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¿¿ qué?Shanghai lunjie Electromechanical Instrument co., Ltd.
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JB-300WTipo de máquina de prueba de impacto controlada por microcomputadoras
■ descripción del producto:JB-300WLa máquina de prueba de impacto controlada por microcomputadoras tipo péndulo se utiliza para determinar el rendimiento de los materiales metálicos para resistir el impacto bajo carga dinámica, juzgando así el Estado de calidad de los materiales bajo carga dinámica. Esta máquina es una máquina de prueba de control semiautomático, con una operación simple y alta eficiencia de trabajo, y puede utilizar la energía residual después de romper la muestra para prepararse automáticamente para el próximo experimento, especialmente para laboratorios que realizan experimentos de impacto continuos y un gran número de industrias metalúrgicas y de fabricación de maquinaria que realizan pruebas de impacto.
■JB-300WLa máquina de prueba de impacto de tipo cumple con la norma nacional.GB/T3808-2002"Inspección de la máquina de prueba de impacto de péndulo", de acuerdo con la norma nacionalGB/T229-1994El "método de prueba de impacto de brecha de relación inferior al metal" realiza pruebas de impacto en materiales metálicos.
■ características de rendimiento:La máquina de prueba es una máquina de prueba controlada por microcomputadoras, que detecta la pérdida de energía cero y el ciclo de oscilación de la máquina principal, y también puede mostrar el almacenamiento e impresión de los resultados de la prueba. La máquina de prueba es fácil de operar y eficiente en el trabajo, y utiliza la energía residual después de romper la muestra para levantar automáticamente el péndulo para prepararse para la próxima prueba de impacto, por lo que su superioridad se puede reflejar mejor en laboratorios que realizan pruebas de impacto continuas y en un gran número de fábricas metalúrgicas y mecánicas que realizan pruebas de impacto.
■ principales indicadores técnicos:
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Modelo de producto |
JB-300W |
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Energía de impacto |
150J、300J |
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ángulo de elevación del péndulo |
150 ° |
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Distancia entre el centro del eje basculante y el punto de impacto |
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Velocidad de impacto |
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Tramo de soporte de la muestra |
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Redondeado de la mandíbula |
R1 |
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Redondeado del borde del cuchillo de impacto |
R2 |
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Espesor del cuchillo de impacto |
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Modo de refrigeración |
Refrigeración de semiconductores |
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Capacidad de la Caja de muestra |
20Uno |
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Rango de baja temperatura |
0- - |
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Precisión del control de temperatura |
Fluctuación± 1,5 ° C |
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Fuente de alimentación |
380v ± 10% 50hz |
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Condiciones ambientales |
No hay medio corrosivo, no hay vibraciones y no hay fuerte interferencia electromagnética en el entorno circundante. |