Recientemente, Yangzhou xiaotian Photon Technology co., Ltd. (en adelante, "xiaotian photon") introdujo con éxito la máquina integrada de microscopía electrónica de barrido de escritorio, el equipo insignia de la microscopía electrónica de barrido fenom prox g6, y completó con éxito la instalación y aceptación y se puso oficialmente en uso. Esto marca un paso clave en el campo de la caracterización de materiales por parte de los fotones de xiaotian, inyectando una fuerte fuerza motriz microtecnológica en el desarrollo de materiales ópticos.

Pioneros en materiales ópticos impulsados por la innovación avanzan hacia una era de mayor precisión
Como representante sobresaliente de las empresas de alta tecnología en el este de china, xiaotian Photon siempre se ha centrado en la investigación y desarrollo y fabricación de materiales de recubrimiento óptico de precisión, componentes de cristal láser y dispositivos básicos de detección de fibra óptica, y sus productos son ampliamente utilizados en comunicaciones cuánticas, pruebas biomédicas y otros campos de alta precisión. A medida que la precisión de los productos de la compañía continúa avanzando hacia el nivel submicron, la demanda de detección límite de la morfología de la superficie de los materiales, la uniformidad de la composición y el análisis de defectos es cada vez más urgente. El aterrizaje de fenom prox G6 sin duda ha traído una mejora importante a la capacidad de caracterización de materiales de xiaotian PHOTON y ha ayudado a la compañía a ir más allá en el camino de la investigación y el desarrollo de materiales ópticos.

Con su "nanoperspicacia × eficiencia industrial" como núcleo, la máquina integrada de microscopía electrónica fenom prox G6 proporciona una solución revolucionaria para los fotones de xiaotian, trayendo cuatro valores principales:
Parte 01. doble ventaja de alta resolución y baja tensión
La capacidad de imagen ultra clara de 6 nm puede capturar con precisión las características microscópicas de la estructura intercalar del recubrimiento óptico y los defectos de crecimiento cristalino, haciendo que cada detalle del material sea claramente visible.
En el modo de baja tensión, se puede realizar la observación directa de pretratamiento cero de materiales no conductores, evitando efectivamente el daño de las muestras durante el proceso de detección y garantizando la precisión y fiabilidad de los resultados de la detección.

Imagen electrónica de dispersión de espalda de la microscopía electrónica de Flynn
Parte 02. EDS integrado en la fábrica original: revolución del espectro de Energía inteligente
El barrido de superficie a gran escala de ultra alta velocidad integrado por la fábrica original, el análisis de distribución de la composición del recubrimiento se puede completar en solo 30 segundos, lo que mejora la eficiencia de detección en un 400%, lo que acelera en gran medida el proceso de investigación y desarrollo.
El sistema inteligente de rastreo de elementos puede marcar automáticamente las partículas de impurezas, lo que proporciona un fuerte apoyo para el control de la pureza del material y ayuda a los fotones de xiaotian a mejorar aún más la calidad del producto.

Resultados de Mapping del espectro de energía de la microscopía electrónica de Flynn
Parte 03. eficiencia industrial: opciones para que las empresas aceleren la I + D
El almacén de muestras con cerradura de aire ha logrado un flujo de detección de 60 muestras por hora, lo que satisface la demanda de alto rendimiento de detección de materiales por fotones xiaotian en la producción a gran escala y proporciona una fuerte garantía para la expansión de la capacidad de producción de la compañía.
Experiencia de operación inteligente - función de automatización de un clic, todos pueden operar después de 30 minutos de entrenamiento, reduciendo drásticamente el umbral de operación y mejorando la eficiencia de la investigación científica y la detección.

Parte 04. paradigma de los laboratorios de I + D
El diseño de escritorio de 0,5 m no solo libera el espacio de laboratorio, sino que también hace que el diseño del equipo sea más flexible y conveniente para trabajar con otros equipos de I + D.
El consumo de energía es solo del 20% de la microscopía electrónica tradicional, lo que reduce en gran medida los costos operativos y está en línea con la búsqueda de un entorno de investigación y desarrollo verde y eficiente por parte de xiaotian photon.
El sistema de gestión de datos en la nube apoya el análisis colaborativo multisectorial de I + D y líneas de producción, rompe las barreras de información entre los departamentos, promueve el intercambio de conocimientos y el trabajo en equipo, y mejora aún más la eficiencia general de I + D de la empresa.

Fenom prox, una máquina integrada de microscopía electrónica voladora y espectrometría de energía
El aterrizaje exitoso del fenom prox G6 de la microscopía electrónica voladora ha traído oportunidades para el desarrollo de materiales ópticos de los fotones de xiaotian. En el futuro, xiaotian Photon aprovechará al máximo las potentes funciones de fenom prox G6 para mejorar aún más el nivel de caracterización de materiales, acelerar el proceso de investigación y desarrollo de productos y proporcionar productos de materiales ópticos de mejor calidad y avanzados para las comunicaciones cuánticas, pruebas biomédicas y otros campos. Al mismo tiempo, xiaotian Photon también mantendrá una estrecha cooperación con la microscopía electrónica voladora para explorar conjuntamente más aplicaciones innovadoras, promover el desarrollo de la industria de materiales ópticos y contribuir al progreso de la industria de alta tecnología de china.
Fena Microscopy electrónica - funa Science Instrument (shanghai) co., ltd., fundada en Shanghai en 2012, proporciona microscopía electrónica de escaneo de escritorio para universidades, empresas e institutos de investigación, con una rica línea de productos: microscopía electrónica de escaneo de emisiones de campo térmico Schottky de escritorio, microscopía electrónica de escaneo de escritorio inteligente de la serie XL de filamento ceb, microscopía electrónica de escaneo de escritorio rentable de la serie P de filamento ceb, microscopía electrónica de escaneo de detección automática de partículas y cuerpos extraños de la serie partlex, sistema automático de detección de diatomeas de diatomai (método de microscopía electrónica) y equipo de preparación de muestras de microscopía electrónica de escaneo - molienda de iones, etc.
Fena microscopía electrónica también proporciona soporte técnico y servicios de prueba relacionados con la microscopía electrónica de escaneo de escritorio. se han establecido centros de prueba y centros de servicio post - venta en shanghai, beijing, Guangzhou y chengdu. actualmente, feina microscopía electrónica tiene más de 2000 usuarios en china.
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