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Scios 2 dualbeam se centra en el microscopio electrónico de barrido de haz de iones

modelo
Naturaleza del fabricante
Productores
Categoría de producto
Lugar de origen
Descripción general
El microscopio electrónico de barrido de haz de iones de enfoque scios 2 dualbeam se utiliza para la preparación de muestras de alta resolución y alta calidad y la caracterización 3D.
Detalles del producto

Scios 2 DualBeamMicroscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado para preparación de muestras de alta resolución y alta calidad y caracterización 3D

Thermo CientíficoScios 2 DualBeamEs un sistema de microscopía electrónica de barrido de haz de iones de enfoque analítico de alta resolución (fib - sem), que puede proporcionar excelentes propiedades de preparación de muestras y caracterización 3D para diversas muestras, incluidos materiales magnéticos y no conductores. Mejorar el flujo, la precisión y la facilidad de uso a través de diseños funcionales innovadores es la solución ideal para satisfacer las necesidades de investigación y análisis avanzados de científicos e ingenieros en el campo de la investigación académica, gubernamental e industrial.


Scios 2 DualBeamMicroscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocadoCaracterísticas principales:


Preparación rápida y conveniente

Se utilizaron columnas de iones Sidewinder HT para obtener muestras de tem y sonda atómica de alta calidad y específicas del sitio.

Información completa de la muestra

Se obtiene un contraste claro, preciso y sin carga eléctrica a través de varios detectores integrados dentro de la columna y debajo de la lente.

Navegación precisa de muestras

La Plataforma de carga altamente flexible de 110 mm y la Cámara Thermo Science NAV - Cam en la Cámara permiten la personalización de acuerdo con las necesidades específicas de la Aplicación.

Optimizar su solución

La configuración flexible de dualbeam, que incluye un modo opcional de baja presión de Cámara de hasta 500 pa, puede cumplir con los requisitos específicos de la Aplicación.

Se utilizaron columnas de iones Sidewinder HT para obtener muestras de tem y sonda atómica de alta calidad y específicas del sitio.

Imágenes de ultra alta resolución

Se utilizan columnas de cromatografía electrónica Thermo Science nicl con propiedades dentro de un amplio rango de muestras, incluidos materiales magnéticos y no conductores.

Información de alta calidad, subsuperficie multimodo y 3D

Utilizando el software opcional as & v4, se obtiene información de alta calidad, subsuperficial multimodo y 3D apuntando con precisión a las áreas de interés.

Imágenes sin artefactos y patrones constitutivos

Tiene modos dedicados como dcfi, supresión de deriva y modo Thermo Science smartscience.

especificación

Resolución del haz de electrones
  • Mejor WD

    • 0,7 nm a 30 keV stem

    • 1,4 nm a 1 keV

    • 1,2 nm a 1 keV (desaceleración del haz)

Espacio de parámetros de haz de electrones
  • Rango de corriente del haz de electrones: 1 Pa a 400 na

  • Rango de energía de aterrizaje: 20 * ev – 30 keV

  • Rango de tensión de aceleración: 200 V - 30 KV

  • Ancho máximo del campo de Tiro horizontal: 3,0 mm a 7 mm WD y 7,0 mm a 60 mm WD

  • Se puede proporcionar una visión súper amplia a través de Edición de navegación estándar (1 ×)

Sistema óptico de iones
  • Tensión de aceleración: 500 V - 30 KV

  • Rango de corriente del haz de electrones: 1,5 pa - 65 na

  • Barra de apertura de 15 posiciones

  • Modo de supresión de deriva, modo estándar para muestras no conductoras

  • Vida mínima de la fuente de iones: 1000 horas

  • Resolución del haz de iones: 3,0 nm a 30 kV bajo el método del ángulo de selección

Detector
  • Sistema de detección Trinity (dentro de la lente y dentro de la columna)

    • Detector interior de la lente inferior segmentada T1

    • Detector interior de la lente superior T2

    • Detector intracolumna retráctil T3 (opcional)

    • Hasta cuatro señales detectadas simultáneamente

  • Detector Everhart - thornley se (etd)

  • Conversión de iones de alto rendimiento y detector electrónico (ice) (opcional) para iones secundarios (si) y electrones secundarios (se)

  • Detector electrónico de dispersión inversa retráctil, de baja tensión, de alto contraste, segmentado, de estado sólido (dbs) (opcional)

  • Detector stem 3 + escalable con segmento BF / DF / haadf (opcional)

  • Cámaras ir para ver muestras y cámaras

  • Cámara de navegación de muestras NAV - Cam en la Cámara (opcional)

  • Medición integrada de la corriente del haz

Mesas de carga y muestras

Plataforma eléctrica flexible de 5 ejes:

  • Rango xy: 110 mm

  • Rango z: 65 mm

  • Rotación: 360 ° (infinito)

  • Rango de inclinación: - 15 ° A + 90 °

  • Repetibilidad xy: 3 μm

  • Altura máxima de la muestra: 85 mm de distancia del punto cocentral

  • Peso máximo de la muestra a 0 ° inclinación: 5 kg (incluido el portamuestras)

  • Tamaño máximo de la muestra: 110 mm al girar (también puede ser una muestra más grande, pero la rotación es limitada)

  • Rotación e inclinación del Centro de cálculo