Difractómetro de rayos X de alta calidad

Detector de matriz unidimensional de alto rendimiento

El detector de matriz unidimensional hace pleno uso de la tecnología de conteo de fotones híbridos, sin ruido, adquisición rápida de datos, más de diez veces la velocidad del detector de centelleo, excelente resolución energética, puede eliminar eficazmente el efecto de fluorescencia. El detector del canal 640 tiene un tiempo de lectura más rápido, formando una mejor relación señal - ruido. El sistema de control del detector con control electrónico de puerta y activación externa completa efectivamente la sincronización del sistema.

Difractómetro de rayos XCaracterísticas del instrumento:

1. Tiene derechos de propiedad intelectual independientes y obtiene la tecnología de control del controlador programable (plc) inventada por el estado;

2. Fácil de operar, sistema de adquisición de un clic;

3. Diseño modular, plug - and - Play de accesorios de instrumentos, sin necesidad de calibración;

4. Monitoreo en línea en tiempo real con pantalla táctil para mostrar el Estado del instrumento;

5. Dispositivo electrónico de bloqueo de puertas de plomo, doble protección para garantizar la seguridad de los usuarios;

6. El generador de rayos X de alta frecuencia y alta tensión tiene un rendimiento estable y confiable;

7. * La unidad de control de registro tiene una fuerte capacidad anti - perturbación.

Difractómetro de rayos XEs el nuevo miembro de la serie td, equipado con detectores de matriz unidimensional de alta velocidad (mythen2r) o detectores sdd, que integran análisis rápidos, operación conveniente y seguridad del usuario, y la arquitectura de hardware modular y los sistemas de software a medida para los clientes logran una combinación profesional.

Herencia

El TD - 3700 está equipado con un detector de matriz de alto rendimiento con todas las ventajas del difractómetro de rayos X TD - 3500. En comparación con el detector de centelleo o el detector proporcional, se puede aumentar la intensidad de cálculo de la difracción en más de decenas de veces, y se puede obtener un mapa de difracción completo de alta sensibilidad, alta resolución y mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto.

Nuevas características

El TD - 3700 también puede soportar el método de escaneo de datos transmitido, además del método de escaneo de datos de difracción convencional. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, que es adecuado para el análisis estructural y otros campos, y la señal de difracción del modo de difracción es fuerte, lo que es más adecuado para la identificación convencional de fase física en laboratorio. Además, en el modo de transmisión, la muestra de polvo puede ser traza, adecuada para la preparación de muestras con una cantidad relativamente pequeña de muestras y que no cumplan con los requisitos de preparación de muestras del modo de difracción para la adquisición de datos.

Exhibición del mapa de análisis de muestras