E4980bl Estados Unidos keysight es el puente eléctrico alemán LCR

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E4980bl Estados Unidos keysight es el puente eléctrico alemán LCR

E4980bl 20hz a 300 kHz con resistencia de corriente continua (dcr)

E4980bl de 20hz a 300khz, con función de medición de resistencia de corriente continua (dcr) e interfaz del procesador

E4980bl 20hz a 500 kHz con resistencia de corriente continua (dcr)

E4980bl 20hz a 1 MHz con resistencia DC (dcr)

E4980b 20hz a 2 MHz con resistencia DC (dcr)

Frecuencia de 20 Hz a 300 kHz / 500 kHz / 1 mhz, con resolución de cuatro dígitos en cualquier rango

Precisión básica del 0,05%, excelente repetibilidad de la medición en condiciones de baja y alta resistencia

Raíz cuadrada media de 100 microvoltios a 2 voltios; Señal de prueba variable de 1 microan a 20 ma

Sesgo DC 1,5 / 2 V

Control automático de nivel

Resistencia DC

Escaneo de medición de la lista de 201 puntos

Conexión multifuncional a PC (lan, USB y gpib)

Escalabilidad de frecuencia

El medidor LCR de precisión e4980bl de Deutsche Technology es un medidor LCR estándar de la industria, que integra precisión, velocidad y versatilidad, y es adecuado para una amplia gama de mediciones de componentes. Su esquema opcional de actualización de frecuencia ofrece a los usuarios fuertes opciones de inversión y programas de mejora de la utilización de activos.

La base e4980bl es adecuada para pruebas convencionales de investigación y desarrollo y fabricación de componentes y materiales, y puede proporcionar una velocidad de medición rápida y un excelente rendimiento en un rango de baja y alta resistencia.

Las funciones multifuncionales de conexión a PC lan, USB y gpib pueden mejorar su eficiencia de diseño y Prueba. En cuanto a la medición de materiales, el e4980bl se utiliza en combinación con el kit de medición de materiales Söder n1500a - 005 / 006, lo que simplifica todo el proceso, desde la configuración de la plantilla hasta la generación del informe.

Parámetros de medición

Cp-D, Cp-Q, Cp-G y Cp-Rp

Cs-D, Cs-Q y Cs-Rs

Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp y Lp-Rdc

Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs y Ls-Rdc

– R-X

Z-QD y Z-QR

– G-B

Y-QD y Y-QR

– Vdc-Idc1

Definición

Valores de condensadores medidos por CP a través de un modelo de circuito equivalente paralelo

Valores de condensadores medidos por CS a través de un modelo de circuito equivalente en serie

Valores de inducción medidos por LP a través de un modelo de circuito equivalente paralelo

Valores de inducción medidos por ls a través de un modelo de circuito equivalente en serie

Factor de pérdida d

Factor de calidad q (cuenta atrás de d)

Conducción paralela equivalente medida por el modelo de circuito equivalente paralelo G

Resistencia paralela equivalente medida por RP a través de un modelo de circuito equivalente paralelo

Resistencia equivalente en serie medida por RS a través de un modelo de circuito equivalente en serie

Resistencia de corriente continua RDC

Resistencia R

Reactancia X

Resistencia Z

Admisión y

ángulo de fase de resistencia / admisión QD (ángulo)

ángulo de fase de resistencia / admisión QR (arco)

B Electric

Tensión de corriente continua VDC

Corriente continua IDC

Función de medición de desviación: la desviación del valor de referencia y el porcentaje de desviación del valor de referencia se pueden exportar como resultados.

Circuito equivalente de medición: paralelo, serie

Selección del rango de resistencia: automático (modo de rango automático), manual (modo de rango de retención)

Modo de activación: activación interna (int), activación manual (man), activación externa (ext), activación gpib (bus)

E4980bl Estados Unidos keysight es el puente eléctrico alemán LCRIndicadores técnicos básicos

1. rango de retraso de activación 0 S - 999 s

Resolución 100 micras (0 S - 100 s)

1 ms (100 s - 999 s)

Cuadro 2. Retraso escalonado

Rango 0 S - 999 s

Resolución 100 micras (0 S - 100 s)

1 ms (100 s - 999 s)

Terminales de medición: par de cuatro terminales

Longitud del cable de prueba: 0 m, 1 m, 2 m, 4 m

Modo de tiempo de medición: modo de tiempo corto (corto), modo de tiempo de longitud media (med), modo de tiempo largo (long).

Cuadro 3. Media

Rango 1 - 256 mediciones

Resolución 1

Señal de prueba

Cuadro 4. Frecuencia de prueba

Frecuencia de prueba 20 Hz - 2 MHz (e4980b)

20 Hz - 1 MHz (E4980BL-102)

20 Hz - 500 kHz (E4980BL-052)

20 Hz - 300 kHz (E4980BL-032)

Resolución 0,01 Hz (20 Hz - 99,99 hz)

0.1 Hz (100 Hz - 999.9 Hz)

1 Hz (1 kHz - 9.999 kHz)

10 Hz (10 kHz - 99,99 kHz)

100 Hz (100 kHz - 999.9 kHz)

1 kHz (1 MHz - 2 MHz)

Precisión de medición ± 0,01%

Cuadro 5. Modo de señal de prueba

Normalmente, cuando el terminal de medición está abierto o cortocircuito, el programa selecciona el voltaje o la corriente por separado.

La constante mantiene el voltaje o la corriente seleccionados en el dispositivo medido, independientemente de cómo cambie la resistencia del dispositivo medido.

Cuadro 6. Tensión de la señal de prueba

Rango 0 vrms - 2.0 vrms

分辨率 100 µVrms (0 Vrms - 0,2 Vrms)

200 µVrms (0,2 Vrms - 0,5 Vrms)

500 µVrms (0,5 Vrms - 1 Vrms)

1 mVrms (1 Vrms - 2 Vrms)

Precisión convencional ± 10% (10% + 1 mvrms) frecuencia de prueba ≤ 1 mhz: indicador técnico

Frecuencia de prueba > 1 mhz: valor típico

Frecuencia de prueba constante de 1 ± 6% (6% + 1 mvrms) ≤ 1 mhz: indicador técnico

Frecuencia de prueba > 1 mhz: valor típico

Cuadro 7. Corriente de la señal de prueba

Rango 0 armas - 20 armas

Resolución 1 micras Arms (0 arms - 2 armas)

2 micras Arms (2 armas - 5 armas)

5 micras de armas (5 armas - 10 armas)

10 micras de armas (10 armas - 20 armas)

Precisión convencional ± 10% (10% + 10 micras arms) frecuencia de prueba ≤ 1 mhz: indicador técnico

Frecuencia de prueba > 1 mhz: valor típico

Frecuencia de prueba constante de 1 ± 6% (6% + 10 micras arms) ≤ 1 mhz: indicador técnico

Frecuencia de prueba > 1 mhz: valor típico

Resistencia a la salida: 100 Omega (valor nominal)

Función de monitoreo del nivel de señal de prueba

– se puede monitorear el voltaje y la corriente de la señal de prueba.

