Zeiss Zeiss se centra en la serie crossbeam de microscopía electrónica de haz de iones

Zeiss Zeiss se centra en la serie crossbeam de microscopía electrónica de haz de ionesDetalles:

Zeiss Zeiss se centra en la serie crossbeam de microscopía electrónica de haz de ionesExplorar nuevos métodos de procesamiento FIB - desde el tamaño grande hasta el corte de nanoprecisión:

Aprovechar al máximo el excelente rendimiento de la lente FIB Lon - scultor a baja tensión para mejorar la calidad de la muestra. Reducir el grado de amorphización de las muestras de precisión puede obtener excelentes resultados de muestra después del pulido delgado, al tiempo que tiene la ventaja de cambiar rápidamente el haz y acelerar la aplicación de fib.

También puede elegir un excelente rendimiento de haz grande para duplicar la velocidad de recolección de la aplicación FIB - Sem 3D. El proceso de adquisición de imágenes es muy estable para garantizar que obtenga resultados precisos y altamente repetibles. El diseño del tubo permite que su rango de haz se extienda por cinco órdenes de magnitud, es decir, de 1pa a 100 na. los haces de hasta 100 na pueden eliminar el material de manera rápida y precisa y completar el proceso de corte, al tiempo que se obtiene una alta resolución FIB inferior a 3 nm bajo un haz bajo. Cuando funciona a una corriente de emisión de 2 μa, la vida útil convencional de la fuente de haz de iones de enfoque de galio, es decir, LMIS (fuente de iones de metal líquido), es superior a 3000 uah. A través de la función de calentamiento automático de fuentes de iones, los productos de la serie crossbeam pueden completar experimentos de larga duración.