Sistema PFIB láser Helios 5

Herramienta láser FIB SEM para secciones transversales a escala milimétrica de alto rendimiento y caracterización 3D con resolución nanométrica

El Thermo ScientificSistema PFIB láser Helios 5combina la mejor columna de microscopía electrónica de barrido (SEM) monocromada Elstar con un haz iónico enfocado en plasma (PFIB) y un láser de femtosegundos para producir una herramienta de imagen y análisis de alta resolución conen el sitiocapacidad de ablación, ofreciendo tasas de eliminación de material sin precedentes para una caracterización rápida a escala de milímetros a resolución de nanómetro.

Características clave

Eliminación rápida del material

Secciones transversales a escala milimétrica con una eliminación de material hasta 15.000 veces más rápida que un haz de iones enfocado en galio típico.

Colocación precisa y repetible del corte

El mismo punto coincidente para los 3 haces (SEM/PFIB/láser) permite la colocación precisa y repetible del corte y la caracterización 3D.

Procesamiento de alto rendimiento de materiales desafiantes

Incluye muestras no conductoras o sensibles al haz iónico.

Comparte todas las capacidades de la plataforma Helios 5 PFIB

Preparación de muestras TEM y APT sin galio de alta calidad y capacidades de imagen de alta resolución.

Análisis estadísticamente relevante de datos subterráneos y 3D

Obtenga datos para volúmenes mucho mayores en menos tiempo.

Caracterización rápida de las características subterráneas profundas

Extracción de láminas o trozos de TEM subterráneos para análisis 3D.

Caracterización rápida y sencilla de muestras sensibles al aire

No es necesario transferir muestras entre diferentes instrumentos para imágenes y secciones transversales.