Espectro de emisiones xes

El espectro de emisión xes es una importante tecnología analítica utilizada principalmente para estudiar la estructura electrónica y las propiedades químicas de los materiales. Los rayos X duros tienen una alta energía y pueden profundizar en el interior de la muestra, convirtiendo a xes en una poderosa herramienta para detectar información profunda de los materiales.

Durante mucho tiempo, el espectro de estructura fina de absorción de rayos X (xafs) solo se puede probar en varias fuentes de radiación sincrotrón. Debido al tiempo limitado de la máquina de fuente de luz, no puede satisfacer las necesidades de prueba de muchos investigadores científicos. En los últimos años, los datos de xafs se han convertido en el "estándar" de las revistas de primer nivel, lo que ha llevado a que cada vez más grupos de investigación necesiten pruebas de xafs. Siguiendo la idea de permitir que xafs entre en cada laboratorio, el Instituto de física de alta energía de la Academia China de Ciencias y la Universidad de Ciencia y tecnología de China lanzaron conjuntamente un nuevo espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (rapidxafs).

Espectro de emisiones xesVentajas del producto:

Tiene las siguientes características:

• Productos de flujo luminoso máximo

  El flujo de fotones es superior a 1000000 fotones / segundo / Ev - 400000 fotones / segundo / ev, y la Eficiencia espectral es varias veces mayor que la de otros productos; Obtener la misma calidad de datos que la Radiación Sincrotrón

• Excelente estabilidad

  La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1%, y la deriva de energía de recolección repetida es inferior a 50 mev.

• Límite de detección inferior al 1%

  El alto flujo de luz, la excelente optimización del Camino óptico y la estabilidad de la fuente de luz garantizan que los datos exafs de alta calidad todavía se obtengan cuando el contenido de los elementos medidos sea superior al 1%.

• Estructura circular de doble Roland

  El avance utiliza una estructura circular de doble Roland para caracterizar simultáneamente la estructura local de dos elementos en el caso de una fuente de rayos X.
  

La estructura fina de absorción de rayos X (xafs) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales y es ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología.

Espectro de emisiones xesLas principales ventajas son las siguientes:

1. No depende de la estructura ordenada a largo plazo, se puede utilizar para la investigación de materiales amorfos;

2. Sin la interferencia de otros elementos, se pueden estudiar diferentes elementos del mismo material por separado;

3. No hay daños en las muestras, se prueban en el entorno atmosférico y se pueden realizar pruebas in situ;

4. No afectado por el Estado de la muestra, se pueden medir sólidos (cristales, polvos), líquidos (soluciones, Estados fundidos) y gases, etc.;

5. Se pueden obtener parámetros estructurales como el tipo de átomos de coordinación, el número de coordinación y el espaciamiento atómico, y la precisión del espaciamiento atómico puede alcanzar 0,01a.

Diseño de la estructura circular de doble Roland

Comparable a la resolución de Radiación Sincrotrón

Las pruebas xes pueden distinguir n, c, o

El espectro xafs consta principalmente de dos partes: la estructura cercana a la absorción de rayos X (xanes) y la estructura fina de absorción de rayos X extendida (exafs). El rango de energía del exafs es de aproximadamente 50 EV a 1000 EV detrás del borde de absorción, que proviene del resultado del efecto de dispersión única de un solo electrón entre los átomos circundantes y los átomos de absorción por fotoelectrones internos estimulados por rayos X. Xanes contiene un rango de unos 10 EV antes del borde de absorción a unos 50 EV después del borde de absorción, que proviene principalmente del efecto de dispersión múltiple de un solo electrón entre los átomos circundantes y los átomos de absorción estimulados por rayos X.

Elementos medibles: la parte verde puede medir el borde K y la parte amarilla puede medir el borde l

Aplicación xafs:

• Catálisis industrial

• Materiales de almacenamiento de energía

• Nanomateriales

• Toxicología Ambiental

• Análisis también cualitativo

• Análisis de elementos pesados