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Microscopía electrónica de barrido de emisiones de campo de alta resolución Regulus 8100

Listado: julio 2017
El recién lanzado nuevo microscopio electrónico de barrido de emisiones de campo de Hitachi (fe - sem) marca nueva "regulus ® Serie ", los modelos incluyen" Regulus 8100 "desarrollados como modelos posteriores del su8010 y la versión actualizada de la serie su8200" Regulus 8220 "," Regulus 8230 "," Regulus 8240 ", un total de cuatro modelos, todos los cuales logran un refuerzo de resolución y operatividad. El sistema óptico electrónico "serie regulus" se ha optimizado para que la resolución de la tensión de aterrizaje a 1 Kv aumente en aproximadamente un 20% en comparación con los modelos anteriores. "Regulus 8220 / 8230 / 8240" alcanza los 0,9 nm y "regulus 8100" tiene una resolución de 1,1 nm. Además, la pistola electrónica de campo frío más adecuada para la observación de alta resolución a baja tensión de aceleración puede ampliar los detalles de la muestra y obtener imágenes de alta calidad. La ampliación máxima también ha aumentado de 1 millón de veces a 2 millones de veces. Además, para hacer frente mejor a las pruebas y el mantenimiento de diferentes muestras y desempeñar un alto rendimiento, también se han reforzado las funciones auxiliares de los usuarios, como las funciones auxiliares de operación del sistema de detección de señales, las funciones auxiliares de mantenimiento, etc.
La "serie regulus" es una nueva marca de fe - Sem de alta tecnología hitachi, que incluye el "regulus 8100" desarrollado como un modelo posterior al su8010 y la actualización de la serie su8200 "regulus 8220", "regulus 8230" y "regulus 8240", un total de cuatro modelos, todos los cuales logran un refuerzo de resolución y operatividad.
¿La microscopía electrónica de barrido (sem) es ampliamente utilizada en nanotecnología, semiconductores? Observación de la estructura de materiales en la industria electrónica, las ciencias de la vida, las ciencias de los materiales y otros campos. En los últimos años, la investigación de nuevos materiales de carbono, materiales poliméricos y materiales compuestos, que son ampliamente esperados en la aplicación de dispositivos electrónicos de Nueva generación, como la columna vertebral de la Ciencia y la tecnología avanzadas, ha sido popular en todo el mundo. ¿¿ el microscopio electrónico de barrido es ampliamente utilizado para la observación de estos materiales? Evaluación, pero tener una resolución súper alta por sí sola está lejos de ser suficiente. También se requiere la observación de estructuras finas de la superficie a bajas tensiones de aceleración y el análisis de elementos de alta sensibilidad. Además, en el proceso de investigación a largo plazo, también se persigue la estabilidad continua y la confianza de las propiedades del microscopio electrónico.
El sistema óptico electrónico de la nueva marca "serie regulus" lanzado esta vez ha sido optimizado, lo que ha aumentado la resolución de la tensión de aterrizaje en aproximadamente un 20% a 1 Kv en comparación con la generación anterior. "Regulus 8220 / 8230 / 8240" alcanza los 0,9 nm y "regulus 8100" tiene una resolución de 1,1 nm. Además, la pistola electrónica de campo frío más adecuada para la observación de alta resolución a baja tensión de aceleración puede ampliar los detalles de la muestra y obtener imágenes de alta calidad. La ampliación máxima también ha aumentado de 1 millón de veces a 2 millones de veces.
Además, para hacer frente mejor a las pruebas y el mantenimiento de diferentes muestras y desempeñar un alto rendimiento, también se han reforzado las funciones auxiliares de los usuarios, como las funciones auxiliares de operación del sistema de detección de señales, las funciones auxiliares de mantenimiento, etc.
parámetros principales
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* 1 solo Regulus 8240 / 8230 / 8220
* 2 observación del modo de desaceleración
* 3 multiplicaciones de imágenes en un campo de visión de 127 mm x 95 mm
* 4 la Mesa de motor de 5 ejes es opcional