Medición de obleas lei

Medición de obleas lei

Debido a la expansión del uso de componentes fotoeléctricos en el campo de la tecnología de telecomunicaciones y visualización, la tecnología de extensión se ha convertido en una tecnología clave en la producción de componentes. La Epitaxia se refiere al proceso de depósito de una capa de material semiconductor muy delgada en la superficie de un sustrato monocristalino. Cada capa cristalina se llama capa epitaxial.

Medición

Rugosidad de la superficie
Para clientes y proveedores, la textura de la superficie es un parámetro extremadamente importante para determinar la calidad de los semiconductores epitaxiales. Para los conductores actuales, debido a que los circuitos a imprimir en las pastillas de silicio son cada vez más pequeños, el rango de tolerancia a la rugosidad se vuelve más estrecho. La rugosidad de la superficie del chip lei se especifica en el nivel nanométrico, por lo que esto requiere el uso de un sistema muy ruidoso y de alta resolución para medir el chip lei.