Sistema de difracción de rayos X de escritorio

El analizador de difracción de rayos X btx III (xrd) es un analizador de escritorio con un fuselaje pequeño que puede proporcionar rápidamente información mineral cuantitativa confiable sobre los componentes principales y secundarios de los minerales.

El analizador btx III está equipado con una pequeña bandeja de muestras que reemplaza a los instrumentos tradicionales de xrd y es ligero y casi sin mantenimiento. Este instrumento independiente se puede operar sin gas comprimido, dispositivo de refrigeración por agua, enfriador de agua secundario o transformador externo, por lo que puede mantener un bajo costo de propiedad. Los operadores pueden conectar el instrumento xrd directamente a otros dispositivos utilizando el rendimiento de conexión Ethernet o inalámbrica.

El analizador xrd del Olimpo utiliza un software swiftmin intuitivo con las siguientes características: un panel de control de pantalla única muestra una variedad de datos, un programa de calibración preestablecido, datos de exportación fáciles y transmisión automática de datos, simplificando así el flujo de trabajo del usuario.

El aumento de la velocidad y la sensibilidad ayuda a tomar decisiones rápidamente

BTX IIISistema de difracción de rayos X de escritorioEl uso de un software potente, conciso e intuitivo combinado con un detector de rayos X mejorado no solo mejora la sensibilidad y acelera el proceso de análisis, sino que también puede obtener resultados más confiables.

El hardware actualizado del detector de rayos X funciona más rápido y tiene una mayor densidad de análisis, lo que a su vez puede obtener un límite de detección más bajo.

El software automático de identificación automática de fase mineral (id) y cuantificación swiftmin puede proporcionar datos directamente en tiempo real en el analizador xrd, por lo que puede tomar decisiones de manera rápida, oportuna y confiada.

Preparación de muestras, fácil de completar

Cuando se utilizan instrumentos tradicionales de difracción de rayos X de escritorio, es necesario moler grandes cantidades de muestras en polvo y luego compactarlas en pequeñas bolas para garantizar que los granos tengan suficiente orientación aleatoria.

Por el contrario,BTX IIISistema de difracción de rayos X de escritorioSe puede utilizar una pequeña bandeja de muestra vibrante para que todas las partículas de la cabina de muestra converjan, lo que garantiza que los datos apenas se vean afectados por el efecto de orientación. Por lo tanto, el analizador solo necesita una muestra de 15 mg para obtener resultados de prueba de alta calidad, y las muestras se pueden preparar fácilmente utilizando el kit de muestras que se envía con el analizador.