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Dreshoko (langfang) Technology co., Ltd.

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    qianjuan@laserdl.cn

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    13451510854

  • Dirección

    Edificio a1, fase 1.1, parque industrial de fabricación inteligente, Condado autónomo de Dachang hui, ciudad de langfang, Provincia de Hebei

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Detector de potencia

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Descripción general
¿El probador de Potencia hace? ¿Como fuente de luz en estado estable, ¿ las lámparas de xenón se pueden utilizar en silicio cristalino, Perovskita y baterías laminadas? Pruebas IV de sus componentes correspondientes. El equipo está equipado principalmente con un sistema de control de fuente de luz, un sistema de control de fuente de alimentación, un sistema de prueba, un sistema de temperatura constante, una sonda de medición de temperatura infrarroja, una batería de referencia, una computadora, un monitor, etc.
Detalles del producto

¿El probador de Potencia hace? ¿Como fuente de luz en estado estable, ¿ las lámparas de xenón se pueden utilizar en silicio cristalino, Perovskita y baterías laminadas? Pruebas IV de sus componentes correspondientes. El equipo está equipado principalmente con un sistema de control de fuente de luz, un sistema de control de fuente de alimentación, un sistema de prueba, un sistema de temperatura constante, una sonda de medición de temperatura infrarroja, una batería de referencia, una computadora, un monitor, etc.

¿¿ el dispositivo puede realizar escaneos I - V y V - I estándar? ¿Estilo, con mppt (el más? Hay muchas tecnologías de prueba, como el rastreo de puntos de potencia y el I - T (voltaje fijo). ¿Se puede obtener la curva I - v, la curva P - v, la curva de irradiancia, la corriente de cortocircuito, el voltaje de circuito abierto, la Potencia máxima, el voltaje del punto de Potencia máxima, la corriente, la corriente del punto de tensión fija, la causa de llenado? , eficiencia de conversión, resistencia en serie, resistencia paralela y otros parámetros de prueba.

Parámetros del producto del probador de potencia

Criterios de adaptación IEC60904-9:2020
Tipo de fuente de luz Fuente de luz en Estado estable de la lámpara de xenón
Modo de enfriamiento Enfriamiento por aire personalizado
Vida útil de la fuente de luz > 1000h
Rango espectral 300-1200nm
Nivel de fuente de luz 1. grado de coincidencia espectral 0875 - 1125 A+
2. desigualdad de Irradiancia ≤ 2% Una
3. inestabilidad de la irradiancia ≤ 1% A+
Rango de Irradiancia 200W/㎡~1200W/㎡
Área de prueba 1.200 * 200 mmV;2.240 * 240 mmV;3.300 * 300 mmV;4.320 * 320mmV;5.Se pueden personalizar otros tamaños
Modo de prueba El modo de prueba en Estado estable se puede configurar libremente de 1s A iluminación continua.
Diseño multicanal Se pueden realizar pruebas simultáneas de 36 canales, y el número de canales se puede personalizar.
Tecnología de prueba Estándar con métodos de escaneo I - v, V - i, con mppt (rastreo de puntos de Potencia máxima), I - T (voltaje fijo) y otras tecnologías de prueba, se puede cambiar a través de software, mientras se integra el método de escaneo punto a punto (para satisfacer el método de escaneo más corto ≤ 0,2s paso a paso)
Prueba de la batería Policristalino, monocristalino, Topcon、BC、 Heterounión, CIGS、GaAs、CdTe、 Perovskita, superposición de perovskita, etc.
Elementos adicionales 1.Sistema Integrado de control de temperatura para realizar la prueba del coeficiente de temperatura
2.
IntegraciónELSistema de prueba para lograr la misma estación de trabajoIV/ELprueba
3.
personalizable0BBHerramientas de prueba, herramientas de adaptación de Perovskita
4.
IntegraciónIRCámara térmica infrarroja para realizar la prueba de manchas térmicas
5.
Guantera (mi cairana)


Criterios de adaptación

Estándar

IEC60904-9:2020

IEC60904-9:2020

Tipo de fuente de luz

Tipo de luz

Fuente de luz en Estado estable de la lámpara de xenón

Lámpara de Xenon

Modo de enfriamiento

Refrigeración

Enfriamiento por aire personalizado

Enfriamiento por aire forzado

Vida útil de la fuente de luz

Vida útil de la fuente de luz

> 1000h

> 1000h

Rango espectral

Longitud de onda del espectro

300-1200nm

300-1200nm

Nivel de fuente de luz

Clasificación de la fuente de luz

Coincidencia espectral 0875 - 1125 a

Desigualdad de irradiancia ≤ 2% a

Inestabilidad de la irradiancia ≤ 1% a

La coincidencia espectral es 0.875-1.125, clase A+

La no uniformidad de la irradiación es ≤2%, clase A

La inestabilidad de la irradiación es ≤1%, clase A+

Rango de Irradiancia

Intensidad de irradiación

200W/㎡~1200W/㎡

200W/㎡~1200W/㎡

Área de prueba

Área de iluminación

 200*200mm 240*240mm

 300*300mm 320*320mm

 se pueden personalizar otros tamaños

 200*200mm 240*240mm

 300*300mm 320*320mm

 Otro tamaño se puede personalizar

Modo de prueba

Modo de prueba

El modo de prueba en Estado estable se puede configurar libremente de 1s A iluminación continua.

En el modo de estado estacionario, se puede ajustar libremente desde 1s a iluminación continua. Además

Diseño multicanal

Diseño de pruebas multicanal

Se pueden realizar pruebas simultáneas de 36 canales, y el número de canales se puede personalizar.

36 canales se pueden probar simultáneamente, y el número de canales se puede personalizar

Tecnología de prueba

Tecnología de prueba

Estándar con métodos de escaneo I - v, V - i, con mppt (rastreo de puntos de Potencia máxima), I - T (voltaje fijo) y otras tecnologías de prueba, se puede cambiar a través de software, mientras se integra el método de escaneo punto a punto (para satisfacer el método de escaneo más corto ≤ 0,2s paso a paso)

Equipado con I-V, escaneo V-I, MPPT (seguimiento del punto de potencia máxima), I-t (voltaje constante) y otras tecnologías de prueba, todas estas tecnologías pueden ser conmutadas por software. También equipó escaneo punto a punto (cumple con el escaneo más corto en el paso de ≤0.2s

Prueba de la batería

Tipo de célula medible

Policristalino, monocristalino, Topcon、BC、 Heterounión, CIGS、GaAs、CdTe、 Perovskita, superposición de perovskita, etc.

Policristalino, monocristalino, TopCon, HJT, BC, CIGS, GaAs, CdTe y Perovskita

Elementos adicionales

Servicio opcional

 Sistema Integrado de control de temperatura para realizar la prueba del coeficiente de temperatura

 integrar el sistema de prueba el para realizar la prueba IV / el en la misma estación

 herramientas de prueba personalizables 0bb, herramientas de adaptación de Perovskita

 cámara térmica infrarroja ir integrada para realizar la prueba de manchas térmicas

 guantera (mi cairena)

 La cámara de temperatura se puede integrar

para lograr la medición de la temperatura

coeficiente

 El sistema de prueba EL puede lograr IV y EL

pruebas en la misma sección de producción

 Jigs para células 0BB y perovskita pueden ser

personalizado.

 Integrado con cámara de imágenes térmicas infrarrojas

para realizar pruebas de puntos de calor

 Caja de guantes (MIKROUNA)