Microscopio de fuerza atómica Júpiter Discovery

Innovación Tecnología afm, rendimiento de detección de muestras grandes

lImágenes de ultra alta resolución

lImágenes de alto rendimiento

Optimizar el flujo de trabajo y mejorar la experiencia del usuario

lSonda preinstalada

lDoble vista superior y lateral Sistema de transferencia

lInteligente Ffm - modo topográfico

Accesorios ricos y una fuerte expansión

lVarios accesorios son opcionales

lAmpliar más funciones

Concepto de diseño innovadorMejora significativa de la resolución vertical y horizontal

lAdoptar un diseño estructural optimizadoMejorar efectivamente la rigidez del sistema y reducir el impacto de la deriva térmica, y el nivel de ruido es inferior a 25 pm.

lBien equipado La tecnología de detección de posición LVDT reduce significativamente el ruido del sistema y mantiene mediciones estables de alta resolución a largo plazo, reduciendo las necesidades de calibración repetida.

Obtener una mayor eficiencia de prueba

lDiseño con ancho de banda electrónico y mecánico optimizadoLa velocidad de escaneo ha mejorado significativamente en comparación con el microscopio de fuerza atómica de muestras grandes convencionales, manteniendo al mismo tiempo la compatibilidad con varios modos de trabajo y accesorios.

lLa función de escaneo de alta velocidad no solo acorta el tiempo de adquisición de imágenesTambién se han ampliado los métodos de aplicación. Esta función admite la detección de muestras a gran escala manteniendo una alta resolución y puede lograr una caracterización completa de muestras más grandes a través de la tecnología de empalme multiregional.

Simplificación del flujo de trabajo

lDiseño con sonda preinstaladaSimplificar el proceso de reemplazo de la sonda.

lLa configuración totalmente automatizada reduce drásticamente los pasos de operación manual, haga clic con el ratón para completar la optimización de parámetros.

lEquipado con un sistema de observación óptica multiánguloIncluye dos sistemas de transferencia, la observación lateral y la visión superior de alta definición, que ayudan a localizar rápidamente el área de detección.

Fácil de operar, alta facilidad de uso

lFlujo de trabajo inteligenteOptimizar automáticamente la configuración de parámetros y la adquisición de datos

lTodos los modos de operación siguen un concepto de diseño unificado y guían a los usuarios a completar la configuración a través de procesos automatizados. El sistema realiza el procesamiento automatizado de todo el proceso dentro de la viabilidad técnica, para los enlaces que deben intervenir manualmente.Por su parte, proporciona una asistencia operativa detallada para garantizar que el operador complete la operación sin problemas.

Algoritmo inteligente autopilot para mejorar la eficiencia operativa

lLa función autopolit se centra en optimizar el modo de golpeteo ligero y las imágenes básicas del nuevo modo ffm - topográfico, y otros modos avanzados también se simplifican enormemente. Incluso los modos más avanzados, como la microscopía de fuerza atómica conductora (cafm), la microscopía de sonda Kelvin (kpfm), la microscopía piezoeléctrica (pfm) y la microscopía de condensadores de escaneo (scm), ahora se pueden usar fácilmente sin mucha experiencia.

Automatización del proceso de detección repetitiva multipunto

lMódulo de prueba automatizado, que admite a los usuarios configurar esquemas de escaneo diferenciados en la posición de coordenadas de muestra preestablecida, adecuado para el campo de la detección de calidad industrial(QA/QC), Incluye el monitoreo de calidad del proceso de depósito / grabado de la superficie de la obleas y el análisis de las características morfológicas de la superficie. Al mismo tiempo, admite la automatización de procesos experimentales repetitivos en escenarios de investigación científica, y con la tecnología de escaneo de alta velocidad, se puede ampliar a la detección sistemática de muestras de gran tamaño.