Analizador de características de campo cercano vnf - 200 remoto

El analizador de características de campo cercano vnf - 200 vcsel remoto está diseñado especialmente para el análisis de las características de campo cercano de la superficie de vcsel, que tiene las características de alta velocidad de medición, alta resolución óptica y alta precisión de medición. El instrumento adopta la combinación de un sistema óptico microscópico y un sistema de imágenes, y optimiza el diseño de acuerdo con las características de vcsel para realizar el análisis de radiación de imágenes microscópicas de alta potencia de vcsel. A través de una sola medición, se obtuvieron datos de disposición de matriz bidimensional, detección de puntos malos y brillo de la superficie vcsel, y se obtuvo el tamaño de un solo punto. Equipado con un software de análisis especial, puede exportar informes de prueba que cumplan con los estándares. Adecuado para el análisis rápido y preciso de las características de la superficie de vcsel en la línea de producción y el laboratorio.