Microscopio de examen de componentes electrónicos

NegociableActualización en05/06

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Naturaleza del fabricante: Productores

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Descripción general

Microscopio de examen de componentes electrónicos $r $n ampliación: óptica 800 veces ampliación, electrónica 8000 veces ampliación $r $n píxeles: 2 millones de píxeles sin compresión $r $n resolución de salida: 1920 * 1080p $r $n método de salida: HDMI pantalla de alta definición $r $n función: 2k imagen de alta definición fotografía / medición / grabación / reproducción / almacenamiento, datos de salida, preestablecimiento de plantilla, importación de plantilla cad. ...... Área de uso $r $n: industria de chips semiconductores, análisis de superficies metálicas, observación de toda la placa de chips

Detalles del producto

Microscopio de examen de componentes electrónicosAmpliación: ampliación óptica 800 veces, ampliación electrónica 8000 veces

Píxeles: 2 millones de píxeles sin compresión

Resolución de salida: 1920 * 1080p

Modo de salida: HDMI HD conectado a la pantalla

Funciones: fotografía de imágenes de alta definición de 2k / medición / grabación / reproducción / ahorro, exportación de datos, preestablecimiento de plantillas, importación de plantillas cad. ......

Áreas de uso: industria de chips semiconductores, análisis de superficies metálicas, observación de toda la placa de chips

El microscopio metalográfico positivo xjp - 302 / 302bd es adecuado para la observación microscópica de objetos opacos. Con un excelente sistema óptico infinitamente lejano y un concepto de diseño funcional modular, se puede actualizar fácilmente el sistema, realizar funciones como la observación de luz polarizada y la observación de campo oscuro, y un cuerpo compacto y estable de alta rigidez refleja plenamente los requisitos antivibración de la micromanipulación. El diseño ideal que cumple con los requisitos de ergonomía hace que la operación sea más conveniente, cómoda y más amplia. Es adecuado para la observación microscópica de la estructura metalográfica y la morfología de la superficie, y es un instrumento para la investigación de metales, minerología e ingeniería de precisión.

电子元件检查显微镜

Microscopio de examen de componentes electrónicosEspecificaciones técnicas:

Gafas oculares	Gran visión wf10x (número de campos de visión Φ22 mm)
Lente acromática de campo plano infinitamente lejano	XJP-302 (con lente de campo brillante)		PL l5x / 0,12 distancia de trabajo: 26,1 mm
			PL l10x / 0,25 distancia de trabajo: 20,2 mm
			PL l20x / 0,40 distancia de trabajo: 8,80 mm
			PL l50x / 0,70 distancia de trabajo: 3,68 mm
			PL l80x / 0,80 distancia de trabajo: 1,25 mm
	XJP-302BD (con lente de campo claro / oscuro)		PL l5x / 0,12 BD distancia de trabajo: 8,05 mm
			PL l10x / 0,25 BD distancia de trabajo: 7,86 mm
			PL l20x / 0,40 BD distancia de trabajo: 7,23 mm
			PL l50x / 0,70 BD distancia de trabajo: 1,75 mm
			PL l80x / 0,80 BD distancia de trabajo: 0,80 mm
Tubo ocular	Las gafas de tres ojos están inclinadas a 30 ° C y pueden ser 100% fotogénicas.
Sistema de iluminación por caída	XJP-302	Lámpara halógena 12v30w, brillo ajustable
	XJP-302BD	Lámpara halógena 12v50w, brillo ajustable
	Barra de luz de campo de visión incorporada, barra de luz de apertura, dispositivo de conversión de filtros (amarillo, azul, verde, vidrio esmerilado), detector de sesgo push - pull y polarizador
Mecanismo de enfoque	Enfoque concéntrico de preocupación gruesa, con dispositivo de bloqueo y límite, valor de la cuadrícula de preocupación: 0,7 micras
transformador	Cinco agujeros (posicionamiento interior de la bola introvertida)
Plataforma de carga	Plataforma de carga mecánica, tamaño exterior: 280mm X 270mm, rango de movimiento: horizontal (x) 204 mm, longitudinal (y) 204 mm

Opciones:

nombre	Categoría / parámetros técnicos		Nota
Gafas oculares	División 10x (Φ22 mm), valor de celosía 0,1 mm / celosía
Objetivo	PL l40x / 0,60 distancia de trabajo: 3,98	Campo de visión brillante
	PL l60x / 0,70 distancia de trabajo 2,08 mm
	PL l100x (seco) / 0,85 distancia de trabajo 0,4 mm
	PL l40x / 0,60 BD distancia de trabajo 3,0 mm	Campos de visión claros y oscuros
	PL l60x / 0,70 BD distancia de trabajo 1,65 mm
	PL l100x / 0,85 BD distancia de trabajo 0,4 mm

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