El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía edx2000a (medidor automático de espesor de película de microzona) de la industria electrónica 5g de precisión realiza un análisis rápido y preciso de las muestras de diversas formas simples y complejas, como planos, cóncavos y convexos, esquinas y superficies de arco, para satisfacer las necesidades de prueba de espesor de recubrimiento de microzona sin contacto en semiconductores, chips y pcb. A través del Movimiento tridimensional automatizado del eje x, el eje y y el eje z, el sistema de posicionamiento y protección láser doble.
Descripción del producto, parámetros técnicos y configuración
Medidor de espesor de recubrimiento edx2000a en la industria electrónica 5g de precisiónEl espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión energética (detector automático de espesor de película de microzona) realiza un análisis rápido, enfocado y preciso de muestras de diversas formas simples y complejas, como planos, cóncavos y convexos, esquinas y superficies de arco, para satisfacer las necesidades de prueba de espesor de recubrimiento de microzona sin contacto en semiconductores, chips y pcb. A través del Movimiento tridimensional automatizado del eje x, el eje y, el eje z, el sistema de posicionamiento y protección láser doble.


Área de aplicación
Industria de galvanoplastia, comunicaciones electrónicas, nueva energía aeroespacial, hardware y baño, equipos eléctricos
Fabricación de automóviles, materiales magnéticos, galvanoplastia de metales preciosos, universidades e institutos de investigación científica, etc.
Configuración de hardware súper alta
Medidor de espesor de recubrimiento edx2000a en la industria electrónica 5g de precisiónCon detector Fast - sdd, con una resolución de 129ev, se pueden analizar con precisión las señales características de cada elemento, y también se puede probar fácilmente para sustratos complejos y recubrimientos complejos de varias capas.
Con un tubo de rayos X de alta potencia, se puede garantizar bien la estabilidad de la salida y excitación de la señal y reducir la tasa de falla del instrumento.
La vinculación tridimensional de los ejes x, y Y Z automatizados de alta precisión completa con mayor precisión y rapidez el posicionamiento de pequeños puntos de prueba de perfiles (como arco, arco, hilo, esfera, etc.).
Aspectos destacados del diseño
El diseño de la foto superior se puede adaptar a las pruebas de más muestras pequeñas heterogéneas. En comparación con el camino óptico tradicional, la eficiencia de adquisición de señales se ha duplicado con creces. Cámara de alta precisión de enfoque variable, con sistema de corrección de distancia, para satisfacer las necesidades de prueba de productos pequeños, escalones, ranuras profundas y muestras de agujeros hundidos. Plataforma de desplazamiento automático programable, prueba multipunto micro - intensiva, lo que mejora en gran medida la eficiencia de la prueba. Viene con su propio sistema de corrección de datos.
Interfaz de software
La interfaz de software humanizada hace que la operación sea más conveniente.
Las notas chinas de la curva hacen que su operación sea más fácil de usar.
El monitoreo en tiempo real de las funciones de hardware del instrumento hace que su uso sea más seguro.
