nanoVoxel 显微 CT4000-micro ct

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Descripción general

La tomografía computarizada micro - ct4000 - micro de nanovoxel se puede combinar con una tomografía computarizada industrial de fuente de línea de disparo de enfoque micro de hasta 300kv, lo que puede garantizar una capacidad de detección de alta precisión bajo la premisa de penetración de muestras y satisfacer las necesidades de detección de alta resolución de muestras de media y alta densidad y gran tamaño.

Detalles del producto

Sanying Precision Instrument co., ltd., dedicada a microscopía tridimensional de rayos x, detección en línea de rayos x, etc.La investigación y desarrollo y fabricación de equipos de imágenes no destructivas y equipos de tomografía computarizada industrial de alta resolución de rayos X es un fabricante profesional de equipos de imágenes microscópicas tridimensionales de rayos X con derechos de propiedad intelectual independientes.

nanoVoxel 显微 CT4000-micro ctSe puede combinar con una tomografía computarizada industrial de fuente de línea de disparo de punto microfocal de hasta 300kv, lo que puede garantizar la capacidad de detección de alta precisión bajo la premisa de la penetración de la muestra y satisfacer las necesidades de detección de alta resolución de muestras de media y alta densidad y gran tamaño.

nanoVoxel 显微 CT4000-micro ct

Características y ventajas:

Fuente de rayos X reflectante de alta potencia
Detector de gran área de imagen
Múltiples modos de escaneo: espiral, sesgo, ángulo limitado, etc.

nanoVoxel 显微 CT4000-micro ct

Indicadores técnicos

resolución

Resolución de detalles de píxeles	500nm
Resolución espacial*	2 μm

Fuente de rayos X

tipo	Tipo de reflexión de tubo abierto
voltaje	300KV/240KV/225KV/190KV/160KV

Detector plano

Área de imagen	427 mm× 427mm (mm)
Matriz de píxeles	3072× 3072

muestra

Tamaño de la muestra detectable	600 mm× 550 mm(Diámetro × altura(...)
Carga de la muestra	25kg

Parámetros físicos del equipo

Tamaño del equipo	2770mm × 1440mm × 2040mm(largo x ancho x alto)
Peso del equipo	7500kg

*La resolución espacial se puede probar y verificar con la tarjeta de prueba de resolución espacial.

▲ los parámetros técnicos son indicadores de referencia, más especificaciones y modelos

nanoVoxel 显微 CT4000-micro ctÁrea:

Roca, hormigón, suelo
Metales, cerámica, polímeros y otros materiales y componentes
Muestras biológicas, impresión 3d, ingeniería inversa
PCB、 Dispositivos electrónicos, chips, baterías de litio, etc.
Automóviles,

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