Precisión de monitoreo de nivel:

Cuadro 8. Precisión de monitoreo de voltaje de la señal de prueba (vac)

Tensión de la señal de prueba 2 indicadores técnicos de frecuencia de prueba

5 mvrms - 2 vrms ≤ 1 MHz + (3% de la lectura + 0,5 mvrms)

> 1 MHz + (6% de la lectura + 1 mvrms)

Cuadro 9. Precisión de monitoreo de corriente de señal de prueba (lac)

Indicadores técnicos de la frecuencia de prueba de la corriente de la señal de prueba 2

50 µArms - 20 mArms ≤ 1 MHz

> 1 MHz

± 3% (3% de la lectura + 5 micras arms)

± 6% (6% de la lectura + 10 micras arms)

1. cuando se activa la función de control automático del nivel.

2. este no es el valor de salida, sino el nivel de señal de prueba mostrado.

La tabla 10 enumera los rangos de medidas que se pueden mostrar en la pantalla. Para un rango de medición válido, consulte la resistencia en la figura 1

Ejemplo de precisión de medición.

Cuadro 10. Rango de visualización de las mediciones permitidas

Rango de visualización de la medición de parámetros

Cs, Cp ± 1,000000 aF a 999,9999 EF

Ls, LP ± 1,0000mah a 999999 eh

D ± 000001 a 999999

Q ± 0,01 a 99999,99

R, rs, rp, x, z, RDC ± 1,0000a a 99999999 e

G. b, y ± 1,000000 as a 999999 es

VDC ± 1000000 av a 999999 EV

Idc ±1.000000 aA 至 999.9999 EA

QR ± 1,000000 Arad a 3141593 Rad

qd ± 0,0001 grados 至 180.0000 deg

↑% ± 00001% a 999999%

a： 1 x 10-18、 E: 1 x 1018

Precisión absoluta de medición

La precisión absoluta se calcula utilizando la siguiente ecuación.

Precisión absoluta AA de | Z | Y | l, c, r, x, g, b (cuando DX ≤ 0,1, las precisiones l, c, X y B son adecuadas

Uso, cuando qx ≤ 0,1, se aplica la precisión R y g)

Cuando DX es ≥ 0,1, se multiplica por cuadrado 1 + d2x con Acal para obtener las precisiones l, c, X y B.

Cuando qx ≥ 0,1, se multiplica por cuadrado 1 + q2x con Acal para obtener la precisión R y G.

En el campo magnético de ca, se puede utilizar la siguiente ecuación para calcular la precisión de la medición.

A x (1 + B x ( 2 + 0.5 / Vs))

Entre ellos, la precisión absoluta a

Intensidad de inducción magnética b [gauss]

Nivel de tensión de la señal de prueba vs [v]

Ecuación 1: AA = AE + Acal

Aa precisión absoluta (porcentaje de la lectura)

AE precisión relativa (porcentaje de la lectura)

Precisión de calibración Acal (%)

Entre ellos, la precisión G solo es adecuada para la medición G - B.

Precisión d (cuando DX ≤ 0,1)

Ecuación 2: de + qcal

Valor d medido por DX

Precisión relativa de de D

Precisión de calibración de qcal q (radianes)

Cuando 0,1 < DX ≤ 1, se multiplica por qcal (1 + dx)

Precisión q (cuando qx × da < 1)

Ecuación 3: (qx2 × da)

+ - - - - - - - -

(1 ± Qx × Da)

Valor q medido por qx

Precisión absoluta de da D

Precisión q

Ecuación 4: qe + qcal

Precisión relativa de qe q (ángulo)

Precisión de calibración (ángulo) precisión G de qcal q (cuando DX ≤ 0,1)

Ecuación 5: BX + da (s)

1

BX = 2 Pi fcx = - -

2πfLx

Valor d medido por DX

Valor B medido por BX (s)

Precisión absoluta de da D

F frecuencia de medición (hz)

Valor c medido por CX (f)

Valor l medido por LX (h)

Entre ellos, la precisión G es adecuada para la medición CP - G.

Precisión absoluta de RP (cuando DX ≤ 0,1)

Ecuación 6: rpx × da

+ - - - - -(Ω)

Dx ± Da

Valor de Rup medido por rpx (omega)

Valor d medido por DX

Precisión absoluta de da D

Precisión absoluta de Rs (cuando DX ≤ 0,1)

Ecuación 7:Xx × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × ×(Ω)

1

Xx = ———————= 2πfLx

2 Pi fcx

Valor d medido por DX

Valor x medido por XX (Ω m)

Precisión absoluta de da D

F frecuencia de prueba (hz)

Valor c medido por CX (f)

Valor l medido por LX (h)

1. cuando el resultado del cálculo es negativo, se aplica 0 A.

Precisión relativa

La precisión relativa incluye estabilidad, coeficiente de temperatura, linealización, repetición y error de inserción interna de calibración. La precisión relativa se especifica cuando se cumplen todas las siguientes condiciones:

– tiempo de calentamiento: 30 minutos

– longitud del cable de prueba: 0 m, 1 m, 2 m o 4 m (keysight 16048a / D / e)

– no se muestra la advertencia de "sobrecarga de la fuente de señal".

Cuando la corriente de la señal de prueba supera los valores de la tabla 11 a continuación, la tabla LCR mostrará una advertencia de "sobrecarga de la fuente de señal".

Cuadro 11.

Condición de frecuencia de prueba de voltaje de la señal de prueba 1

≤ 2 Vrms – –

> 2 Vrms ≤ 1 MHz 110 mA 或 130 mA - 0,0015 × Vac × (Fm / 1 MHz) ×

(L_cable + 0.5)， Tomar valores más pequeños

> 1 MHz 70 mA - 0,0015 × Vac × (Fm / 1 MHz) × (L_cable + 0,5)

VAC [v] tensión de la señal de prueba

Frecuencia de prueba FM [hz]

L cable [m] longitud del cable

– se ha realizado una corrección de circuito abierto y cortocircuito.

– aislamiento de corriente sesgada: apagado

– la corriente de sesgo de corriente continua no superará el valor establecido dentro de cada rango de corriente de sesgo de corriente continua

– al emparejar la resistencia del dispositivo medido con el rango de medición efectivo, se selecciona el rango de Resistencia óptimo.

Precisión z, y, l, c, r, x, G y b (cuando DX ≤ 0,1, se aplican las precisiones l, c, X y b; Cuando qx ≤ 0,1, se aplican las precisiones R y g)

Cuando DX > 0,1, se obtiene la precisión l, c, X y b multiplicando AE por ÷ 1 + d2x.

