Sistema in situ electromecánico de microscopía electrónica de transmisiónEs un equipo de caracterización in situ que integra carga mecánica, pruebas eléctricas e imágenes de alta resolución de microscopía electrónica de transmisión. el núcleo es instalar sondas de escaneo, sensores de fuerza y unidades de prueba eléctrica en la barra de muestra de microscopía electrónica de transmisión, que pueden obtener datos de microestructura a escala Atómica y propiedades mecánicas y eléctricas de materiales simultáneamente. es ampliamente utilizado en la investigación de relaciones de microestructura y actividad en nanomateriales, nuevos materiales energéticos y otros campos.
Sistema in situ electromecánico de microscopía electrónica de transmisiónConsta principalmente de los siguientes componentes:
Fuerza in situ - poste de muestra eléctrico: como componente central, el poste de muestra tiene un chip micro - micro incorporado para realizar el control automático de múltiples campos y la medición de retroalimentación de la fuerza y la electricidad compuestas. Su diseño debe cumplir con las limitaciones de espacio de la cavidad de la microscopía electrónica de transmisión, al tiempo que garantiza una alta estabilidad mecánica y un buen rendimiento de blindaje electromagnético para evitar interferencias en el camino óptico de imagen.
Chip de alimentación mecánica de microelectromes: mecanizado con tecnología de sistema microelectromecánico (microelectromecánico) para lograr un control independiente del campo eléctrico y la carga mecánica. El diseño del chip debe tener en cuenta la carga mecánica de alta precisión y la transmisión de señales eléctricas.
Sistema de control mecánico y de temperatura: soporte para pruebas dinámicas de propiedades mecánicas a altas temperaturas para satisfacer las necesidades de caracterización in situ en condiciones extremas *.
Controlador eléctrico: unidad integrada de prueba de corriente y voltaje, que admite la medición automática de corriente - voltaje (i - v), la medición de corriente - tiempo (i - t) y tiene la función de almacenamiento automático de datos. El rango de salida de voltaje cubre el modo ordinario ± 10v y el modo de alta tensión ± 150v para adaptarse a diferentes necesidades experimentales.
Sistema de manipulación de nanosonda: la manipulación de alta precisión de la sonda se realiza a través de la conducción de cerámica piezoeléctrica para garantizar que la sonda se mueva sin problemas y realizar experimentos de observación in situ de alta resolución.
Paquete de accesorios y sistema de preparación de punta de aguja: proporcionar las herramientas auxiliares y el equipo de preparación de punta de aguja necesarios para el experimento para garantizar la integridad y conveniencia del proceso experimental.