09,11,2026 5vistas
Tiempo: 2025 / 9 / 10 - 9 / 12
Ubicación: primer pabellón y primer piso de la Sala de exposiciones Nangang en taipei, taiwán, China
Stand de enlitech: i2507
Enlitech asistirá a la exposición internacional de semiconductores semi Taiwan 2025
Enlitech10 - 12 de septiembre de 2025Asistencia enSala de exposiciones nangang, TaipeiOrganizadoExposición Internacional de semiconductores semi Taiwan 2025.
Como un objetivo de alto perfil en AsiaEvento de la industria de semiconductores， Semicon Taiwan se centraFabricación de chips, innovación de materiales, encapsulamiento avanzado, sensores fotoeléctricos y aplicacionesAtraer la participación de fabricantes globales de chips, instituciones de investigación y expertos industriales.
Enlitech muestra las últimas soluciones de detección óptica de semiconductores
Mantener "Pruebas ópticas: el estándar para chips de alta velocidadPruebas ópticas, el concepto central de definir el rendimiento real para chips de alta velocidad,Guangyan Technology (enlitech)Enfocado en el desarrollo avanzadoEquipo de prueba óptica SemiconductorAyudar a los investigadores e ingenieros a comprender con precisiónChips de alta velocidad y sensores fotoeléctricosRendimiento.
En esta feria, enlitech compartirá los siguientes dispositivos:
SPD2200: grado comercialDetector integrado de eficiencia de diodos de avalancha de un solo fotón Spad
APD-QE:Detector óptico de eficiencia cuántica de sensores ópticos avanzados
SG-A:Detector de sensores de imagen CMOS
Estas soluciones de detección son ampliamente utilizadas enChips de alta velocidad, fotónica, sensores fotoeléctricosVerificación de la eficiencia e investigación de avances.
Sinceramente le invitamos a visitar el stand de enlitech i2507
En2025 Semicon TaiwánUn equipo profesional proporcionará explicaciones técnicas en el lugar para ayudarle a comprender en profundidad.El valor de aplicación de las pruebas ópticas en el campo de los semiconductores y la fotoelectricidad.
Le invitamos sinceramente a venir.Stand i2507, comuníquese con nosotrosEl futuro de las pruebas ópticas de semiconductores¡!
