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Habitación 207, 939 Jinqiao road, Pudong New area, Shanghai
Shanghai Tuzhe Electronic Equipment Co., Ltd
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Generador de oleadas de rayos de baja tensión a nivel de chipEs un dispositivo de prueba diseñado especialmente para circuitos integrados (ic) o pequeños componentes electrónicos para simular pulsos de oleada de baja tensión causados por rayos, interruptores de alimentación instantáneos u otras interferencias electromagnéticas (emi) para evaluar la resistencia a las oleadas del CHIP y la fiabilidad del Circuito de protección. Su objetivo central es simular posibles choques instantáneos de alta tensión (como pulsos cortos de kv) en aplicaciones prácticas para chips en entornos de trabajo de baja tensión (como 5v, 12v, 24v, etc.) y verificar su tolerancia y umbral de falla.
Áreas de aplicación:
Equipos civiles (electrodomésticos blancos, equipos av, etc.);
Equipos industriales (maquinaria industrial, equipos de control, equipos de oficina, dispositivos médicos, equipos de juegos, equipos de prueba, etc.);
Componentes electrónicos (placas de circuito de control y componentes electrónicos en placas de circuito, etc.);
Equipos de comunicación (líneas de alimentación, líneas de transmisión, etc.);
IEC 61000-4-5EN 61000-4-5GB / T 17626.5 yNormas de productos y normas empresariales pertinentes