El w200 es un accesorio automático de prueba de reflexión y transmisión, que se puede utilizar para la prueba de contenido de C y o de obleas semiconductoras, la prueba de espesor de la capa epitaxial y otros escenarios de aplicación con múltiples muestras y necesidades de análisis automático.
Características del producto:
- Se puede seleccionar el modo dual de transmisión, reflexión o reflexión de transmisión por separado, lo que ahorra costos de adquisición.
- Se utilizan motores de paso importados y componentes ópticos importados.
- Soporte para obleas de hasta 8 pulgadas (200 mm), soporte de muestra en forma especial personalizado
- El software establece varios puntos de prueba, prueba automáticamente el espectro y muestra los resultados del análisis.
- Software personalizado, para diferentes escenarios de aplicación, puede personalizar métodos de prueba, algoritmos y métodos de salida de resultados.
Alcance de la aplicación:
- Análisis del contenido de carbono y oxígeno de las obleas semiconductoras
- Detección del espesor de la capa epitaxial de las obleas semiconductoras
- Pruebas automáticas de transmisión y reflexión de filtros ópticos y muestras recubiertas
- Prueba automática por lotes de transmisión y reflexión de múltiples muestras