Cuando qx > 0,1, se multiplica por ae por ¿ 1 + q2x para obtener la precisión R y g

Precisión relativa AE cálculo de presión:

Ecuación 8: AE = [ab + ZS / | zm | X 100 + yo × | zm | X 100] × KT

Resistencia del dispositivo medido de zm

Precisión básica de AB

Sesgo de cortocircuito ZS

Yo abre el camino sesgado

Coeficiente de temperatura KT

Precisión D

Cuando DX ≤ 0,1, la precisión D se calcula presionando la fórmula:

Ecuación 9: de = + AE / 100

Valor d medido por DX

Precisión relativa de AE | Z | Y | l, c, r, x, G y B

Cuando 0,1 < DX ≤ 1, se multiplica por de (1 + dx)

Precisión q (cuando q X de < 1)

Precisión q qe cálculo de presión:

Ecuación 10: (qx2 × de)

Qe = ± —————————————

(1 ± Qx × De)

Valor q medido por qx

De precisión relativa D

Precisión q

La precisión q Theta e se calcula de acuerdo con la fórmula:

Ecuación 11: 180 × AE

qe = (grados)

π × 100

Precisión relativa de AE | Z | Y | l, c, r, x, G y B

Precisión g (cuando DX ≤ 0,1)

Cálculo de la presión Ge de precisión g:

Ecuación 12: Ge = BX X de (s)

1

BX = 2 Pi fcx = - -

2πfLx

Precisión relativa de Ge G

Valor d medido por DX

Valor B medido por BX

Precisión relativa de D

F frecuencia de prueba (hz)

Valor c medido por CX (f)

Valor l medido por LX (h)

Precisión RP (cuando DX ≤ 0,1)

Precisión RPP cálculo de presión rpe:

Ecuación 13: rpx × de(Ω)

Rpe = ± ———————————

Dx ± De

Precisión relativa de rPe RP

Valor de Rup medido por rpx (Ω)

Valor d medido por DX

Precisión relativa de de D

Precisión RS (cuando DX ≤ 0,1)

Precisión RS se calcula con la fórmula presionada:

Ecuación 14:Rse = Xx × De(Ω)

1

Xx = ————————= 2πfLx

2 Pi fcx

Precisión relativa de RSE RS

Valor d medido por DX

Valor x medido por XX (Ω m)

Precisión relativa de de D

F frecuencia de prueba (hz)

Valor c medido por CX (f)

Valor l medido por LX (h)

Ejemplo de cálculo de precisión C - D

Condiciones de medición

Frecuencia de prueba: 1 kHz

Valor c medido: 100 NF

Tensión de la señal de prueba: 1 vrms

Modo de tiempo de medición: Med

Temperatura medida: 23 ° C

Ab = 0.05%

|Zm| = 1 / (2π × 1 × 103 × 100 × 10-9) = 1590 Ω

Zs = 0,6 m Ω × (1 + 0.400/1) × (1 + √(1000/1000) = 1.68 m Ω

Yo = 0,5 nS × (1 + 0,100/1) × (1 + √(100/1000) = 0,72 nS

C 精度： Ae = [0,05 + 1,68 m/1590 × 100 + 0,72 n × 1590 × 100] × 1 = 0,05%

Precisión d: de = 0,05 / 100 = 00005

El efecto de la resistencia del dispositivo medido

Cuadro 14. Cuando la resistencia del dispositivo medido es inferior a 30 omega, se añaden los siguientes Valores.

Frecuencia de prueba [hz] Resistencia del dispositivo medido

1,08 Ω ≤ |Zx| < 30 Ω |Zx| < 1,08 Ω

20 - 1 M 0.05% 0.10%

1 M - 2 M 0.10% 0.20%

Cuadro 15. Cuando la resistencia del dispositivo medido es superior a 9,2 kome, se añaden los siguientes Valores.

Frecuencia de prueba [hz] Resistencia del dispositivo medido

9.2 kΩ < |Zx| ≤ 92 kΩ 92 kΩ < |Zx|

10 k - 100 k 0% 0.05%

100 k - 1 M 0.05% 0.05%

1 M - 2 M 0.10% 0.10%

Efecto de la extensión del cable

Cuando el cable se extiende, se añaden los siguientes elementos por metro.

0,015 % × (Fm/1 MHz) 2 × (L_cable) 2

Frecuencia de prueba FM [hz]

L cable [m] longitud del cable

Sesgo de cortocircuito ZS

Cuadro 16. Resistencia del dispositivo medido > 1,08

prueba

Frecuencia [hz]

Modo de tiempo de medición

Medio corto, largo

20 - 2 M 2.5 m Ω × (1 + 0.400 / Vs) ×

(1 + √(1000/Fm))

0,6 mΩ × (1 + 0,400 / Vs) ×

(1 + √(1000/Fm))

Cuadro 17. Resistencia del dispositivo medido ≤ 1,08

prueba

Frecuencia [hz]

Modo de tiempo de medición

Medio corto, largo

20 - 2 M 1 m Ω × (1 + 1 / Vs) × (1 + √ (1000 / Fm)) 0,2 m Ω × (1 + 1 / Vs) × (1 + √ (1000 / Fm))

Vs [vrms] tensión de la señal de prueba

Frecuencia de prueba FM [hz]

Efecto de la extensión del cable (sesgo de cortocircuito)

Cuadro 18. Cuando el cable se alarga, ZS aumenta los siguientes valores (independientemente del modo de tiempo de medición).

prueba

Frecuencia [hz]

Longitud del cable

0 metros 1 metro 2 metros 4 metros

20 - 1 M 0 0.25 m Ω 0.5 mΩ 1 mΩ

1 M - 2 M 0 1 m Ω 2 mΩ 4 mΩ

Open Road session yo

Cuadro 19. Tensión de la señal de prueba ≤ 2,0 vrms

prueba

Frecuencia [hz]

Modo de tiempo de medición

Medio corto, largo

20 - 100 k 2 nS × (1 + 0,100/Vs) × (1 + √(100/Fm)) 0,5 nS × (1 + 0,100/Vs) × (1 + √(100/Fm))

100 k - 1 M 20 nS × (1 + 0,100/Vs) 5 nS × (1 + 0,100/Vs)

1 M - 2 M 40 nS × (1 + 0,100/Vs) 10 nS × (1 + 0,100/Vs)

Cuadro 20. Tensión de la señal de prueba > 2,0 vrms

prueba

Frecuencia [hz]

Modo de tiempo de medición

Medio corto, largo

Precisión de medición

El siguiente ejemplo de cálculo de la medición de la resistencia es el resultado de la precisión absoluta de la medición.

Figura 1. Precisión de la medición de la resistencia (tensión de la señal de prueba = 1 vrms, longitud del cable = 0 metros, modo de tiempo de medición = med)

Función de compensación

Cuadro 28. El e4980a ofrece tres funciones de compensación: compensación de circuito abierto, compensación de cortocircuitos y compensación de carga.

Descripción del tipo de compensación

El circuito abierto compensa el error causado por la conducción dispersa (c, g) del aparato de prueba de compensación.

La compensación de cortocircuito compensa el error causado por la resistencia residual (l, r) del aparato de prueba.

La compensación de carga compensa el error entre el valor medido real y el valor estándar conocido en las condiciones de medición necesarias por el usuario.

Escaneo de lista

Puntos: el número máximo de puntos es de 201 puntos.

Primer parámetro de escaneo (parámetro primario): frecuencia de prueba, voltaje de la señal de prueba, corriente de la señal de prueba, voltaje de la señal de prueba de la señal de sesgo de corriente continua, corriente de la señal de prueba de la señal de sesgo de corriente continua, voltaje de la fuente de alimentación de corriente continua.

