Sistema de prueba de dinámica de semiconductores

NegociableActualización en05/06

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Naturaleza del fabricante: Productores

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Descripción general

Sistema de prueba de dinámica de semiconductores $r $n $r $n la compañía física y química ofrece soluciones individuales y soporte técnico

Detalles del producto

Sistema de prueba de dinámica de semiconductores

Orientado a materiales / dispositivos semiconductores (si / sic / Gan / orgánico / perovskita)Dinámica del portador + fotoelectricidad instantánea + características dinámicas del dispositivo de potenciaPlataforma de prueba integrada,Los instrumentos físicos y químicos ofrecen soluciones exclusivas uno a uno y soporte técnico de ciclo completo.

1. dinámica del portador (nivel de material)

Movilidad del voltaje óptico transitorio / fotocorriente (tpv / tpc), fluorescencia resuelta en el tiempo (trpl), tiempo de vuelo (tof).
Espectro instantáneo de nivel profundo (dlts), extracción de carga (ce), portador presurizado lineal (celiv).
Parámetros analíticos: vida útil del portador, movilidad, longitud de difusión, densidad de Estados defectuosos, tasa de recombinación de interfaz.

2. características dinámicas de los dispositivos de Potencia (nivel de dispositivo)

Prueba de doble pulso (dpt): tiempo de apertura / apagado, tiempo de subida / bajada, pérdida de conmutación, características de recuperación inversa.
RDS dinámico (on), carga de puerta qg, tolerancia a cortocircuitos (scsoa), prueba de degradación de diodos a granel.
Adaptación: MOSFET / IGBT / sic - MOSFET / gan - hemt, cubriendo 600v - 10kv, 10A - 1ka.

La imagen es solo una exhibición parcial

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