Microscopio metalográfico SC - 50m

Microscopio metalográfico SC - 50m

Microscopio metalográfico TIC de interferencia diferencial de grado científico, microscopio metalográfico de detección de indentación de partículas conductoras de pantalla 2k

Muchos de los nuevos microscopios metalográficos de grado de investigación SC - 50m son pioneros en uno, desde su apariencia hasta su rendimiento, siguen de cerca la dirección del diseño internacional y se comprometen a expandir un nuevo patrón en el campo industrial. El SC - 50m se adhiere al concepto de diseño de marca de exploración continua y superación continua, proporcionando a los clientes soluciones de prueba industrial perfectas.

Diseño de la cabeza de Observación de la relación de División de luz de varios tramos

El nuevo tubo de Observación de la serie SC - 50m, diseñado con un sistema de imágenes de haz ancho, admite la observación de Campo Ultra ancho líder de 26,5 mm para traerle una nueva experiencia de campo de visión grande. El cilindro de Observación de tres ojos con bisagras de imagen positiva de dos marchas garantiza que la dirección de movimiento de la muestra coincida con la dirección que observó a través de las gafas, lo que hace que la operación sea más útil.

Tubo de Observación de tres ojos con bisagras de tres marchas, sobre la base de la luz de imagen utilizada para la observación binocular o la fotografía de tres ojos, se añade un 20% para la observación binocular y un 80% para la micrografía, lo que facilita a los usuarios comparar y observar la imagen bajo el espejo con la imagen de video al mismo tiempo;

Sistema de polarización

El sistema de polarización incluye un polarizador y un detector de polarización, que se puede utilizar para detectar la polarización. en las pruebas de semiconductores y pcb, se puede eliminar el desorden y los detalles son más claros. El detector de sesgo se divide en un detector de sesgo fijo y un detector de sesgo rotativo de 360 grados. El detector de polarización giratoria de 360 ° puede observar fácilmente el Estado de los especímenes bajo diferentes ángulos de polarización sin mover los especímenes. Se puede cargar un nuevo interferómetro diferencial desarrollado por shunyu sobre la base del sistema de polarización y establecer un sistema de contraste de interferencia diferencial normanrsky.

Sistema de contraste de interferencia diferencial normannsky

El recién desarrollado componente de interferencia diferencial u - dicr puede convertir las sutilezas que no se pueden detectar bajo la observación de campo brillante en diferencias de luz y oscuridad de alto contraste y mostrarlas en forma de relieve tridimensional, como partículas conductoras lcd, arañazos en la superficie de discos de precisión, etc.