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Dirección
Habitación 368, 302, 211 fute North road, zona piloto de libre comercio de China (shanghai)
Categorías de producto
Meipu ler Technology (shanghai) co., Ltd.
Qvwli606 imagero de medición 3D de alta precisión compuesto de interferencia de luz blanca
NegociableActualización en01/13
- modelo
- Naturaleza del fabricante
- Productores
- Categoría de producto
- Lugar de origen
Descripción general
El imagero de medición 3D de alta precisión compuesto de interferencia de luz blanca qvwli606 y el imagero de medición 3D de alta precisión compuesto de interferencia de luz blanca Sanfeng huick viseonwli pueden realizar análisis de forma de superficie / análisis de rugosidad tridimensional basados en datos 3D obtenidos por el sistema óptico wli. También se pueden realizar mediciones de tamaño y forma de Sección de la altura especificada a partir de datos 3D.
Detalles del producto
Qvwli606 imagero de medición 3D de alta precisión compuesto de interferencia de luz blancaEl imagero de medición 3D de alta precisión compuesto de interferencia de luz blanca de Sanfeng huick viseonwli puede realizar análisis de forma de superficie / análisis de rugosidad tridimensional basados es es en datos 3D obtenidos por el sistema óptico wli. También se pueden realizar mediciones de tamaño y forma de Sección de la altura especificada a partir de datos 3D.
Qvwli606 imagero de medición 3D de alta precisión compuesto de interferencia de luz blancaEl imagero de medición 3D de alta precisión compuesto de interferencia de luz blanca de Sanfeng huick viseonwli puede realizar análisis de forma de superficie / análisis de rugosidad tridimensional basados es es en datos 3D obtenidos por el sistema óptico wli. También se pueden realizar mediciones de tamaño y forma de Sección de la altura especificada a partir de datos 3D.
Características y ventajas del producto
HYPER QVEl wli está equipado con un sistema de medición 3D compuesto de alta precisión con Interferómetro de luz blanca.
El análisis de la forma de la superficie se puede realizar a partir de los datos 3D obtenidos por el sistema óptico wli./.Análisis de rugosidad tridimensional. También se pueden realizar mediciones de tamaño y forma de Sección de la altura especificada a partir de datos 3D.
Alineación de productos
modelo
Rango de medición:
Eje X máximo (mm) eje y máximo (mm) eje Z máximo (mm)
HiperQVWLI302 300 200 190
HiperQVWLI404 400 400 240
HiperQVWLI606 600 650 220
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