Cortador de haz de tres iones Leica em TIC 3x

Tecnología de haz de tres iones

Los componentes del haz de tres iones son perpendiculares a la superficie lateral de la muestra, por lo que la muestra (fija al soporte de la muestra) no necesita hacer un movimiento oscilante para reducir el efecto de proyección / oclusión cuando se realiza el bombardeo del haz de iones, lo que a su vez garantiza una conducción térmica efectiva y reduce la deformación térmica de la muestra durante el tratamiento.
Tecnología
El haz de tres iones se converge en el punto medio del borde del deflector, formando una superficie de abanico de bombardeo de 100 ° que está expuesta en dirección transversal a la muestra por encima del deflector (el extremo superior de la muestra es aproximadamente 20 - 100 micras más alto que el deflector) hasta que el bombardeo llega a la zona objetivo Dentro de la muestra. La pistola de iones de nuevo diseño puede producir una tasa de molienda de haz de iones de 300 micras / h (si10 kv, 3,0 ma, 50 micras de altura de corte). El sistema único de tres haces de iones de Leica permite obtener excelentes secciones transversales de corte de alta calidad, y alta velocidad, superficie de corte ancha y profunda, lo que puede ahorrar mucho tiempo de trabajo. Con esta tecnología única se puede obtener una sección transversal de corte de alta calidad, con un tamaño de área de más de 4 × 1 mm.

Leica em TIC 3x - características innovadoras en diseño y operación

Alto rendimiento, mejorar la rentabilidad de los costos
Se puede obtener una sección transversal de corte de alta calidad, con un tamaño de área de más de 4 × 1 mm
Diseño de una variedad de mesas de productos para acomodar tres muestras a la vez
Alta velocidad de molienda iónica, material si 300 μm / h, altura de corte de 50 μm, que puede cumplir con los requisitos de alto rendimiento del laboratorio
El tamaño máximo de la muestra que se puede acomodar es de 50 × 50 × 10 mm
Las mesas de muestra disponibles son diversas, simples y fáciles de usar, de alta precisión.
Se puede completar de manera sencilla y precisa la calibración de la instalación de la muestra en la Plataforma de carga y la regulación de la posición relativa al deflector
Control simple a través de la pantalla táctil sin habilidades especiales de operación
El proceso de procesamiento de muestras se puede monitorear en tiempo real y se puede observar a través de una cámara estereoscópica o HD - TV.
Iluminación LED para facilitar la observación de muestras y la calibración de posición
Sistema de bomba de vacío incorporado, desacoplado, que ofrece una visión de observación sin vibraciones
Puede aumentar el contraste en la Sección de corte plana preparada, es decir, el grabado por haz de iones.
Cargar o descargar parámetros y programas a través de USB
Adecuado para casi cualquier muestra de material
Con una mesa de muestras congeladas, el deflector y la temperatura de la muestra se pueden bajar hasta - 150 ° C

Una variedad de portadores de muestras

Es adecuado para casi todo tipo de muestras de tamaño y para una amplia gama de usos. Si se utiliza un soporte de muestra, se puede completar la preparación mecánica previa (leica em txp) hasta el corte de haz de iones (leica em TIC 3x), así como la microscopía sem, y luego colocarla en la Caja de almacenamiento de muestras para pruebas posteriores.

Aumento del contraste

Después del corte del haz de iones, no es necesario quitar la muestra, y la misma plataforma de muestra también puede fortalecer el contraste de la muestra, lo que puede fortalecer la estructura topológica antes de las diferentes fases en la muestra (como el límite de grano).

Alta precisión

Ahora, la estructura detallada cada vez más pequeña de las muestras está recibiendo gradualmente atención. Y se ha vuelto fácil obtener secciones transversales a través del corte, como obtener una estructura de agujero tsvia muy pequeña. Todas las mesas de muestra están diseñadas para alcanzar una precisión de calibración de la posición de la muestra de ± 2 micras. No solo la precisión de control de la Mesa de muestras puede lograr un trabajo de calibración de posicionamiento objetivo tan preciso, sino que el sistema de observación también puede observar los detalles de la muestra de un tamaño mínimo de aproximadamente 3 micras para un posicionamiento objetivo preciso. Para ayudar a observar mejor las muestras a la hora de localizar, la fuente de luz anular LED de 4 segmentos o la iluminación concéntrica LED ayudan mucho a los usuarios a obtener imágenes claras de los espejos del cuerpo o de las cámaras HD - TV.
Debido a que la bomba de vacío está incorporada al interior del instrumento, ya no es necesario liberar un espacio separado. Gracias al diseño de desacoplamiento de la bomba de vacío, durante la preparación de la muestra, el campo de visión de observación no se verá perturbado por la vibración producida por la bomba de vacío.