector identifica el tipo de elemento y el contenido relativo a través del software de resolución de espectro.
II. procesos operativos
Preparación de muestras
Asegúrese de que la superficie a probar esté limpia, libre de grasa o contaminantes y evite interferir con los resultados de la prueba.
Calibración del instrumento
La calibración inicial se realiza utilizando una muestra estándar, como una placa de recubrimiento de espesor conocido, que coincide con la curva preestablecida de la combinación de recubrimiento - sustrato (como níquel - hierro, oro - cobre), o se calcula directamente mediante el método FPS (método de parámetros básicos).
Medición y análisis de datos
Toque la sonda suavemente la superficie de la muestra, inicie el procedimiento de medición, el instrumento emite automáticamente rayos X y recoge la señal reflejada.
El software procesa el espectro de fluorescencia y genera valores de espesor (el rango suele ser de 0005 - 50 micras, dependiendo del material) e informes de composición en 30 segundos.
Soporte para análisis de recubrimientos de varias capas (hasta 5 capas) para adaptarse a estructuras complejas.
III. ventajas tecnológicas
No destructivo y rápido: no es necesario destruir la muestra, solo se necesitan decenas de segundos para una sola medición, lo que es adecuado para el control de calidad en tiempo real de la línea de producción.
Alta precisión: resolución de 0005 micras, rango dinámico que cubre el espesor de nanómetros a micras.
Portátil y flexible: el diseño portátil puede probar muestras grandes o en forma especial (como superficies curvas, superficies cóncavas y convexos), sin necesidad de cortar para su inspección.
Versatilidad: salida simultánea de datos de espesor e composición, soporte de metales, plásticos, cerámica y otros sustratos y una variedad de tipos de recubrimiento, como chapado en oro y níquel.