Al mover la muestra, también se puede presentar una imagen de distribución superficial de elementos en tiempo real $r $n alta sensibilidad $r $n alta resolución espacial $r $n reduce el daño de la muestra $r $n reduce la contaminación de la muestra $r $ntultim Max series tiene un SDD de gran área y un circuito integrado Extreme capaz de detectar elementos li.
Presentación de imágenes electrónicas en tiempo real y imágenes de distribución de elementos
uPresentación simultánea de imágenes electrónicas y distribución de elementos presentación simultánea, sin necesidad de cambiar con frecuencia entre los dos
Registro flexible
uAl escanear rápidamente la muestra, se puede obtener un mapa de distribución de elementos de alta calidad con una pequeña parada.
Registro de ruta
uLa información de ubicación se registra automáticamente, así como la información de los elementos de la ubicación correspondiente, sin perder ninguna característica de interés.
uLa distribución del contenido de los elementos se presenta de un vistazo con diferentes luminosidades.
uSeleccione la ubicación de interés y regrese con un solo clic
Ultim@Max Soporte de hardware
uLa eficiencia del espectro de energía a gran escala es buena y es la garantía de hardware para obtener mapas de distribución de superficies de elementos en tiempo real.
Ultim ® La sonda Max utiliza cristales SDD más grandes y circuitos integrados Extreme altamente sensibles
uMayor área efectiva de cristal(40mm², 65de mm²,100 mm², 170mm²) garantiza una alta tasa de conteo en todos los casos
uBajo ruidoLa detección de rayos X proporciona los resultados más precisos que se pueden cuantificar con precisión a una tasa de conteo de hasta 400 kcps.
uLa tasa de conteo del análisis cualitativo es superior1000 Kbps
El área cristalina tiene un impacto significativo en los resultados.
uy10mm²En comparación con la sonda, analizando la misma zona en las mismas condiciones, puede usar170mm²Detector:
uReducir el tiempo al original1 / 17
uPara las muestras sensibles al haz, el haz es solo el original.6%, puede reducir el daño de la muestra,Reducir la contaminación por carbono de las muestras
Simplificar el análisis de muestras difíciles
uRendimiento de baja tensión: nanomateriales, muestras no conductoras, menos daños en muestras
uAlta sensibilidad: elementos ligeros y nanomateriales
uMejorarCapacidad de Sem - EDS para analizar elementos ligeros y nanomateriales
uEl espectro de energía sin ventanas ultim Extreme tiene sensibilidad de rayos X en el extremo de baja energía a baja tensión
Diferentes áreas, la misma resolución energética
utodoLos detectores ultim @ Max tienen la misma resolución energética
uResolución energética garantizada de mnka 127ev @ 130000 cpsfka resolución energética garantizada 64eV@130 , 000cps
uCka garantiza la resolución energética 56eV@130 , 000cps