Sistema automático de prueba de transformadores

Changzhou Tonghui Electronics ha adoptado una nueva generación de tecnología exitosa en muchos años de experiencia en la prueba de transformadores.Sistema automático de prueba de transformadoresLa innovación utiliza una nueva generación de tecnologías como la arquitectura de doble cpu, el sistema subyacente de linux, la pantalla táctil capacitiva de 10,1 pulgadas, la interfaz de operación en chino e inglés, las instrucciones de uso incorporadas y la ayuda, lo que resuelve las deficiencias de la configuración engorrosa del sistema de prueba anterior, la velocidad de prueba lenta, la compensación de pantalla y la falta de pies pin.

TH2840AXTH2840BXTH2840NXSistema automático de prueba de transformadoresGracias a la adopción de una pantalla táctil capacitiva de 10,1 pulgadas con una resolución de 1280 * 800, todos los ajustes de pie, las condiciones de prueba, la serie paralela de pies y la configuración de equilibrio se pueden equiparar a una operación de pantalla, lo que simplifica el proceso de configuración y reduce la dificultad de la configuración del operador del instrumento.

Diseño revolucionario

Arquitectura de doble cpu, capa inferior de linux, soporte de pantalla táctil, teclado, ratón, ayuda incorporada en chino e inglés y otros diseños;

El umbral de acceso del operador se reduce considerablemente y la eficiencia de la prueba se mejora varias veces.

B.10.1 pulgadas de pantalla grande, simplifica la eficiencia de la configuración y reduce la dificultad de operación

Pantalla táctil de 10,1 pulgadas, resolución 1280 * 800, la pantalla grande táctil aporta más beneficios al colocar todos los parámetros de correlación de pies del transformador, parámetros de prueba, serie de pies en paralelo, parámetros de clasificación y otros parámetros en la misma pantalla, operando directamente con la mano o el teclado y el ratón, no solo de forma rápida, sino también sin aglomeraciones y desorden.

Según el trabajo de Tonghui Electronics en el campo de las pruebas de transformadores durante más de diez años, se ha mejorado continuamente en respuesta a los problemas encontrados en las pruebas del sistema de pruebas integrales de transformadores automáticos tempranos.

1. página de asociación de pin del transformador gráfico th2840axth2840bxth2840nx

La configuración de la página de asociación de pies tempranos es engorrosa, y no se puede corresponder los pies del transformador y los pies del aparato de prueba uno por uno a primera hora, lo que dificulta la configuración.

En respuesta a este malestar, una nueva generaciónSistema automático de prueba de transformadoresLa interfaz de asociación de pies añade elementos como imágenes, colores y líneas de marco, lo que mejora la correlación entre la configuración de pies y los cuernos de prueba, y los usuarios pueden asociar los pies del transformador con objetos físicos lo antes posible, reduciendo la dificultad de configuración y la posibilidad de errores de cableado.

2. establecer las condiciones de prueba del transformador en una sola página

La configuración temprana de los parámetros de prueba requiere ingresar a diferentes páginas de configuración, como configurar los parámetros relevantes de lx, y ingresar a 6 - 7 subepáginas diferentes, lo cual es bastante engorroso.

Después de la mejora, varios parámetros se pueden cambiar en una página, y todos los parámetros relevantes de LX se pueden configurar en una tabla, lo que es claro de un vistazo, lo que mejora en gran medida la eficiencia de la configuración.

3. cuando th2840axth2840bxth2840nx mejora la configuración de la serie de pies y la configuración paralela de los primeros modelos para establecer la posición de los pies, debe ingresar a sus respectivas subpartidas cuando necesita conectar la posición de los pies en serie y la posición de los pies en paralelo.

Después de la mejora, se puede configurar la serie de pies en paralelo directamente en una página.

4. el método de entrada de múltiples pies mejorado th2840ax th2840bx th2840nx a menudo requiere introducir una situación de entrada de múltiples pies consecutivos como 1,2,3,4,5,6 cuando se escanea la configuración del transformador, por lo que se mejora el método de entrada y se utiliza un método habitual similar de 1 a 6 para representar la entrada continua, lo que simplifica la página de Visualización y mejora la eficiencia de la entrada.

5. th2840ax th2840bx th2840nx cada parámetro de escaneo aumenta el número promedio de veces y la configuración de retraso para aumentar la estabilidad

En la prueba de escaneo del transformador, debido a la gran cantidad de inducción de algunos circuitos de inducción, se necesita un cierto tiempo de estabilización para leer los valores precisos. en este caso, se aumenta el número promedio de veces y la configuración de retraso para cada parámetro de escaneo para aumentar la estabilidad sin afectar la velocidad de prueba de otros parámetros.

6. al cambiar el método de configuración de la inducción de fuga th2840ax th2840bx th2840nx para probar la inducción de fuga LK en varios devanados, el instrumento temprano necesita cambiar constantemente el devanado correspondiente y establecer el valor nominal y el valor límite, lo cual es muy problemático. la nueva generación ha mejorado este método de configuración, que puede configurar los pies y el modo de conexión de diferentes devanados secundarios directamente en la misma página de configuración, ahorrando el pin de inducción de fuga de entrada, introduciendo el valor nominal directamente en el pin correspondiente, y el límite superior e inferior puede establecer el valor nominal.

7. th2840ax th2840bx th2840nx mejora el método de escaneo de equilibrio para probar el equilibrio del transformador de devanado múltiple. al igual que la detección de fugas, los instrumentos tempranos necesitan cambiar constantemente los pies de equilibrio secundarios y establecer los límites correspondientes. la nueva generación mejora esta configuración, estableciendo todos los elementos de configuración de equilibrio en la misma página, y actualizando a 10 puntos en respuesta a la falta de hasta 5 puntos en los puntos de equilibrio tempranos.

Función de medición LCR

1. esta función es una opción

2. para funciones e indicadores detallados, consulte los parámetros técnicos del Puente Digital LCR de la serie th2840.

Aplicación th2840axth2840bxth2840nx

■ prueba de escaneo y análisis de características integrales del transformador de conmutación

■ prueba de escaneo del transformador de red, análisis de características integrales

■ prueba de escaneo múltiple de componentes pasivos discretos (inductores l, resistencias r, condensadores c)

■ prueba de escaneo múltiple de paquetes de cables de accionamiento de relés y resistencias de contacto de contacto

■ prueba de escaneo DCR de resistencia de corriente continua multicanal

■ análisis de pruebas integrales de múltiples dispositivos pasivos en redes de Resistencia