Segundo parámetro de escaneo (segundo parámetro): ninguno, rango de resistencia, frecuencia de prueba, frecuencia de señal de prueba, voltaje de señal de prueba, corriente de señal de prueba, voltaje de señal de prueba de la señal de sesgo de corriente continua, corriente de señal de prueba de la señal de sesgo de corriente continua, voltaje de fuente de corriente continua

Modo de activación

Modo secuencial: una vez activado el e4980a, medirá el dispositivo en todos los puntos de escaneo. / Eom / index solo se exporta una vez.

Modo paso: cada vez que se activa el e4980a, el punto de escaneo aumenta. En cada punto se emite / Eom / index, pero la función de comparación del escaneo de lista solo proporcionará resultados después de la salida del último / eom.

explicación

El parámetro seleccionado para uno de los dos parámetros ya no se puede seleccionar para el otro. No se puede establecer una combinación de voltaje de la señal de prueba y corriente de la señal de prueba, o una de las combinaciones de voltaje de la señal de prueba de la señal de sesgo de corriente continua y corriente de la señal de prueba de la señal de sesgo de corriente continua.

Los parámetros secundarios solo se pueden establecer a través del Comando scpi.

Función de comparación para el escaneo de listas: la función de comparación admite establecer un par de valores de límite superior e inferior para cada punto de medición.

Puede elegir: juzgar a través del primer parámetro de escaneo / juzgar a través del segundo parámetro / no usar para cada par

Límite.

Función de marca de tiempo: en modo secuencial, se puede definir el tiempo en que FW detecta la señal de activación como 0 para registrar cada

La hora de inicio de la medición en el punto de medición, que luego se obtiene a través del Comando scpi.

Función del comparador

Clasificación bin: los parámetros de una vez se pueden ordenar en 9 bin, out of bins, aux Bin y Low C

REJECT。 Los parámetros secundarios se ordenan como alto, in y bajo. Se puede seleccionar el modo secuencial y el modo de tolerancia como modo de clasificación.

Configuración de límites: se pueden usar valores absolutos, valores de desviación y valores de desviación del% en la configuración.

Cuenta bin: se puede registrar de 0 a 999999.

Señal de sesgo DC

Cuadro 29. Tensión de la señal de prueba

Rango 0 v a + 2 V

Resolución limitada a 0 v / 1,5 V / 2 V

精度 0.1% + 2 mV (23°C ± 5°C)

(0,1% + 2 mV) × 4

(de 0 a 18 ° c o de 28 a 55 ° c)

Resistencia a la salida: 100 ° (valor nominal)

Función de medición auxiliar

Función de caché de datos: cada lote puede leer hasta 201 resultados de medición.

Función guardar / llamar:

– se pueden escribir o leer hasta 10 condiciones de configuración en la memoria no volátil incorporada.

– se pueden escribir o leer hasta 10 condiciones de configuración en la memoria usb.

– realiza la función de llamada automática al escribir las condiciones de configuración en el registro 10 de la memoria usb.

Función de bloqueo de teclas: se pueden bloquear las teclas del panel frontal.

Gpib: pin D - Sub (tipo D - 24), cabeza femenina; Cumple con los estándares ieee488.1, 2 y SCPI

Puerto anfitrión usb: enchufe universal de bus serie, tipo - a (4 posiciones de contacto, contacto 1 a su izquierda),

Cabeza negativa (solo se conecta a la memoria usb).

Puerto de interfaz usb: enchufe de bus serie universal, tipo mini - B (4 posiciones de contacto); Cumple con los estándares usbtmc - usb488 y USB 2.0; Cabeza yin; Se utiliza para conectar controladores externos.

Usbtmc: abreviatura de clasificación de pruebas y mediciones USB

Lan: 10 / 100 Baset ethernet, 8 Pines (2 opciones de velocidad)

Consistencia lxi: clase C (solo para dispositivos con la versión de software solidificado a.02.00 o superior)

explicación

Se pueden usar las siguientes memorias usb.

Cumplir con el estándar USB 1.1; Categoría de memoria de gran capacidad,

Formato fat16 / fat32; La corriente máxima consumida es inferior a 500 Ma.

Memoria USB recomendada: 4 GB de memoria flash USB

(keysight PN 1819 - 0637) y flash USB de 16 GB

Depósito (keysight PN 1819 - 1235).

Utilizando una memoria USB especialmente recomendada para e4980a,

De lo contrario, los datos previamente guardados pueden ser eliminados. Si no lo ha hecho

Si se utiliza la memoria USB recomendada, los datos pueden no tener

La Ley se guarda o llama normalmente.

Alemania Technology no es responsable de la pérdida de datos de la memoria USB causada por el uso de e4980a.

Selección de frecuencia

E4980a 20 Hz a 2 MHz

E4980AL-032 20 Hz 至 300 kHz

E4980AL-052 20 Hz 至 500 kHz

E4980al - 102 20 Hz a 1 MHz

Cuadro 30. Opciones instalables

Opción e4980a e4980al

Mejora del sesgo de alimentación y corriente continua (001) se puede instalar o no se puede instalar

Medición DCR (200) se puede instalar 1 no se puede instalar 2

La interfaz del manipulador (201) se puede instalar e instalar

La interfaz del escáner (301) se puede instalar e instalar

Opciones de interfaz

Opción 201 (interfaz manipulador)

Aumentar la interfaz del manipulador.

Opción 301 (interfaz del escáner)

Aumentar la interfaz del escáner.

Opción 710 (sin interfaz)

Opciones sin interfaz.

Se pueden instalar hasta dos opciones de interfaz en el conector de interfaz del panel trasero.

Al no instalar la interfaz, instale dos opciones 710. Al instalar una interfaz, instale la interfaz del número de opción y una

Opción 710.

Otras opciones

Opción 001 (aumento del sesgo de alimentación y corriente continua)

Aumentar el voltaje de la señal de prueba y aumentar el voltaje variable de sesgo de corriente continua.

Opción 007 (modelo estándar)

Actualizar el modelo de nivel de entrada al modelo estándar (solo para e4980au).

Opción 200 (medición dcr)

Aumentar la medición de dcr.

1. opciones obligatorias

2. está equipado con la función de medición DCR por defecto.

explicación

La opción 007 solo se puede instalar en e4980a con la opción 005

Medio.

explicación

Los e4980a - 200 / 001 y e4980al - 032 / 052 / 102 admiten la función de medición dcr.

Indicadores técnicos de mejora de sesgo de fuente de alimentación y corriente continua

Aumentar el voltaje de la señal de prueba y aumentar la función de voltaje de sesgo de corriente continua variable.

La función de medición VDC - IDC se proporciona después de instalar la opción 001.

Parámetros de medición

Se pueden usar los siguientes parámetros.

