Espectrómetro de cristal de rayos X

Espectrómetro de cristal de rayos X

Descripción del producto

Espectrómetro de cristal de rayos X(espectrómetro de cristal de imagen de rayos x) se utiliza comúnmente para la medición de rayos de alta energía y se divide en: espectrómetro de cristal plano y espectrómetro de Cristal Curvo de acuerdo con el uso de cristales.

Por lo general, el espectrómetro de cristal plano es ampliamente utilizado en el análisis espectral de rayos X debido a su estructura simple y baja dificultad de procesamiento.* simpleInstrumento de medición espectral de rayos X. Sin embargo, el espectrómetro plano no tiene función de enfoque, por lo que la eficiencia de la iluminación es baja y la intensidad de la Línea espectral es débil. Además, el tamaño de la fuente de luz tiene un impacto obvio en la resolución espectral y no satisface las necesidades de medición de la resolución hiperespectral. El espectrómetro de Cristal Curvo alcanza el objetivo de un fuerte enfoque doblando la superficie difractiva del cristal divisor de luz en varias superficies.

Cristal Curvo esférico, con propiedades bidimensionales de dispersión e imagen. Combinando la difracción de Praga cristalina y las características de enfoque del espejo esférico, sin ranuras ni vacío, combinado con detectores de rayos X bidimensionales, se pueden obtener imágenes de fuentes de luz de rayos X resueltas espectralmente y espacialmente al mismo tiempo. En la actualidad, los cristales curvos esféricos se han utilizado ampliamente en el diagnóstico de plasma de restricción inercial y magnética.

La temperatura de los iones de plasma y la velocidad de rotación son parámetros importantes para caracterizar el rendimiento del plasma de fusión y la base de datos para llevar a cabo muchas investigaciones sobre problemas físicos de plasma. En el dispositivo tokamak, el espectrómetro de Cristal Curvo mide la temperatura y la velocidad de rotación de los iones midiendo el cambio de frecuencia Doppler y el ancho Doppler de la Línea espectral de impurezas de plasma.

Basado en sus características de no depender de la inyección de haz neutro y funcionar normalmente bajo todo tipo de calentamiento de ondas de radiofrecuencia, especialmente adecuado para la medición de la temperatura del plasma bajo calentamiento de ondas de radiofrecuencia puras, es uno de los diagnósticos físicos importantes en el dispositivo tokamak.

Beijing zhuoli Instrument co., Ltd. lanzó un conjunto completo de sistemas de prueba de espectrómetros de Cristal Curvo basados en las necesidades de los clientes y la experiencia de investigación y desarrollo espectral en los últimos 20 años.

Principio del espectrómetro de cristal curvo

Sistema espectral de microscopía electrónica Raman RTS - semr

El espectrómetro de Cristal Curvo es una herramienta importante para la medición espectral de rayos X. funciona sobre la base de la Ley de difracción de praga. al seleccionar razonablemente el material y la forma del cristal curvo, puede controlar con precisión el efecto de difracción de los rayos x, logrando así el enfoque de reflexión monocromática de los rayos X. Sus configuraciones son diversas, incluyendo tipo john, johnson, espiral logarítmica, elipsoide y von hamos, y son ampliamente utilizadas en investigación científica, pruebas industriales y otros campos. Los principales componentes incluyen: Cristal Curvo de acuerdo con el rango de prueba requerido, construcción de circuito óptico completo y equipo de detección trasera (cámara de vacío como principal). Entre los componentes del espectrómetro de cristal curvo, el detector es uno de los equipos clave que determinan el rendimiento del sistema del espectrómetro de cristal curvo, especialmente en las condiciones de funcionamiento del plasma de calentamiento asistido de alta potencia de pulso largo, no sólo se necesita una alta tasa de conteo, sino también un buen rango dinámico para reflejar los cambios en Los parámetros de los iones antes y después del calentamiento. Los cristales curvados no hacen que los rayos X se centren, pero pueden hacer que los rayos X converjan en una línea o un punto de manera difractiva. Los cristales curvos de la superficie pueden ser transparentes o reflectantes y pueden doblarse en superficies compatibles con una superficie cilíndrica, esférica, toroide o una pequeña parte de una superficie logarítmica.

Esquema del espectrómetro de cristal curvo:

A es el punto de incidencia y B es la superficie de imagen utilizada para el espectrómetro de Cristal Curvo esférico en tokamak.

Los principales parámetros del espectrómetro de cristal curvo

Longitud de onda de rayos X de prueba:

El espectrómetro de Cristal Curvo se utiliza principalmente para la medición en el rango de longitud de onda de rayos x, generalmente entre 0,1 y 10 nanómetros. Al seleccionar cristales con diferentes intervalos de celosía, se puede cubrir el rango de rayos X blandos a rayos X duros.

Rango de energía de prueba

Rayos X blandos: adecuados para el estudio de elementos ligeros y muestras biológicas, generalmente en el rango de cientos de voltios electrónicos (ev) a miles de voltios electrónicos.

Rayos X duros: adecuados para el estudio de elementos pesados y materiales de alta densidad, generalmente en el rango de miles de voltios electrónicos a decenas de miles de voltios electrónicos.

Resolución espectral: según la demanda, se puede obtener una resolución de nivel nm o incluso superior.

Indicadores técnicos

■ rango de longitud de onda: 0,1 - 10 nm

■ rango energético: cientos de EV a decenas de keV

■ resolución espectral: 100 - 1000 @ banda ancha; > 1000 @ medición de la forma espectral

■ aceptar la demanda personalizada

Las referencias de configuración relevantes en diferentes escenarios de aplicación son las siguientes:

Campos de aplicación relacionados del espectrómetro de cristal curvo

Ciencia de los materiales: se utiliza para estudiar la microestructura y la composición de los materiales.

Física: se utiliza para estudiar fenómenos físicos de alta energía y propiedades de partículas, como las limitaciones inerciales y el diagnóstico de plasma de restricción magnética.

Análisis químico: para el análisis cuantitativo y cualitativo de elementos en compuestos.

Casos de datos de prueba relacionados

Caso 1: espectro si k Alfa obtenido con un espectrómetro de Cristal Curvo construido con una cámara de vacío andor caso 2: datos medidos con un espectrómetro de Cristal Curvo construido con una cámara Pilatus de detrics

Opción detector 1 con (andor):

Opción detector de combinación 2 (dectris)