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Correo electrónico
sales@bestyiqi.com
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Teléfono
18896733756
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Dirección
Habitación 701, edificio 5, Datong road, zona de alta tecnología de Suzhou
Categorías de producto
- sensor
- Precio del espectrómetro portátil
- Microscopio de medición
- Espectrómetro portátil del Olimpo
- Espectrómetro portátil del Olimpo
- Medidor de rugosidad
- Analizador de aleación portátil del Olimpo
- Detector de redondez / Columna
- Analizador de metales preciosos
- Medidor de imagen
- Analizador de aleación portátil del Olimpo
Pasteur instruments (suzhou) co., Ltd.
Imagero de medición 3D de alta precisión compuesto con interferencia de luz blanca
NegociableActualización en01/05
- modelo
- Naturaleza del fabricante
- Productores
- Categoría de producto
- Lugar de origen
Descripción general
El imagero de medición 3D de alta precisión con interferencia de luz blanca, el imagero de medición 3D de alta precisión con interferencia de luz blanca, el imagero de medición 3D de alta precisión con interferencia de luz blanca, el imagero de medición 3D de alta precisión con interferencia de luz blanca hyperqvwli 606, se puede analizar la forma de la superficie / análisis de rugosidad tridimensional de acuerdo con los datos 3D obtenidos por el sistema óptico wli. También se pueden realizar mediciones de tamaño y forma de Sección de la altura especificada a partir de datos 3D.
Detalles del producto
,Imagero de medición 3D de alta precisión compuesto con interferencia de luz blancaSanfeng huick viseonwliImagero de medición 3D de alta precisión compuesto con interferencia de luz blanca,HyperQVWLI 606Imagero de medición 3D de alta precisión compuesto con interferencia de luz blancaSe puede realizar un análisis de forma de superficie / análisis de rugosidad tridimensional basado en los datos 3D obtenidos por el sistema óptico wli. También se pueden realizar mediciones de tamaño y forma de Sección de la altura especificada a partir de datos 3D.
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Características y ventajas del producto
HYPER QVEl wli está equipado con un sistema de medición 3D compuesto de alta precisión con Interferómetro de luz blanca.
El análisis de la forma de la superficie se puede realizar a partir de los datos 3D obtenidos por el sistema óptico wli./.Análisis de rugosidad tridimensional. También se pueden realizar mediciones de tamaño y forma de Sección de la altura especificada a partir de datos 3D.
Alineación de productos
modelo
Rango de medición:
Eje X máximo (mm) eje y máximo (mm) eje Z máximo (mm)
HiperQVWLI302 300 200 190
HiperQVWLI404 400 400 240
HiperQVWLI606 600 650 220
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