LAwaveEs un instrumento de medición de precisión basado en el principio de ondas acústicas láser para medir el recubrimiento y la superficie.
Área de aplicación:
Modo duro, material semiconductor, película de polímero delgada, película de sensor, película de pulverización de plasma
Datos de medición:
Medir el módulo de elasticidad de los siguientes materiales
Moldes duros y superduros, películas metálicas, películas de polímeros delgados, bajasKPelícula de sol
Módulo de elasticidad de grandes cantidades de materiales
Espesor de la película
Grado de daño de los materiales semiconductores
Características: detección sin daños
Se puede detectar ultraduro y ultradelgado.
Detectar toda la superficie, no un punto
Amplia gama de películas medibles: de nanómetros a milímetros
Rápido y confiable
Las muestras no requieren un tratamiento especial
No es necesario corregir
Función:
Depósito de película delgada, pulverización de recubrimiento y control de procesos en la superficie de materiales terminados
Medición precisa de los parámetros mecánicos de las películas y recubrimientos
Evaluación no destructiva de la microestructura en el material de membrana (por ejemplo, Estado de unión, permeabilidad y composición)
Gradientes de elasticidad y densidad perpendiculares a la superficie