– Lp-Rdc

– Ls-Rdc

– Vdc-Idc

Entre ellos

Resistencia de corriente continua RDC (dcr)

Tensión de corriente continua VDC

Corriente continua IDC

Señal de prueba

Nivel de señal

Cuadro 31. Tensión de la señal de prueba

Rango 0 vrms a 20 vrms (frecuencia de prueba ≤ 1 mhz)

0 vrms a 15 vrms (frecuencia de prueba superior a 1 mhz)

分辨率 100 µVrms (0 Vrms - 0,2 Vrms)

200 µVrms (0,2 Vrms - 0,5 Vrms)

500 µVrms (0,5 Vrms - 1 Vrms)

1 mVrms (1 Vrms - 2 Vrms)

2 mVrms (2 Vrms - 5 Vrms)

5 mVrms (5 Vrms - 10 Vrms)

10 mVrms (10 Vrms - 20 Vrms)

Establecer precisión convencional ± 10% (10% + 1 mvrms) (tensión de la señal de prueba ≤ 2 vrms)

(frecuencia de prueba ≤ 1 mhz: indicador técnico, frecuencia de prueba > 1 mhz: valor típico)

± 10% (10% + 10 mvrms) (frecuencia de prueba ≤ 300 khz,

Tensión de la señal de prueba > 2 vrms (indicador técnico)

± 15% + 20 mvrms (frecuencia de prueba > 300 khz,

Tensión de la señal de prueba > 2 vrms)

(frecuencia de prueba ≤ 1 mhz: indicador técnico, frecuencia de prueba > 1 mhz: valor típico)

Constante 1 ± 6% (6% + 1 mvrms) (tensión de la señal de prueba ≤ 2 vrms)

(frecuencia de prueba ≤ 1 mhz: indicador técnico, frecuencia de prueba > 1 mhz: valor típico)

± 6% (6% + 10 mvrms) (frecuencia de prueba ≤ 300 khz,

Tensión de la señal de prueba > 2 vrms (indicador técnico)

± 12% + 20 mvrms (frecuencia de prueba > 300 khz,

Tensión de la señal de prueba > 2 vrms) (frecuencia de prueba ≤ 1 mhz: indicador técnico,

Frecuencia de prueba > 1 mhz: valor típico)

1. cuando se activa la función de control automático del nivel.

Corriente de la señal de prueba

Rango 0 armas - 100 armas

Resolución 1 micras Arms (0 arms - 2 armas)

2 micras Arms (2 armas - 5 armas)

5 micras de armas (5 armas - 10 armas)

10 micras de armas (10 armas - 20 armas)

20 micras Arms (20 mrms - 50 mrms)

50 micras de armas (50 armas - 100 armas)

Establecer precisión convencional ± 10% (10% + 10 micras arms) (tensión de la señal de prueba ≤ 20 armas)

(frecuencia de prueba ≤ 1 mhz: indicador técnico, frecuencia de prueba > 1 mhz: valor típico)

± 10% (10% + 100 micras arms) (frecuencia de prueba ≤ 300 khz,

Corriente de la señal de prueba > 20 armas) (indicador técnico)

± 15% (15% + 200 micras arms) (frecuencia de prueba > 300 khz,

Tensión de la señal de prueba > 20 armas) (frecuencia de prueba ≤ 1 mhz: indicador técnico,

Frecuencia de prueba > 1 mhz: valor típico)

Constante 1 ± 6% (6% + 10 micras arms) (tensión de la señal de prueba ≤ 20 armas)

(frecuencia de prueba ≤ 1 mhz: indicador técnico, frecuencia de prueba > 1 mhz: valor típico)

± 6% (6% + 100 micras arms) (frecuencia de prueba ≤ 300 khz,

Tensión de la señal de prueba > 20 armas) (indicador técnico)

± 12% (12% + 200 micras arms) (frecuencia de prueba > 300 khz,

Tensión de la señal de prueba > 20 armas) (frecuencia de prueba ≤ 1 mhz: indicador técnico,

Frecuencia de prueba > 1 mhz: valor típico)

Función de monitoreo del nivel de señal de prueba

– se puede monitorear el voltaje de la señal de prueba y la corriente de la señal de prueba.

Precisión de monitoreo de nivel:

Cuadro 33. Precisión de monitoreo de voltaje de la señal de prueba (vac)

Tensión de la señal de prueba 2 indicadores técnicos de frecuencia de prueba

5 mvrms a 2 vrms ≤ 1 MHz + (3% de la lectura + 0,5 mvrms)

> 1mhz + (6% de la lectura + 1 mvrms)

> 2 vrms ≤ 300 kHz + (3% de la lectura + 5 mvrms)

> 300 kHz + (6% de la lectura + 10 mvrms) 3

Cuadro 34. Precisión de monitoreo de corriente de señal de prueba (iac)

Indicadores técnicos de la frecuencia de prueba de la corriente de la señal de prueba 2

50 microgramos de Arms a 20 microgramos de Arms ≤ 1 MHz (3% de la lectura + 5 microgramos de arms)

> 1mhz + (6% de la lectura + 10 micras arms)

> 20 armas ≤ 300 kHz + (3% de la lectura + 50 armas)

> 300 kHz + (6% de la lectura + 100 micras arms)

1. cuando se activa la función de control automático del nivel.

2. este no es el valor de salida, sino el nivel de señal de prueba mostrado.

3. cuando la frecuencia de prueba es superior a 1 MHz y el voltaje de la señal de prueba es superior

Valores típicos a 10 vrms.

Señal de sesgo DC

Cuadro 35. Tensión de la señal de prueba

Rango – 40 V a + 40 V

Resolución establecida resolución: 100 micras v, resolución efectiva:

330 µV ±(0 V - 5 V)

1 mV ±(5 V - 10 V)

2 mV ±(10 V - 20 V)

5 mV ±(20 V - 40 V)

Tensión de la señal de prueba de precisión ≤ 2 vrms 0,1% + 2 MV (23 ° C ± 5 ° c)

(0.1% + 2 mV) x 4

(de 0 a 18 ° c o de 28 a 55 ° c)

Tensión de la señal de prueba > 2 vrms 0,1% + 4 MV (23 ° C ± 5 ° c)

(0.1% + 4 mV) x 4

(de 0 a 18 ° c o de 28 a 55 ° c)

Cuadro 36. Corriente de la señal de prueba

Rango – 100 ma - 100 ma

Resolución establece resolución: 1 micra, resolución efectiva:

3.3 µA ±(0 A - 50 mA)

10 µA ±(50 mA - 100 mA)

Monitoreo del nivel de voltaje de sesgo de corriente continua VDC

(0,5% de la lectura + 60 mv) × KT

Cuando se mide con VDC - idc: (indicador técnico)

Al usar el monitoreo de nivel: (valor típico)

Coeficiente de temperatura KT

Monitoreo del nivel de corriente de sesgo de corriente continua IDC

(a del valor medido, [%] + B [a]) × KT

Cuando se mide con VDC - idc: (indicador técnico)

Al usar el monitoreo de nivel: (valor típico)

A[%] cuando el modo de tiempo de medición es short: 2%

Cuando el modo de tiempo de medición es Med o long: 1%

B [a] se da a continuación

Coeficiente de temperatura KT

Cuando el modo de tiempo de medición es corto, los siguientes valores se duplican.

