Artículo transferido del Centro de investigación de innovación tecnológica de neutralidad de carbono de Yangzhou de la Universidad de Yangzhou

En la mañana del 1 de septiembre, la conferencia académica sobre el tema "nuevas tecnologías y nuevas aplicaciones del microscopio electrónico de barrido" se celebró solemnemente en la Sala de conferencias 401 del Centro de investigación de innovación tecnológica de neutralidad de carbono de Yangzhou de la Universidad de yangzhou. El objetivo de esta Conferencia es explorar en profundidad los avances de vanguardia y las innovaciones aplicadas en el campo de la microscopía electrónica de barrido, promover la integración de los intercambios académicos y la tecnología, y atraer la participación activa de profesores y estudiantes de varias disciplinas de nuestra universidad.

Sitio de la Conferencia uno

La Conferencia invitó a Zhu junwen, un experto Senior en tecnología de microscopía electrónica de barrido y preparación de muestras de molienda iónica de funa Science instruments (shanghai) co., ltd., como orador principal. El Director Zhu introdujo sistemáticamente en detalle los principios básicos de funcionamiento, las operaciones de uso y sus aplicaciones innovadoras en muchos campos científicos de vanguardia de equipos como el microscopio electrónico de barrido de escritorio volador y la aplicación integral del triturador de iones, y demostró el importante valor y los resultados prácticos del sistema tecnológico en combinación con ricos casos.

Sitio de la Conferencia 2

En el enlace de intercambio, profesores y estudiantes en el lugar mantuvieron discusiones profundas y cálidas con expertos sobre detalles técnicos, escenarios de aplicación y programas experimentales, y el ambiente académico fue Fuerte.

Esta Conferencia no solo amplió los horizontes de investigación científica de profesores y estudiantes, sino que también promovió aún más la aplicación innovadora de la tecnología de microanálisis de alta precisión en el campo de la nueva energía.

Sitio de la Conferencia 3

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Funa Science Instrument celebró una "semana gratuita de medición de muestras de microscopía electrónica de Flying nano" de seis días en nuestro centro. Los amigos interesados pueden ponerse en contacto con la persona responsable o escanear el Código QR de abajo para hacer una cita.

Fenom prox, una máquina integrada de microscopía electrónica de barrido de escritorio volador

Tiempo: 1 - 6 de septiembre de 2025

Ubicación: habitación 209, edificio d2, Centro de investigación de innovación tecnológica de neutralidad de carbono de yangzhou, Universidad de Yangzhou

Contacto de muestreo

Escena del Roadshow