Microscopía portátil de fuerza atómica nanomagnética

Microscopía de fuerza atómica con un área máxima de escaneo de 120 micras por 120 micras por 40 micras y una resolución máxima de 0,02 nm

Microscopía de fuerza atómica (afm)AFM) es una tecnología de escaneo de superficie de resolución nanométrica. El índice se refiere a una serie de técnicas de análisis de superficie no destructivas utilizadas a escala nanométrica. Su resolución es superior al límite de resolución del microscopio óptico.10³ Veces. La microscopía de fuerza atómica se utiliza comúnmente para obtener datos de propiedades mecánicas, funcionales y eléctricas a nivel nanométrico, así como para realizar investigaciones morfológicas (superficiales).

Según la Ley de hooker, cuando el microscopio de fuerza atómica acerca la punta del extremo del brazo en voladizo a la superficie de la muestra para el escaneo morfológico de la superficie, la fuerza de interacción entre la punta y la muestra cambiará el grado de flexión del brazo en voladizo. Detrás del cuerpo principal del equipo, un haz de luz emitido por un láser de diodos se centra y golpea la parte posterior del microacabador, y el punto reflejado también se desviará cuando el voladizo se dobla, y el detector registrará su trayectoria de movimiento en tiempo real para obtener información sobre la morfología de la superficie de la muestra.Microscopía portátil de fuerza atómica nanomagnética

Mapa1: diagrama esquemático de la estructura del principio de la microscopía de fuerza atómica

La encarnación de la facilidad de uso del microscopio de fuerza atómica:

El microscopio portátil ezafm / ezafm + esInstrumentos NanomagnéticosDiseñado para resolver el punto doloroso de que el microscopio de fuerza atómica tradicional es relativamente pesado. Tiene las siguientes ventajas:

- portátil y compacto:ezAFMEl área ocupada por todos los equipos del microscopio de fuerza atómica, incluido el funcionamiento de la computadora, es solo70 cm×30cmEs uno de los microscopios de fuerza atómica más portátiles existentes en el mercado.

- duradero y flexible:ezAFM/ezAFM+El microscopio portátil puede reemplazar fácilmente la cabeza de escaneo bajo la premisa de garantizar la seguridad. Se puede cambiar del modo de escaneo de alta resolución en solo unos minutos al modo de escaneo de gran alcance adecuado para superficies más ásperas.

- la operación de uso es extremadamente sencilla:ezAFM/ezAFM+La cabeza de escaneo del microscopio portátil está equipada con un "chip de alineación" especialmente diseñado para su uso con vigas de voladizo de sonda disponibles en el mercado. Este sistema único garantiza la alineación del láser y del Fotodetector cada vez, lo que hace que el reemplazo del haz en voladizo sea un proceso simple y sin frustración, sin pasar horas alineando el láser.

NMIMicroscopía de fuerza atómicaFunciones avanzadas de investigación y modos de escaneo:

El microscopio de fuerza atómica ezafm es unInstrumentos NanomagnéticosLa plataforma multifuncional desarrollada puede realizar una variedad de modos de escaneo para satisfacer las necesidades de investigación científica del escaneo morfológico de la superficie del usuario.

- imágenes de alta resolución: selección40x40x4 mEscanee la cabeza para lograr una resolución súper alta..0,02 nmNivelZResolución del eje), muy adecuado para observar detalles de grado atómico en muestras como el Grafeno de una sola capa.

- Análisis de muestras grandes y superficies ásperas: selección120x120x40 µmCabeza de escaneo para analizar muestras más grandes y ásperas, como textiles, pulpa y estructuras biológicas.

- portátilAFMEl microscopio contiene varios modos de escaneo(NMI)Microscopio de fuerza transversal,portátilNMIMicroscopio magnético, etc.(...):

1. el modo de contacto intermitente (contacto) del microscopio portátil de fuerza atómica ezafm se utiliza para la medición morfológica

2. microscopio de fuerza transversal nmi..LFM) para análisis de fricción

3. portátilNMIMicroscopio magnético..MFM) para imágenes de dominio magnético

4.力-Espectro de distancia..f-d) propiedades mecánicas utilizadas para analizar materiales

5. modo líquido opcional:ezAFMInstalado en el microscopio portátil de fuerza atómicaAQUA™ La cabeza de escaneo puede realizar un escaneo morfológico de superficie estable y de alta resolución de muestras biológicas en un ambiente líquido primario.

