Lanzamiento de nuevos productos | nueva serie Zeiss versaxrm, liderada por la inteligencia para escanear rápidamente la nueva era

Microscopio de rayos X de Zeiss versaxrm 730

Microscopio de rayos X de Zeiss versaxrm 615

Los dos nuevos productos no solo permiten imágenes de alta resolución y Alto contraste, sino que también admiten la expansión de escaneo rápido para lograr imágenes de escaneo tridimensional rápido en un minuto, y están equipados de serie con el software de control del sistema zen navx y la función de reconstrucción avanzada basada en ia, que es inteligente, simple, de alta calidad y eficiente.

Los nuevos microscopios de rayos X Zeiss versaxrm 730 y versaxrm 615 llevarán a los usuarios de investigación científica y pruebas industriales a la era del escaneo rápido para romper nuevas alturas de Investigación.

●Detector de lentes 40x - prime sin miedo a la alta presión

□ resolución espacial tan alta como 450 nm,

- 3La resolución espacial de ≤ 500nm se puede lograr a plena tensión de 0kv - 160kv.

↓Rendimiento de alta resolución (raad) a gran distancia de trabajo:

700nm@50mm

750nm@100mm

El sistema versaxrm 730 se puede optar por un detector de lentes 40x - Prime

↓ casos de imagen

● software de control de sistemas inteligente y fácil de usar zen navx

La serie versaxrm de Zeiss X - Ray Microscopy utiliza un nuevo sistema de control orientado a las personas, lo que hace que la operación sea más simple y la imagen tridimensional sea más eficiente.

▲ diseño de interfaz y proceso orientado a las personas, operaciones complejas se simplifican inmediatamente,

♦ smartshield Intelligent anticolisión system, que escolta la exploración experimental,

▲ recomendación automática de parámetros, cada tipo de muestra puede obtener imágenes de alta calidad,

□ funciones de software integradas para realizar fácilmente la adquisición de datos y la reconstrucción tridimensional automatizada.

● caja de herramientas de reconstrucción avanzada basada en la IA de inteligencia artificial

Toda la gama de versaxrm está estandarizada con estaciones de trabajo de procesamiento de datos de alto rendimiento y una licencia de 2 años de herramienta de reconstrucción avanzada deeprecon pro. La adición de la inteligencia artificialMantener, para lograr una mayor mejora de la calidad y eficiencia de la imagen.

↓ casos de imagen

●Nuevo modo de adquisición rápida de datos tridimensionales Fast Model

Nuevo modo de adquisición de datos basado en la extensión de tabletas (fpx) y Zen navx.

↓La adquisición de los datos de proyección necesarios para la reconstrucción tridimensional de la muestra se completa en un minuto, lo que mejora considerablemente la eficiencia de la imagen.

□ desde el campo de visión grande hasta la Alta resolución, se realiza un posicionamiento rápido y una imagen amplificada.

●Los usuarios nuevos y antiguos pueden lograr actualizaciones y ampliaciones.

Cabe mencionar que, siguiendo el concepto de diseño consistente del microscopio de rayos X zeiss, los dos nuevos modelos de microscopio de rayos X continúan manteniendo características actualizables y ampliables, maximizando así la protección de las inversiones de los usuarios nuevos y antiguos y asegurando que su equipo no se quede atrás para adaptarse a las innovaciones continuas en la tecnología futura.

Ruta de actualización del sistema de microscopía de rayos X de Zeiss