Núcleo del imagero térmico FT y sistema de prueba ir FPA

Configuración FT - S del sistema de prueba Ft (medición de parámetros espectrales)

La matriz de plano focal infrarrojo es el componente central más importante del sistema de imágenes térmicas. El diseño del circuito detector (núcleo) es una parte clave del sistema de imágenes térmicas. Debido a que los parámetros de la matriz de plano focal infrarrojo determinan los límites de rendimiento del sistema de imágenes térmicas, los profesionales de la tecnología de plano focal infrarrojo o la tecnología de imágenes térmicas deben comprender con precisión los parámetros de la matriz de plano focal infrarrojo. Por lo tanto, el equipo de medición para medir el rendimiento de la matriz de plano focal infrarrojo es la clave para el desarrollo de un sistema de imágenes térmicas infrarrojas.

Ft es un sistema de prueba completo, que produce infrarrojos que controlan con precisión la distribución espacio - temporal y irradian al plano de entrada del plano focal infrarrojo para controlar el plano focal infrarrojo medido; Finalmente, se realiza un análisis semiautomático de las señales de salida necesarias para caracterizar la matriz de plano focal infrarrojo medida (o el núcleo del imagero térmico).

El sistema es capaz de medir todos los parámetros importantes (ruido / sensibilidad, calidad de imagen y parámetros espectrales) del núcleo de la Cámara térmica y la matriz de plano focal infrarrojo. Se pueden probar detectores de diferentes bandas espectrales (lwir o mwir), enfriados o no enfriados. El sistema Ft se puede proporcionar en una serie de versiones y optimizar el núcleo de imágenes térmicas y la matriz de plano focal infrarrojo para diferentes rangos de prueba, y también se puede elegir una versión súper extendida que pueda probar el imagero térmico completo.

El sistema de medición Ft es un sistema modular que se puede configurar de manera conveniente y rápida en tres estaciones de trabajo de medición semiindependientes: FT - n, FT - I y FT - S.

1. FT - N - medición del ruido y los parámetros de respuesta;

2. FT - I - Medición de parámetros de calidad de imagen

3. FT - S - Medición de parámetros espectrales.