Espectro de brillo leco

Espectro de brillo lecoCombinando la fuente de iones de descarga de brillo y el analizador de masa de alta resolución de doble enfoque, se puede analizar cualitativamente y cuantitativamente casi todos los elementos de las muestras sólidas, incluidos c, n y o, y se analiza directa y rápidamente el contenido de revistas de muestras de alta pureza y la composición de los elementos del material de recubrimiento.Herramientas.

Espectro de brillo lecoDefinir nuevos estándares para el análisis directo de materiales sólidos de alta pureza de grado medio y alto. Al minimizar las operaciones de calibración y preparación de muestras, se puede aumentar la capacidad de procesamiento de muestras y alcanzar un límite de detección ultra bajo, lo que hace que GD - MS sea adecuado para aplicaciones de análisis de metales enteros y análisis profundo.
La cerámica y varios otros polvos no conductores se analizan utilizando el método de electrodos secundarios, proporcionando así el mismo nivel de sensibilidad y calidad de datos. Esto hace que GD - ms se convierta en un método estándar confiable para el análisis de metales traza.
Casi todos los elementos presentes en muestras sólidas se pueden detectar y cuantificar de manera rutinaria: muchos elementos tienen un contenido inferior al nivel de la tasa por mil millones (ppb).
Batería de descarga de brillo de alta velocidad de flujo pulsado de micras
Fuente de iones de alta sensibilidad con modo de descarga de pulso
La tasa de pulverización ampliamente ajustable es adecuada para aplicaciones de análisis integral rápido y análisis profundo avanzado.
Análisis de polvo de alúmina con electrodos secundarios
Espectrómetro de masas de doble enfoque
La alta tasa de transmisión de iones y el bajo fondo hacen que la relación señal - ruido alcance el límite de detección de nivel subpppb.
La resolución de alta calidad puede proporcionar un alto nivel de selectividad y precisión de zui: un requisito previo para los resultados del análisis de sí *.
Sistema de detección automática de doce órdenes de magnitud
Determinación de sustratos y ultratrazas en un análisis, detector totalmente automático que cubre un rango lineal dinámico de 12 órdenes de magnitud
Determinación cuantitativa directa del elemento de matriz IBR (relación de haz de iones)
Paquetes de software eficientes y fáciles de usar
Todos los parámetros están controlados por computadora
Ajuste totalmente automático, análisis y evaluación de datos
Conexión automática LIMS
Control remoto y diagnóstico
de Windows 7
El tiempo de rotación de la muestra suele ser inferior a 10 minutos.
Capaz de determinar elementos de matriz a ultratrazas en un análisis
Análisis en profundidad del espesor de la capa que cubre cientos de micras a un Nanómetro
El efecto de matriz reducida facilita la cuantificación directa