Sistema in situ de alta temperatura de microscopía electrónica de barridoEs un instrumento de investigación científica que combina un microscopio electrónico de barrido (sem) con un dispositivo de calentamiento de alta temperatura, que puede probar las propiedades mecánicas in situ y observar la microestructura del material en un ambiente de alta temperatura.
Composición del sistema:
Cuerpo principal del microscopio electrónico de barrido: con detectores electrónicos de alta resolución, como electrones secundarios, detectores electrónicos de dispersión posterior, etc., puede proporcionar imágenes de alta resolución sensibles a la superficie para observar la morfología microscópica de la muestra.
Plataforma in situ de alta temperatura: es el componente central del sistema, generalmente utilizando el método de calentamiento por resistencia eléctrica, que puede lograr un control preciso dentro de un cierto rango de temperatura.
Sistema de control: incluye controlador de temperatura, controlador mecánico, etc., y el software correspondiente, que puede lograr un control preciso y un monitoreo en tiempo real de la temperatura, la carga mecánica y otras condiciones.
Anexo de análisis: se pueden integrar herramientas de análisis como el espectro de energía (eds) y la difracción de retrodispersión electrónica (ebsd) para realizar análisis elementales y análisis de características cristalográficas mientras se observa la morfología de la muestra.
Principio de funcionamiento:
El haz de electrones que escanea la superficie de la muestra a través del microscopio electrónico de barrido produce electrones secundarios, electrones de dispersión posterior y otras señales para la imagen. Al mismo tiempo, la plataforma in situ de alta temperatura calienta la muestra a la temperatura establecida, observa los cambios microestructurales de la muestra a alta temperatura en tiempo real manteniendo un ambiente de vacío, y combina accesorios como EDS y ebsd para analizar la composición química y la orientación cristalina de la muestra.
Sistema in situ de alta temperatura de microscopía electrónica de barridoCaracterísticas:
Observación en tiempo real: puede monitorear los cambios de materiales a altas temperaturas en tiempo real y comprender en profundidad su comportamiento.
Imágenes de alta resolución: proporciona imágenes de alta resolución que pueden observar cambios microestructurales a nivel nanométrico.
Análisis de elementos: el análisis de elementos se puede realizar simultáneamente para determinar la composición química del material a altas temperaturas.
Experimentos in situ: se pueden realizar pruebas simultáneas de calentamiento, enfriamiento y maquinaria para simular el comportamiento de los materiales en condiciones del mundo real.