Tensión de la señal de prueba ≤ 0,2 vrms (modo de tiempo de medición = med, long)

Sesgo DC

Rango actual

Rango de Resistencia [omega]

< 100 100 300, 1 k 3 k, 10 k 30k, 100 k

20 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 45 nA

200 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 300 nA

2 mA 150 µA 30 µA 3 µA 3 µA 3 µA

20 mA 150 µA 30 µA 30 µA 30 µA 30 µA

100 mA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA

Cuadro 38. 0,2 vrms < voltaje de la señal de prueba ≤ 2 vrms (modo de tiempo de medición = med, long)

Sesgo DC

Rango actual

Rango de Resistencia [omega]

< 100 100, 300 1k, 3 k 10k, 30 k 100 k

20 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 45 nA

200 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 300 nA

2 mA 150 µA 30 µA 3 µA 3 µA 3 µA

20 mA 150 µA 30 µA 30 µA 30 µA 30 µA

100 mA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA

Cuadro 39. Voltaje de la señal de prueba > 2 vrms (modo de tiempo de medición = med, long)

Sesgo DC

Rango actual

Rango de Resistencia [omega]

≤ 300 1 k, 3 k 10k, 30 k 100 k

20 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA

200 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA

2 mA 150 µA 30 µA 3 µA 3 µA

20 mA 150 µA 30 µA 30 µA 30 µA

100 mA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA

Cuadro 40. Resistencia de entrada (valor nominal)

Condiciones de resistencia de entrada

Excepto las siguientes condiciones de 0 ° c.

20 ° voltaje de la señal de prueba ≤ 0,2 vrms, rango de resistencia ≥ 3 k, rango de corriente de sesgo de corriente continua ≤ 200 μA

Tensión de la señal de prueba ≤ 2 vrms, rango de resistencia ≥ 10 k, rango de corriente de sesgo de corriente continua ≤ 200 micras a

Tensión de la señal de prueba > 2 vrms, rango de resistencia = 100 kΩ y rango de corriente de sesgo de corriente continua ≤ 200 micras a

Señal de alimentación de corriente continua

Cuadro 41. Tensión de la señal de prueba

Rango – 10 V a 10 V

Resolución 1 MV

精度 0.1% + 3 mV（23 °C ±5 °C）

（0.1% + 3 mV） x 4

(de 0 a 18 ° c o de 28 a 55 ° c)

Cuadro 42. Corriente de la señal de prueba

Rango – 45 ma a 45 ma (valor nominal)

Resistencia a la salida

100 (valor nominal)

La función de medición de la resistencia de corriente continua (rdc) se proporciona después de instalar e4980a - 001 / 200 o e4980al - 032 / 052 / 102.

Precisión de la resistencia de corriente continua (rdc)

Precisión absoluta de medición AA

Precisión absoluta de medición AA cálculo de presión

Ecuación 15: AA = AE + Acal

Aa precisión absoluta (porcentaje de la lectura)

AE precisión relativa (porcentaje de la lectura)

Precisión de calibración Acal

Precisión de medición relativa AE

Precisión de medición relativa AE cálculo de presión

方程式 16： Ae = [Ab + (Rs / |Rm|+ Go × |Rm|) × 100 ] × Kt

Medición de RM

Precisión básica de AB

Rs 短路偏置 [Ω]

Go Open Road session [s]

Coeficiente de temperatura KT

Precisión de calibración Acal

La precisión de calibración Acal es del 0,03%.

Precisión básica AB

Cuadro 43. La precisión básica AB se da a continuación.

Medir el voltaje de la señal de prueba en modo de tiempo

≤ 2 Vrms > 2 Vrms

SHORT 1.00% 2.00%

MED 0.30% 0.60%

Abre el camino sesgado go

Cuadro 44. El sesgo de apertura go se da a continuación.

Medir el voltaje de la señal de prueba en modo de tiempo

≤ 2 Vrms > 2 Vrms

CORTO 50 nS 500 nS

MED 10 nS 100 nS

Sesgo de cortocircuito RS

Cuadro 45. El sesgo de cortocircuito RS se da a continuación.

Medir el voltaje de la señal de prueba en modo de tiempo

≤ 2 Vrms > 2 Vrms

CORTO 25 m Ω 250 mΩ

MED 5 m Ω 50 mΩ

Efecto de la longitud del cable (sesgo de cortocircuito)

Cuadro 46. Cuando el cable se extiende, se añaden los siguientes valores en rs.

Longitud del cable

1 metro, 2 metros y 4 metros

0.25 m Ω 0.5 mΩ 1 mΩ

Coeficiente de temperatura KT

Cuadro 47. El coeficiente de temperatura KT se da a continuación.

Temperatura [ ° c] KT

0 - 18 4

18 - 28 1

28 - 55 4

Fuente de alimentación

Tensión 90 vac - 264 vac

Frecuencia 47 Hz - 63 Hz

Consumo máximo de energía 150 va

Cuadro 49. Entorno de trabajo

Temperatura 0 - 55 ° C

Humedad (≤ 40 ° c, sin condensación) 15% - 85% RH

Altitud 0 - 2000 metros

Cuadro 50. Entorno de almacenamiento

Temperatura – 20 - 70 ° C

Humedad (≤ 60 ° c, sin condensación) 0% - 90% RH

Altitud 0 - 4.572 metros

Tamaño exterior: 375 (ancho) x 105 (altura) × 390 (profundidad) mm (valor nominal)

Los píxeles válidos superan el 99,99%. Podría ser del 0,01% (alrededor del 7%

Píxeles) o menos se pierden o se iluminan a menudo, pero no es por eso

Obstáculos.

Figura 6. Tamaño (vista lateral, con manija y amortiguador, en milímetros, valor nominal)

Figura 7. Tamaño (vista lateral, sin manijas ni amortiguadores, en milímetros, valor nominal)

Peso: 5,3 kg (valor nominal)

Pantalla: lcd, 320 × 240 (píxeles), color RGB

Se pueden mostrar los siguientes artículos:

– valores medidos

– condiciones de medición

– límites del comparador y resultados del juicio

– tabla de escaneo de lista

– mensaje de autoexamen

Información complementaria

EMC

Directiva 2004 / 108 / CE del Consejo de la UE

IEC 61326-1:2012

EN 61326-1:2013

CISPR 11:2009 +A1:2010

EN 55011: 2009 +A1:2010

Grupo 1, categoría A

IEC 61000-4-2:2008

EN 61000-4-2:2009

4 kV CD / 8 kV AD

IEC 61000-4-3:2006 +A1:2007 +A2:2010

EN 61000-4-3:2006 +A1:2008 +A2:2010

3 V/m, 80-1000 MHz, 1.4 - 2.0 GHz / 1V/m, 2.0 - 2.7 GHz, 80% AM

IEC 61000-4-4:2004 +A1:2010

EN 61000-4-4:2004 +A1:2010

Línea de alimentación de 1 Kv / línea de señal de 0,5 KV

IEC 61000-4-5:2005

EN 61000-4-5:2006

Tensión entre líneas de 0,5 kV / tensión entre líneas de 1 Kv

IEC 61000-4-6:2008

EN 61000-4-6:2009

3 V, 0.15-80 MHz, 80% AM

IEC 61000-4-8:2009

EN 61000-4-8:2010

30A/m, 50/60Hz

IEC 61000-4-11:2004

EN 61000-4-11:2004

0,5 - 300 veces, 0% / 70%

Descripción:

A menos que la frecuencia del instrumento sea la misma que la frecuencia de prueba de la señal de interferencia emitida (la frecuencia alrededor de la frecuencia portadora y la frecuencia alrededor de la frecuencia de modulación), la precisión de medición cumple con los indicadores técnicos durante todo el rango de frecuencia de prueba antiinterferencia cuando se mide en condiciones de 3 V / m de acuerdo con en61000 - 4 - 3.

