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Serie Regulus (microscopía electrónica de barrido de emisiones de campo de alta resolución)

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Los modelos existentes de la serie Regulus de la serie regulus, los modelos su8240, su8230, su8220 y su8010, se reintegran y derivan en Regulus 8240, Regulus 8230, Regulus 8220, re...

Detalles del producto



Regulus系列 (超高分辨场发射扫描电子显微镜)

Serie Regulus de microscopía electrónica de barrido de emisiones de campo de alta resolución


Regulus系列 (超高分辨场发射扫描电子显微镜)

"Colección regulus"

Los modelos existentes su8240, su8230, su8220 y su8010 se reintegran y se derivan en Regulus 8240, Regulus 8230, Regulus 8220, Regulus 8100.

La "serie regulus" hereda el rendimiento de observación y análisis de los modelos existentes y está equipada con una pistola electrónica de lanzamiento de campo frío de bajo ruido * 1 de la serie su8200, que puede obtener haces de alta estabilidad.

Al optimizar el sistema óptico electrónico, la resolución de Regulus 8240 / 8230 / 8220 aumentó a 0,9 nm en 1 Kv y la resolución de Regulus 8100 aumentó a 1,1 nm, lo que mejoró el rendimiento de observación en aproximadamente un 20% en comparación con los modelos existentes.

Además, para aprovechar al máximo la capacidad de resolución súper alta, la amplificación también ha aumentado de 1 millón de veces en el pasado a 2 millones de veces * 1.
Regulus 8240 / 8230 / 8220 / 8100 también mejora la función de soporte al usuario, a través de la cual los usuarios pueden entender más fácilmente los principios de detección de diversas señales complejas y ayudar a los usuarios a dar pleno juego al buen rendimiento del instrumento.

* 1

Solo Regulus 8240 / 8230 / 8220



Características

  • Cañón de electrones de lanzamiento de campo frío * 2 que sigue la "serie su8200"

  • El área estable de alto brillo que aparece después de Flashing del haz de electrones se utiliza como el rango de observación estable, lo que hace que el buen rendimiento de la observación y análisis de alta resolución en condiciones de baja tensión de aceleración sea bueno.

  • La resolución ha mejorado en aproximadamente un 20% en comparación con los modelos existentes.
    (Regulus8240/8230/8220: 0.9 nm/1 kV、Regulus8100: 1.1 nm/1 kV)

  • Se utiliza un almacén de muestras de pequeña contaminación y alto vacío.

  • Con un filtro de energía (opcional), se puede observar una variedad de contrastes de componentes * 2

Observación de alta resolución a muy baja tensión de aterrizaje

Regulus系列 (超高分辨场发射扫描电子显微镜)

Muestra: partículas de oro
Tensión de aterrizaje: 10 V

Observación de alta resolución

Regulus系列 (超高分辨场发射扫描电子显微镜)

Muestra: catalizador PT
Tensión de aceleración: 30 KV

Análisis edx de alta resolución a baja tensión de aceleración

Regulus系列 (超高分辨场发射扫描电子显微镜)

Muestra: bola SN
Tensión de aterrizaje: 1,5 KV

* 2Solo Regulus 8240 / 8230 / 8220


Regulus系列 (超高分辨场发射扫描电子显微镜)Regulus系列 (超高分辨场发射扫描电子显微镜)



Especificaciones

Regulus系列 (超高分辨场发射扫描电子显微镜)


* 3Observación en modo de desaceleración

* 4Multiplicaciones con negativos de 127 mm x 95 mm como referencia

Regulus SEM Layout

Regulus系列 (超高分辨场发射扫描电子显微镜)