Prueba de cámara tem - IC

NegociableActualización en05/18

modelo

Naturaleza del fabricante: Productores

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Descripción general

Las células tem de hasta 3 GHz o incluso 6 GHz se pueden utilizar para las pruebas de IC en IEC 61967 - 2, IEC 61967 - 8, SAE 1752 - 3, IEC 62132 - 8 y el estándar GB / T 42968.2 - 2024.

Detalles del producto

FF - t02a es una pequeña cámara tem de hasta 3 GHz o incluso 6 ghz, que se compara con FCC - tem - JMC y es adecuada para pruebas de ic.

FF - t01a amplía el rango de frecuencia de funcionamiento del equipo a áreas fuera del alcance de los equipos existentes, lo que permite realizar pruebas de emisiones conductoras y de inmunidad a partir de 3ghz en el circuito integrado ic, instalado en una ventana de prueba fija (se pueden agregar pinzas rápidas), y una vez instalado, se puede probar dentro de 3ghz de acuerdo con las normas IEC 61967 - 2, IEC 61967 - 8, SAE 1752 - 3, IEC 62132 - 8 y GB / T 42968.2 - 2024. Las pruebas de IC ya no se limitan al uso del antiguo estándar ydt 1690.2-2007 para completar los proyectos de prueba de inmunidad radiológica en las pruebas EMC de circuitos integrados.

La misma serie de productos admite el desarrollo personalizado.

Parámetros:
Tamaño exterior: 137 * 56 * 32 mm

Frecuencia aplicable: DC - 3ghz (6ghz *)

VSWR: <1.2

TEM小室-IC测试

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