ICES / NMB - 001 ICES - 001: grupo 1 de 2006, categoría A

AS/NZS CISPR11:2004

Grupo 1, categoría A

Kn11, kn61000 - 6 - 1 y kn61000 - 6 - 2

Grupo 1, categoría A

seguridad

Directiva 2006 / 95 / CE del Consejo de la UE

IEC 61010-1:2001/EN 61010-1:2001

Categoría de medición i, contaminación 2, uso interior

Iec60825 - 1: 1994 LED de categoría 1

CAN/CSA C22.2 61010-1-04

Categoría de medición i, contaminación 2, uso interior

medio ambiente

Este producto cumple con el logotipo de la Directiva WEEE (2002 / 96 / ce)

Requisitos. Pegar esta etiqueta significa no descartar este producto eléctrico / electrónico en los residuos domésticos.

Clasificación de productos: según WEEE

Clasificación de los tipos de equipos en el anexo I de la directiva, este producto pertenece a la categoría de "instrumentos de monitoreo".

Cuadro 51. Tiempo de configuración de la frecuencia de prueba

Frecuencia de prueba establecer tiempo frecuencia de prueba (fm)

5 ms Fm ≥ 1 kHz

12 ms 1 kHz > Fm ≥ 250 Hz

22 ms 250 Hz > Fm ≥ 60 Hz

42 ms 60 Hz > Fm

Cuadro 52. Tiempo de configuración del voltaje de la señal de prueba

Frecuencia de prueba del tiempo de configuración de tensión de la señal de prueba (fm)

11 ms Fm ≥ 1 kHz

18 ms 1 kHz > Fm ≥ 250 Hz

26 ms 250 Hz > Fm ≥ 60 Hz

48 ms 60 Hz > Fm

El tiempo de conmutación del rango de resistencia se indica a continuación:

≤ 5 MS / cambio de rango

Protección del Circuito de medición

El voltaje máximo de tolerancia a la descarga se indica a continuación. Este parámetro se refiere al valor más alto del circuito interno cuando el capacitor cargado está conectado a un terminal desconocido.

Gran valor de voltaje de Seguridad.

Cuadro 53. Voltaje máximo tolerante a la descarga

Rango del valor capacitivo C del dispositivo medido con tensión máxima de tolerancia a la descarga

1000 V C < 2 µF

√ 2/C V 2 µF ≤ C

Información complementaria

explicación

Los condensadores deben conectarse a terminales desconocidas o pinzas de prueba antes de

Descarga para evitar daños en el instrumento.

Figura 8. Voltaje máximo tolerante a la descarga

- -

0

200

400

600

800

1000

1200

1.E–15 1.E–13 1.E–11 1.E–09 1.E–07 1.E–05 1.E–03

Tensión [v]

Condensadores [f]

Definición

Este es el tiempo entre el activación en la interfaz del manipulador y la salida del final de la medición (eom).

Condiciones

La tabla 54 muestra el tiempo de medición cuando se cumplen las siguientes condiciones:

– medición rutinaria de la resistencia excepto ls - rdc, LP - rdc, VDC - IDC

– modo de rango de resistencia: mantenga el modo de rango

– monitoreo del nivel de voltaje de sesgo de corriente continua: apagado

– monitoreo del nivel de corriente de sesgo de corriente continua: apagado

– retraso de activación: 0 S

– retraso escalonado: 0 S

– datos de calibración: apagado

– modo de visualización: en blanco

Cuadro 54. Tiempo de medición e4980a [ms] (sesgo dc: apagado)

Tiempo de medición

patrón

Frecuencia de prueba

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

1 LONG 480 300 240 230 220 220 220

2 MED 380 180 110 92 89 88 88

3 SHORT 330 100 20 7.7 5.7 5.6 5.6

Figura 9. Tiempo de medición (e4980a, sesgo dc: apagado)

20 100 1k 10k 100k 1M 2M

0.01

0.001

0.1

1

10

Frecuencia de prueba [hz]

Tiempo de medición [segundos]

1. largo

2. Centro

3. corto

Tiempo de medición e4980a - 005 [ms] (sesgo dc: apagado)

Medir la frecuencia de la prueba del modo de tiempo

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

1 LONG 1190 650 590 580 570 570 570

2 MED 1150 380 200 180 180 180 180

3 SHORT 1040 240 37 25 23 23 23

Figura 10. Tiempo de medición (sesgo dc: apagado, e4980a - 005)

Cuadro 56. Tiempo de medición e4980al [ms]

Medir la frecuencia de la prueba del modo de tiempo

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz

1 LONG 729 423 363 353 343 343

2 MED 650 250 140 122 119 118

3 SHORT 579 149 26 14 12 12

Figura 11. Tiempo de medición (e4980al)

20 100 1k 10k 100k 1M 2M

0.01

0.001

0.1

1

10

Frecuencia de prueba [hz]

Tiempo de medición [segundos]

1. largo

2. Centro

3. corto

20 100 1k 10k 100k 1M 2M

0.01

0.001

0.1

1

10

Frecuencia de prueba [hz]

Tiempo de medición [segundos]

1. largo

2. Centro

3. corto

explicación

El e4980a - 005 ha sido abandonado y no se puede pedir más.

Cuando se encienda el sesgo de corriente continua, agregue el siguiente tiempo:

Cuadro 57. Tiempo aumentado cuando se activa el sesgo de corriente continua [ms]

Frecuencia de prueba

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

30 30 30 10 13 2 0,5 0,5

Cuando aumenta la media, el tiempo de medición se calcula presionando la fórmula

Ecuación 17: meastime + (ave - 1) × avetime

Tiempo de medición calculado por meastime en función de las tablas 53 y 54

Promedio de ave

Avetime Véase la tabla 56

Cuadro 58. El tiempo que aumenta al encontrar la media [ms]

medición

Modo de tiempo

Frecuencia de prueba

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

SHORT 51 11 2.4 2.3 2.3 2.2 2.2

MED 110 81 88 87 85 84 84

LONG 210 210 220 220 220 210 210

Cuadro 59. Tiempo de medición al seleccionar VDC - IDC [ms]

Medir la frecuencia de la prueba del modo de tiempo

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

SHORT 210 46 14 14 14 14 14

MED 210 170 170 170 170 170 170

LONG 410 410 410 410 410 410 410

Media por cada vez más, aumenta el mismo tiempo de prueba

El tiempo de medición adicional cuando se activan las funciones de monitoreo VDC e idc.

Aumentar el modo Short en la tabla 59. Aumentar la mitad del modo corto en la tabla 59 cuando solo se utilizan VDC o IDC

Sala.

