La combinación de la microscopía electrónica de barrido (sem) y la tecnología de análisis de espectro de energía de rayos X (eds) puede detectar la estructura y la información elemental de los contaminantes en el material de la batería. Sin embargo, los niveles de concentración de contaminantes en las baterías suelen ser bajos, y cuando se utilizan EDS tradicionales para estudiar estos contaminantes, el tiempo de adquisición de imágenes puede ser más largo. En este documento de aplicación, presentamos una forma fácil de caracterizar rápidamente los contaminantes, es decir, utilizando una nueva plataforma Sem - Thermo Science ™ Axia ™ ChemiSEM， Se puede analizar la microestructura del material y encontrar defectos de manera rápida y conveniente.