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Disco de calentamiento de obleas

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Descripción general

Adecuado para pruebas de obleas de diferentes tamaños, se puede utilizar en varias mesas de sonda, control de temperatura y pruebas eléctricas simultáneas.

Detalles del producto

Rango de temperatura - 120 ° C a 400 ° C estabilidad de temperatura ± 0,05 ° C uniformidad de temperatura ± 2% de la superficie de la muestra 2 pulgadas a 12 pulgadas planitud de la superficie 25um electrodos traseros triaxiales de puesta a tierra eléctrica potencial de la superficie 25um electrodos traseros opcionales de la Plataforma de sonda manual del instrumento de Adaptación de la Plataforma de sonda manual de la Plataforma de sonda semiautomática recocido láser campo aplicable prueba de obleas de cambio de temperatura óptica OLED del Chip Semiconductor