Cuadro 60. Tiempo de medición al seleccionar ls - RDC o LP - RDC [ms]

Medir la frecuencia de la prueba del modo de tiempo

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

SHORT 910 230 43 24 22 22 22

MED 1100 450 300 280 270 270 270

LONG 1400 820 700 670 660 650 650

Media por cada vez más, triplica el tiempo añadido en la tabla 58

Además de mostrar páginas en blanco, el tiempo necesario para actualizar la visualización de cada página (tiempo de visualización) se muestra a continuación. En cambio

A la hora de la pantalla, aumenta el tiempo de dibujo y el tiempo de conmutación. Las mediciones muestran que se actualizan aproximadamente cada 100 ms.

Cuadro 61. Tiempo de visualización

El proyecto es vdc, IDC

Cuando se cierra el monitoreo

Cuando vdc, IDC

Cuando se abre el monitoreo

Tiempo de dibujo de la página de exhibición meas 10 ms 13 ms

Página de exhibición meas (más grande) tiempo de dibujo 10 ms 13 ms

Bin No. Display página tiempo de dibujo 10 ms 13 ms

El tiempo de dibujo de la página Bin Conte Display es de 10 ms 13 ms

El tiempo de dibujo de la página de exhibición de List Sweep es de 40 MS -

El tiempo de conmutación de la pantalla de medición es de 35 MS -

Tiempo de transmisión de datos de medición

Esta tabla muestra el tiempo de transmisión de los datos medidos en las siguientes condiciones. Tiempo de transmisión de datos de medición debido a las condiciones de medición y la computadora

Varía.

Cuadro 62. Tiempo de transmisión de medición en las siguientes condiciones:

Ordenador anfitrión: estación de trabajo HP z420, CPU xeon es - 1620 @ 3,60 GHz

Pantalla: apagada

Modo de rango de resistencia: auto (no se generó sobrecarga. (...)

Circuito abierto / cortocircuito / compensación de carga: apagado

Monitoreo de voltaje de la señal de prueba: apagado

Cuadro 63. Tiempo de transmisión de datos de medición [ms]

Datos de la interfaz

Formato de transmisión

¿Uso: ¿ fetc? Orden

(medición de un solo punto)

Uso de memoria caché de datos

(medición de escaneo de lista)

El concurso abre el concurso cierra 10 puntos 51 puntos 128 puntos 201 puntos

GPIB ASCII 2 2 4 13 28 43

ASCII Largo 2 2 5 15 34 53

Binarios 2 2 4 10 21 36

USB ASCII 2 2 3 8 16 23

ASCII Largo 2 2 4 9 19 28

Binarios 2 2 3 5 9 13

LAN ASCII 3 4 5 12 24 36

ASCII Largo 3 3 5 13 29 44

Binarios 3 3 3 5 9 18 26

(1,5 V / 2,0 v): corriente de salida: 20 ma máximo

Opción 001 (aumento del sesgo de alimentación y corriente continua):

Voltaje de sesgo de corriente continua: el voltaje de sesgo de corriente continua aplicado al dispositivo medido se calcula por presión:

Ecuación 18: vdut = vb – 100 × IB

Vdut [v] tensión de sesgo de corriente continua

VB [v] sesgo de corriente continua para establecer el voltaje

IB [a] corriente de sesgo DC

Corriente de sesgo de corriente continua: la corriente de sesgo de corriente continua que entra en el dispositivo medido se calcula por la fórmula:

Ecuación 19: idut = vb / (100 + rdc)

Idut [a] corriente de sesgo DC

VB [v] corriente de configuración de sesgo de corriente continua

Resistencia de corriente continua del dispositivo medido RDC [84]

Corriente máxima de sesgo DC

Cuadro 64. La corriente máxima de sesgo de corriente continua cuando se pueden realizar mediciones convencionales.

Rango de Resistencia

[Ω]

Aislamiento de corriente sesgada

Abrir y cerrar

Tensión de la señal de prueba ≤ 2 vrms tensión de la señal de prueba > 2 vrms

Modo de rango automático 0.1:

100 mA

Mantenga el modo de rango:

Valores aplicables a este rango.

20 mA 100 mA

1 20 mA 100 mA

10 20 mA 100 mA

100 20 mA 100 mA

300 2 mA 100 mA

1 k 2 mA 20 mA

3 k 200 µA 20 mA

10 k 200 µA 2 mA

30 k 20 µA 2 mA

100 k 20 µA 200 µA

Cuando se aplica un sesgo de corriente continua al dispositivo medido

Cuando se aplica el sesgo DC al dispositivo medido, la precisión absoluta AB aumenta los siguientes valores

Cuadro 65. Solo cuando FM < 10 kHz Y | VDC | 5 V

Medio corto, largo

0,05% × (100 mV / Vs) × (1 + √ (100 / Fm)) 0,01% × (100 mV / Vs) × (1 + √ (100 / Fm))

Frecuencia de prueba FM [hz]

Vs [v] tensión de la señal de prueba

Cuando el aislamiento de sesgo de corriente continua se establece como abierto, el sesgo de apertura yo aumenta los siguientes Valores.

Ecuación 20:Yo_DCI1 × (1 + 1 / (Vs)) × (1 + √ (500 / Fm)) + Yo_DCI2

Resistencia del dispositivo medido zm [84]

Frecuencia de prueba FM [hz]

Vs [v] tensión de la señal de prueba

Yo dci1,2 [s] calcula este valor utilizando las tablas 61 y 62

IDC [a] corriente de aislamiento sesgada de corriente continua

Cuadro 66. Valor yo DCI1

Modo de tiempo de medición del rango de corriente de sesgo de corriente continua

Medio corto, largo

20 µA 0 S 0 S

200 µA 0.25 nS 0.05 nS

2 mA 2,5 nS 0,5 nS

20 mA 25 nS 5 nS

100 mA 250 nS 50 nS

Cuadro 67. Valor yo DCI2

Corriente de sesgo de corriente continua

alcance

Modo de tiempo de medición

≤ 100 Ω 300 Ω, 1 k Ω 3 k Ω, 10 k Ω 30 k Ω, 100 k Ω

20 µA 0 S 0 S 0 S 0 S

200 µA 0 S 0 S 0 S 0 S

2 mA 0 S 0 S 0 S 3 nS

20 mA 0 S 0 S 30 nS 30 nS

100 mA 0 S 300 nS 300 nS 300 nS

Tiempo de establecimiento del sesgo DC

Cuando el sesgo de corriente continua se establece como abierto, el tiempo de establecimiento aumenta los siguientes valores:

Cuadro 68. Tiempo de establecimiento del sesgo DC

Tiempo de establecimiento sesgado

1 estándar con capacitor del dispositivo medido × 100 × logo (2 / 1,8 m) + 3 m

2 Opción 001 condensadores de dispositivos probados × 100 × logo (40 / 1,8 m) + 3 m

1 µF 10 µF 100 µF 1 mF 10 mF 100 mF

Condensadores de dispositivos probados

Tiempo de establecimiento de la imagen

12. tiempo de establecimiento del sesgo DC