6. microscopio de fuerza de respuesta eléctrica, microscopio de fuerza de sonda kelvin, microscopio de fuerza atómica conductora, microscopio de resistencia a la difusión de escaneo(ezAFM+Nuevo modelo(...)

El comportamiento de resolución transversal del microscopio de fuerza atómica ezafm en diferentes modos:

Integración perfecta: guantera y microscopio invertido

- Integración de la guanteraAFM:NanomagnéticaEl microscopio portátil de fuerza atómica (afm) permite una función miniaturizada y telemática que facilita su integración en una guantera de atmósfera inerte, portátilAFMEl microscopio se puede utilizar para el análisis de muestras sensibles al aire.

- en combinación con el microscopio óptico:NanomagnéticaEl microscopio portátil de fuerza atómica puedeezAFM-ILMEl sistema se puede instalar directamente en un microscopio óptico invertido, lo que permite a los usuarios instalar nanómetros sin problemas.AFMLos datos están asociados con imágenes ópticas.

portátilAFMCasos de aplicación de Microscopía y grupos de usuarios:

El microscopio portátil de fuerza atómica nmi ha sido adoptado por muchas instituciones de investigación científica y laboratorios industriales de todo el mundo, acumulando una gran cantidad de casos de aplicación. Por ejemplo, enLa NASAEn el estudio de materiales espaciales, la microscopía de fuerza atómica nmi se utiliza para caracterizar la microestructura de los recubrimientos de protección térmica y su aplicación enMaloComportamiento evolutivo en el entorno. En el estudio de nuevos materiales energéticos de la Universidad de stanford, los investigadores utilizaron portátilesAFMMicroscópicoKPFMEl modo mide la distribución del potencial eléctrico en la superficie de las células solares de Perovskita y estudia el mecanismo de conversión fotoeléctrica y las razones de atenuación de la eficiencia.

Además de las instituciones de enseñanza superior e instituciones de investigación científica, el microscopio portátil de fuerza atómica nanomagnetics también es ampliamente utilizado en el campo de la investigación y el desarrollo industrial. Muchos fabricantes de semiconductores utilizan microscopía portátil de fuerza atómica ezafm para el control de calidad del producto y la optimización del proceso, mejorando el rendimiento del producto a través de la detección de defectos a nivel nanométrico. En la empresa de desarrollo de materiales, los investigadores utilizaron la función de imagen multimodo del microscopio portátil de fuerza atómica nmi para evaluar las propiedades de los materiales poliméricos, compuestos y recubrimientos funcionales recién desarrollados y acelerar el proceso de investigación y desarrollo de nuevos materiales.

NMIIndicadores de parámetros de la microscopía de fuerza atómica:

- autoajuste de volantes comerciales

- dos rangos de escaneo:120×120×40μm，40×40×4μm

- modo de contacto,Fuerza dinámica/.Modo de imagen de fase,Microscopio de fuerza lateralLFMMicroscopio magnéticoMFMpatrón

-65fm/√HZRuido de base

-2μmMicroscopía óptica integrada con resolución

- videocámara:8MPResolución de vídeo,390×230μmEl ángulo del campo de visión,3264×2448Píxeles,30fpsTasa de fotogramas

- 24 dígitosADC / DACAdquisición de datos,FPGA + DSPSistema de procesamiento de señales digitales basado en

- el tamaño de la muestra no supera10×10×5 mm(también se puede optar por una versión con tamaño ilimitado)

- interfaz USB

Actualización de actualización de software

NMIOpciones de imagen extendida del microscopio de fuerza atómica:

- litografía de arañazos

- microscopio de túnel de barridoezSTM(...)

- Unidad de almacenamiento de líquidos

- extensión - ezafm +: calefacción/.Mesa de enfriamiento..-30℃-250℃）

NMIAccesorios opcionales para microscopía de fuerza atómica:

- módulo de recepción de señales

- 40 milímetros de recorridoXYLocalizador de muestras eléctrico

- recorrido de 2 mmXYLocalizador manual de muestras

Microscopía portátil de fuerza atómica nanomagnética